一种多通道测量电路设计制造技术

一种多通道测量电路设计。本发明专利技术属于信号检测领域，涉及一项信号测量技术，具体提供一种基于波段开关的多测量通道测量信号分配控制和机内自检测电路设计方法。该测量电路充分利用一刀多掷波段开关的特点，通过2个波段开关档位切换控制，解决了对外测量电路与“机内自检”电路的高度融合，不仅实现了多测量通道的信号合理分配，而且实现了多测量通道的全面快速“自检”，提高自检效率。具体是在各组被测量点之间均设计了“闭合回路”，使得自检操作和测试操作基本一致，操作过程直观性强。可在不断开被测对象的情况下，随时选择对任意一对测量通道的状态进行“自检”。同时该电路扩展性强，还适用于通过连接器(或适配器)将测量通道分段对接或延长线的情况。

Design of a multi-channel measurement circuit

Design of a multi-channel measurement circuit. The invention belongs to the field of signal detection, and relates to a signal measuring technique, and concretely provides a design method for measuring signal distribution control and in circuit self detection circuit of multi measuring channels based on band switch. The characteristics of the measuring circuit to make full use of a multithrow switch band, the 2 band switch gear switching control, solves the integration of foreign measurement circuit and machine - circuit, not only to achieve a reasonable distribution of multi channel signal measurement, and realizes the multi measuring channel of comprehensive and rapid \self test\ to improve the efficiency of the self. The \closed loop\ is designed between the measuring points in each group, which makes the self checking operation and the test operation basically consistent, and the operation process is intuitive. The self checking of the state of any pair of measuring channels can be selected at any time under the condition of continuously opening the object to be measured\. At the same time, the circuit has strong expansibility, and is suitable for the connection or extension of the measuring channel by the connector (or adapter).

