抗摔损测试机构及具有该测试机构的测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种抗摔损测试机构，用于测试一电子产品的抗摔损性能，包括底板，所述测试机构还包括设置在所述底板上的第一旋转组件及控制组件、固定在所述第一旋转组件一侧的第二旋转组件及活动设置在所述第一旋转组件上方的测试板，所述测试板上包括跌落板，所述控制组件用于控制所述第一旋转组件旋转从而带动所述第二旋转组件由所述测试板的一边旋转至该测试板的另一边，所述控制组件还用于控制所述第二旋转组件旋转先将所述测试板抬升，再控制所述第二旋转组件远离该测试板从而使得该测试板下降。

Anti fall test mechanism and testing device with the testing mechanism

The invention provides an anti damage testing mechanism, used to test the anti damage performance, an electronic product comprises a bottom plate, wherein the testing mechanism also comprises a first rotating component and a control component, arranged on the bottom plate is fixed on the second rotating component and the movable side of the first rotary component arranged on the test board above the first rotary component, the test board comprises a dropping plate, wherein the control module is used for controlling the rotating assembly to rotate so as to drive the first and the second rotating components from the other side of the test board is rotated to the test board, the control module is used for controlling the rotation of second components the rotation of the test plate uplift, then control the second rotating components away from the test plate so that the drop test board.

【技术实现步骤摘要】
抗摔损测试机构及具有该测试机构的测试装置
本专利技术涉及电子产品测试领域，特别涉及一种电子产品抗摔损测试机构及具有该抗摔损测试机构的测试装置。
技术介绍
随着电子市场的发展，越来越多的电子产品（例如智能手机，平板电脑等）走进了人们的生活，但在使用中经常会出现不小心掉落的问题，因此在生产时必须保证电子产品具有一定的抗摔损性能。现有的电子产品抗摔损测试装置一般都只能在单一方向上进行摔落。然而在实际使用中，电子产品可能从不同角度或者方向掉落。因此，在测试电子产品的抗摔损性能时需要测试电子产品从不同角度或者方向摔落后的情况。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提出一种抗摔损测试机构，能够测试电子产品的抗摔损性能，尤其是测试电子产品各个边角的抗摔损性能。还有必要提出一种具有该抗摔损测试机构的测试装置。一种抗摔损测试机构，用于测试一电子产品的抗摔损性能，包括底板，所述测试机构还包括设置在所述底板上的第一旋转组件及控制组件、固定在所述第一旋转组件一侧的第二旋转组件及活动设置在所述第一旋转组件上方的测试板，所述测试板上包括跌落板，所述控制组件用于控制所述第一旋转组件旋转从而带动所述第二旋转组件由所述测试板的一边旋转至该测试板的另一边，所述控制组件还用于控制所述第二旋转组件旋转先将所述测试板抬升，再控制所述第二旋转组件远离该测试板从而使得该测试板下降。在本专利技术的一优选实施例中，所述第一旋转组件包括支撑柱及设置在所述支撑柱上方的隔板，所述测试板设置在所述隔板上，所述抗摔损测试机构还包括第一电机，所述第一电机在所述控制组件的控制下驱动所述支撑柱旋转，从而带动所述第二旋转组件由所述测试板的一边旋转至该测试板的另一边。在本专利技术的一优选实施例中，所述第二旋转组件包括线性滑轨、滑块、固定在所述滑块上的支撑部及活动设置在所述支撑部上的档杆，所述线性滑轨固定在所述支撑柱的一侧。在本专利技术的一优选实施例中，所述滑块朝向所述线性滑轨的一侧设置有一凹槽，所述凹槽与所述线性滑轨的凸块相对应，所述凸块可套设于所述凹槽内，以使得所述滑块可滑动地装设于所述线性滑轨上。在本专利技术的一优选实施例中，所述抗摔损测试机构还包括第二电机，所述第二电机在所述控制组件的控制下驱动所述滑块在所述线性滑轨上滑动，从而使得所述档杆远离或者靠近所述测试板。在本专利技术的一优选实施例中，所述支撑部包括一凸起，所述凸起中设置有一安装孔，所述安装孔中穿设有一横杆，所述横杆的端部与所述档杆固定连接。在本专利技术的一优选实施例中，所述抗摔损测试机构还上包括第三电机，所述第三电机在所述控制组件的控制下驱动所述档杆绕所述横杆旋转从而将所述测试板抬起。在本专利技术的一优选实施例中，所述测试板的每一边均设置有至少一个缺口。在本专利技术的一优选实施例中，所述测试板的每边边缘位置处设有至少一个立柱。一种测试装置，包括天线测试机构及如上述实施例中任意一项所述的抗摔损测试机构。相对于现有技术，本专利技术所述的抗摔损测试机构及具有该测试机构的测试装置，能够测试电子产品的抗摔损性能，尤其是测试电子产品各个边角的抗摔损性能。附图说明图1是本专利技术较佳实施方式中抗摔损测试机构的组装示意图。图2是图1所示抗摔损测试机构的分解示意图。图3是图1所示抗摔损测试机构另一角度下的示意图。主要元件符号说明抗摔损测试机构1底板10第一旋转组件11支撑柱110搁板111控制组件12第一控制模块120第二控制模块121第三控制模块122测试板13缺口130立柱131第二旋转组件14线性滑轨140凸块1400滑块141凹槽1411支撑部142凸起1420安装孔1421档杆143横杆1430跌落板15如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“前”、“后”、“上”、“下”以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及／或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参阅图1，为本专利技术较佳实施方式抗摔损测试机构的组装示意图。在一些实施例中，所述抗摔损测试机构1包括，但不仅限于，底板10、设置在所述底板10上的第一旋转组件11及一控制组件12，活动设置在所述第一旋转组件11上方的测试板13，固定在所述第一旋转组件11一侧的第二旋转组件14，以及固定设置于所述测试板13上的跌落板15。请一并参阅图2，所述第一旋转组件11包括一设置在所述底板10上的支撑柱110及一活动设置在所述支撑柱110上方的一隔板111。所述支撑柱110为一圆柱体，所述隔板111也可以为一圆柱体。所述隔板111设置在所述支撑柱110上，当所述支撑柱110绕Y轴旋转时，能够保证所述隔板111不旋转。本实施例中，所述Y轴的方向为垂直于所述底板10的方向。所述测试板13的每一边均设置有至少一个缺口130。在本实施例中，所述测试板13大致呈矩形，其每一边均设置有两个缺口130。所述跌落板15的形状与所述测试板13的形状相应，但所述跌落板15面积比所述测试板13的面积略小。所述跌落板用于承载待测电子产品。在一些实施例中，所述测试板13的边缘位置处还设有立柱131。优选地，所述测试板13的每边边缘位置处设有至少一个立柱131。在本实施例中，所述测试板13的每边边缘位置处设有两个立柱131。所述立柱131刚好围绕在所述跌落板15的周围，用以防止设置于所述跌落板15上的电子产品不会从所述测试板13的边缘滑落。可以理解，所述立柱131的形状及大小可依据待测试的电子产品的大小做适应性调整。所述第二旋转组件14包括线性滑轨140、滑块141、支撑部142及档杆143。所述线性滑轨140固定在所述支撑柱110一侧，且与所述隔板111相隔一段距离。在一些实施例中，所述线性滑轨140上凸设有一长条状的凸块1400。所述滑块141朝向所述线性滑轨140的一侧设置有一凹槽1411。所述凹槽1411与所述线性滑轨140的凸块1400相对应。所述凸块1400可套设于所述凹槽1411内，以使得所述滑块141可滑动地装设于所述线性滑轨140上，并沿所述线性滑轨140来回滑动。所述支撑部142固定设置于所述滑块141远离线性滑轨140的一表面，用以当所述滑块141沿所述第二轴来回滑动时，带动所述档杆143一起运动，进而远离或者靠近所述第一旋转组件11。在本实施例中，所述支撑部142包括一凸起1420，所述凸起14本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种抗摔损测试机构，用于测试一电子产品的抗摔损性能，包括底板，其特征在于，所述测试机构还包括设置在所述底板上的第一旋转组件及控制组件、固定在所述第一旋转组件一侧的第二旋转组件及活动设置在所述第一旋转组件上方的测试板，所述测试板上包括跌落板，所述控制组件用于控制所述第一旋转组件旋转从而带动所述第二旋转组件由所述测试板的一边旋转至该测试板的另一边，所述控制组件还用于控制所述第二旋转组件旋转先将所述测试板抬升，再控制所述第二旋转组件远离该测试板从而使得该测试板下降。