【技术实现步骤摘要】
一种多通道测量电路设计
本专利技术属于信号检测领域，涉及一项信号测量技术。
技术介绍
在对电子装备进行多点位通路测量或绝缘性能测试时，如何在测量前或测量过程中，检查或验证多组测量通道的连通状态(通路正常、断路或电路阻抗异常等)，关系到测试结果的准确性和可信性。特别是在测量结果超差的情况下，如何通过设备机内自检，确定测量结果与测试设备本身无关，显得至关重要。设备自检通常采用以下三种方式：一是以测试设备内部的测量模块作为检测仪表，在与被测对象连接的接口端连接自检模拟器，实现对多测量通道连通情况的“自检”；二是从与被测对象连接的接口端，人工逐对将多组测量通道用导线短接到一起，同时以外接测量仪表或测试设备内部的测量仪表，实现对测量通道连通情况的“自检”；三是从测量通道与测试设备内测量模块的接口端和测量通道与被测对象连接的接口端，用外接检测仪表实现对测量通道连通状态进行检查或验证，该方法通常也是采用人工查点，对测量通道依次进行检测。采用自检模拟器的方法，需要专门研制配套的自检设备，成本高使用也不方便；采用人工逐点测量的方法，操作过程繁琐，检测效率低。
技术实现思路
本专利技术的目的是：提供一种基于波段开关的多测量通道测量信号分配控制和机内自检测电路设计方法。本专利技术通过下述技术方案实现：1.一种多通道测量电路设计(见附图1)，在2个前级测量点JC1、JC2和任意两个被检测点Aj、Bj(j＝1，2，3，…，N为整数，下同)之间，串联2个一刀多档(或称一刀多掷)波段开关Ka、Kb。Ka-Mo、Ka-Mp分别和JC1、JC2相连，Kb-Mo、Kb-Mp分别和Ka-o-u、Ka-p-u相连，Kb-o-i(i＝1，2，3，…，N为整数，下同)、Kb-p-i分别和Aj、Bj相连，其特征在于：(1)Ka-o-u和Ka-o-v相连，形成档位并联关系；(2)Ka-p-u和Ka-p-v相连，形成档位并联关系；(3)Kb-q-i、Kb-r-i分别和Aj、Bj相连；(4)Kb-Mq和Ka-Mq相连，Kb-Mr和Ka-Mr相连，Ka-q-v和Ka-r-v相连(构成短路连接)。2.根据1.所述的测量电路，其特征在于：在JC1与Aj之间的电路、JC2与Bj之间的电路、Ka-Mq与Aj之间的电路、Kb-Mr与Bj之间的电路中串联有连接器(或适配器)SP(w)或SP(x)或SP(y)或SP(z)。本专利技术的效果和益处是：本专利技术达到以下效果：Kb-o-i和Aj这2个节点之间的电路构成测量通道CAij；Kb-p-i和Bj这2个节点之间的电路构成测量通道CBij；Kb-q-i和Aj这2个节点之间的电路构成自检通道ZAij；Kb-r-i和Bj这2个节点之间的电路构成自检通道ZBij。在波段开关Ka的第u档位、波段开关Kb的第i档位接通的情况下，JC1、JC2和Aj、Bj分别由过JC1、Ka-Mo、Ka-o-u、Kb-Mo、Kb-o-i、Aj点的电路和过JC2、Ka-Mp、Ka-p-u、Kb-Mp、Kb-p-i、Bj的电路连接在一起，形成测量通道JC1-Aij、JC2-Bij；在波段开关Ka的第v档位、波段开关Kb的第i档位接通的情况下，Aj、Bj由过Aj、Kb-q-i、Kb-Mq、Ka-Mq、Ka-q-v、Ka-r-v、Ka-Mr、Kb-Mr、Kb-r-i、Bj点的电路短接在一起，形成自检回路ZAij-ZBij；ZAij-ZBij、JC1-ZAij、JC2-ZBij连接在一起构成自检闭合回路H。可通过从JC1、JC2这2点测量自检闭合回路H的连通状态(通路正常、断路、电路阻抗异常等)，并诊断测量通道JC1-Aij和测量通道JC2-Bij的连通情况。本专利技术对比已有技术具有以下显著优点：(1)该电路设计，不仅实现了由波段开关Kb控制多测量通道的分配，而且实现了测量通道JC1-Aij(除Ka-Mo至Ka-o-u接触端子外)、JC2-Bij(除Ka-Mp至Ka-p-u接触端子外)测量通道的全面快速“自检”，提高自检效率。(2)电路简洁，操作方便，自检操作和测试操作基本一致，操作过程直观性强。可在不断开被测对象的情况下，随时选择对任意一对测量通道的状态进行“自检”，也可以说实现了“在线”自检。(3)该电路扩展性强，按照类似的电路原理可以实现扩展(例如与波段开关Kb同样的多个波段开关以并联的方式连接于波段开关Ka的档位端子上)。该电路还可扩展应用到通过连接器(或适配器)将测量通道分段对接或延长线的情况。附图说明图1和图2为本专利技术的原理图；图3和图4为本专利技术实施例1和实施例2。图1至图4中：K表示波段开关；Ka、Kb表示波段开关(a、b为波段开关K的标识号)；o、p、q、r分别表示波段开关K中的某4个层；u、v分别表示波段开关K的某2个档位；i表示波段开关K上的第i个档位；波段开关K上某个档位端子的表示方法为“标识号-层-档位”(例如Kb-o-i表示波段开关Kb第o层上第i个档位的档位端子)；波段开关K上某个公共端子的表示方法为“标识号-M层”(例如Ka-Mo表示波段开关Ka上第o层的公共端子)。JC1、JC2表示2个前级测量点；Aj、Bj表示任意两个被检测点；CAij、CBij表示和参数i、j相关联的测量通道；ZAij、ZBij表示和参数i、j相关联的自检通道。SP(w)、SP(x)、SP(y)、SP(z)分别表示任意一个或一组连接器(或适配器)；SP(1)、SP(2)、SP(3)分别表示3个具体的连接器(或适配器)。具体实施方式：结合附图和实施例对本专利技术作进一步说明。实施例1：本实施例提供一种附图1所示的具体实现方案。附图3中的电路是附图1中原理电路的具体应用，附图3对附图1中一些自由参数进行了具体化，说明如下：a、b分别取2、1；i分别取1、2、3三种情况；j分别取1、2、3三种情况；o、p、q、r分别取1、2、3、4；u、v分别取1、2。采购2个航星牌一刀12档4层波段开关作为K1、K2，采购2盘1.0平方的镀银护套线作为测量电路的信号线。按照说明书附图3所示的电路制作出一个对3组被检测点(A1，B1)、(A2，B2)、(A3，B3)进行测量的具体电路。以优利德UT10万用表作为测量仪表。JC1、JC2分别接测量仪表的两个检测端。K2-M1、K2-M2分别和JC1、JC2相连；K1-M1和K2-1-1相连；K2-1-1和K2-1-2相连；K1-M2和K2-2-1相连；K2-2-1和K2-2-2相连；K1-M3和K2-M3相连；K1-M4和K2-M4相连；K2-3-2和K2-4-2相连。K1-1-1、K1-3-1分别和A1相连，K1-2-1、K1-4-1分别和B1相连。K1-1-2、K1-3-2分别和A2相连，K1-2-2、K1-4-2分别和B2相连。K1-1-3、K1-3-3分别和A3相连，K1-2-3、K1-4-3分别和B3相连。这样，K1-1-1和A1这2个节点之间的电路构成测量通道CA11；K1-2-1和B1这2个节点之间的电路构成测量通道CB11；K1-3-1和A1这2个节点之间的电路构成自检通道ZA11；K1-4-1和B1这2个节点之间的电路构成自检通道ZB11。在波段开关K2的第1档位、波段开关K1的第1档位接通的情况下，JC1、JC2和A1、B1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多通道测量电路设计，在2个前级测量点JC1、JC2和任意两个被检测点Aj、Bj(j＝1，2，3，…，N为整数，下同)之间，连接2个一刀多档(或称一刀多掷)波段开关Ka、Kb。Ka‑Mo、Ka‑Mp分别和JC1、JC2相连，Kb‑Mo、Kb‑Mp分别和Ka‑o‑u、Ka‑p‑u相连，Kb‑o‑i(i＝1，2，3，…，N为整数，下同)、Kb‑p‑i分别和Aj、Bj相连，其特征在于：(1)Ka‑o‑u和Ka‑o‑v相连，形成档位并联关系；(2)Ka‑p‑u和Ka‑p‑v相连，形成档位并联关系；(3)Kb‑q‑i、Kb‑r‑i分别和Aj、Bj相连；(4)Kb‑Mq和Ka‑Mq相连，Kb‑Mr和Ka‑Mr相连，Ka‑q‑v和Ka‑r‑v相连(构成短路连接)。

【技术特征摘要】
1.一种多通道测量电路设计，在2个前级测量点JC1、JC2和任意两个被检测点Aj、Bj(j＝1，2，3，…，N为整数，下同)之间，连接2个一刀多档(或称一刀多掷)波段开关Ka、Kb。Ka-Mo、Ka-Mp分别和JC1、JC2相连，Kb-Mo、Kb-Mp分别和Ka-o-u、Ka-p-u相连，Kb-o-i(i＝1，2，3，…，N为整数，下同)、Kb-p-i分别和Aj、Bj相连，其特征在于：(1)Ka-o-u和Ka-o-v相连，形成档位并联关...

【专利技术属性】
技术研发人员：王勇，粘朋雷，冯运辉，陈春歌，宋玉珍，
申请(专利权)人：中国人民解放军九一五五零部队，
类型：发明
国别省市：辽宁,21