【技术特征摘要】
1.一种抗摔损测试机构，用于测试一电子产品的抗摔损性能，包括底板，其特征在于，所述测试机构还包括设置在所述底板上的第一旋转组件及控制组件、固定在所述第一旋转组件一侧的第二旋转组件及活动设置在所述第一旋转组件上方的测试板，所述测试板上包括跌落板，所述控制组件用于控制所述第一旋转组件旋转从而带动所述第二旋转组件由所述测试板的一边旋转至该测试板的另一边，所述控制组件还用于控制所述第二旋转组件旋转先将所述测试板抬升，再控制所述第二旋转组件远离该测试板从而使得该测试板下降。2.如权利要求1所述的抗摔损测试机构，其特征在于，所述第一旋转组件包括支撑柱及设置在所述支撑柱上方的隔板，所述测试板设置在所述隔板上，所述抗摔损测试机构还包括第一电机，所述第一电机在所述控制组件的控制下驱动所述支撑柱旋转，从而带动所述第二旋转组件由所述测试板的一边旋转至该测试板的另一边。3.如权利要求2所述的抗摔损测试机构，其特征在于，所述第二旋转组件包括线性滑轨、滑块、固定在所述滑块上的支撑部及活动设置在所述支撑部上的档杆，所述线性滑轨固定在所述支撑柱的一侧。4.如权利要求3所述的抗摔损...

【专利技术属性】
技术研发人员：周以庆，杨康险，龙祥武，王明，曾科瑞，黄文宪，
申请(专利权)人：富泰华工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44