一种触头参数检测电路制造技术

本发明专利技术公开了一种触头参数检测电路，包括线位移传感器电路、信号脉冲电路、检测采样电路、线圈吸合继电器驱动电路、时钟震荡电路和电机驱动电路，线位移传感器电路内含有线位移传感器输入端口、集成芯片，信号脉冲电路内含有处理芯片，检测采样电路内含有发光二极管D1。本发明专利技术的触头参数检测电路，通过线位移传感器电路控制传感器反方向移动，同时检测每个触头状态是否发生变化，从而有效的解决了目前触头在发生变化情况下，无法采集到的准确数据而导致产品的质量问题，大大提高了产品的质量，提高了生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种触头参数检测电路
本专利技术涉及检测电路
，具体为一种触头参数检测电路。
技术介绍
目前针对触头状态参数的检测电路由于设计的不合理，结构的不完善，致使触头在发生变化情况下,无法采集到的准确数据,直到各个因此上位机在计算与数据比较后,容易发生判断错误，从而误报产品的参数，导致将好的产品当作坏的处理，坏的产品当作好的处理，不仅对企业的生产造成影响，还严重降低了产品的质量。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种触头参数检测电路，电路设计合理、结构完善以及采集数据准确无误的优点，解决了现有触头状态参数的检测电路由于设计的不合理、结构的不完善，致使触头在发生变化情况下，无法采集到的准确数据而导致产品的质量问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种触头参数检测电路，包括线位移传感器电路、信号脉冲电路、检测采样电路、线圈吸合继电器驱动电路、时钟震荡电路和电机驱动电路，所述线位移传感器电路内含有线位移传感器输入端口、集成芯片、第一异或门芯片、第二异或门芯片、第一与门芯片和第二与门芯片，所述线位移传感器输入端口的三、四号接线端子分别与集成芯片的引脚2、3连接，所述集成芯片的引脚10、12相连形成回路，集成芯片的引脚11、13分别并联接在回路上，所述第一异或门芯片的输入端口4和5分别与集成芯片的引脚11和12所连接的电路相连，所述第二异或门芯片的输入端口1、2分别与集成芯片的引脚10、13所连接的电路相连，所述第一与门芯片的输入端口2与第一异或门芯片的输出端口连接，第一与门芯片的输入端口1与第二与门芯片的输入端口5连接，所述第二与门芯片的输入端口4与第二异或门芯片的输出端口连接。优选的，所述信号脉冲电路包括处理芯片，所述处理芯片的引脚16、引脚17分别与第二与门芯片和第一与门芯片的输出端口连接，处理芯片的引脚14和15相连形成回路。优选的，所述检测采样电路由光电耦合器T组成，光电耦合器T由发光二极管和三极管组成，光电耦合器T共设置10组。优选的，所述线圈吸合继电器驱动电路包括发光二极管D2、三极管Q1和电解电容C1，发光二极管D2的输入端与电源VCC电连接，发光二极管D2的输出端与三极管Q1的集电极连接，所述电解电容C1的正极与三极管Q1的基级连接，电解电容C1的负极与三极管Q1的发射极连接。优选的，所述时钟震荡电路包括晶振Y1、电容C2和电容C3，晶振Y1与处理芯片的引脚20、21连接，电容C2与电容C3并联在晶振Y1的一侧。优选的，所述电机驱动电路包括直流电源DC、三极管Q2和电解电容C4，直流电源DC与三极管Q2的集电极电连接，电解电容C4的正极与三极管Q2的基级连接，电解电容C4的负极与三极管Q2的发射极连接。优选的，所述第一与门芯片与第二与门芯片之间还设置有第三异或门芯片，第三异或门芯片的输出端口连接在第一与门芯片与第二与门芯片所连接的电路上，第三异或门芯片的输入接口9和10分别连接在第一异或门芯片与第一与门芯片、第二异或门芯片与第二与门芯片所连接的电路上。优选的，所述第一与门芯片和第二与门芯片均为一种74LS08型号的芯片。与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：本专利技术的触头参数检测电路，通过线位移传感器电路控制传感器反方向移动，同时检测每个触头状态是否发生变化，在触头发生变化情况下,通过检测采样电路将采集到的传感器移动数据进行保存，直到各个触头的状态全部变换完成，此时将数据送到上位机计算，对数据进行比较、判断、显示，如果显示参数不合格、通过显示面板设置自动报警，产品不合格；基于上述原理，从而有效的解决了目前触头在发生变化情况下，无法采集到的准确数据而导致产品的质量问题，大大提高了产品的质量，提高了生产效率。附图说明图1为本专利技术线位移传感器电路、信号脉冲电路与检测采样电路图；图2为本专利技术线圈吸合继电器驱动电路图；图3为本专利技术时钟震荡电路图；图4为本专利技术电机驱动电路图；图5为本专利技术线位移传感器输入端口示意图；图6为本专利技术集成芯片示意图；图7为本专利技术与门芯片和异或门芯片示意图。图中：1线位移传感器电路、2线位移传感器输入端口、3集成芯片、4第一异或门芯片、5第二异或门芯片、6第一与门芯片、7第二与门芯片、8第三异或门芯片、9信号脉冲电路、10处理芯片、11检测采样电路、12线圈吸合继电器驱动电路、13时钟震荡电路、14电机驱动电路。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-7，一种触头参数检测电路，包括线位移传感器电路1、信号脉冲电路9、检测采样电路11、线圈吸合继电器驱动电路12、时钟震荡电路13和电机驱动电路14，所述线位移传感器电路1内含有线位移传感器输入端口2、集成芯片3、第一异或门芯片4、第二异或门芯片5、第一与门芯片6和第二与门芯片7，且第一与门芯片6和第二与门芯片7均为一种74LS08型号的芯片，所述线位移传感器输入端口2的三、四号接线端子分别与集成芯片3的引脚2、3连接，所述集成芯片3的引脚10、12相连形成回路，集成芯片3的引脚11、13分别并联接在回路上，所述第一异或门芯片4的输入端口4和5分别与集成芯片3的引脚11和12所连接的电路相连，所述第二异或门芯片5的输入端口1、2分别与集成芯片3的引脚10、13所连接的电路相连，所述第一与门芯片6的输入端口2与第一异或门芯片4的输出端口连接，第一与门芯片6的输入端口1与第二与门芯片7的输入端口5连接，所述第二与门芯片7的输入端口4与第二异或门芯片5的输出端口连接。信号脉冲电路9包括处理芯片10，所述处理芯片10的引脚16、引脚17分别与第二与门芯片7和第一与门芯片6的输出端口连接，处理芯片10的引脚14和15相连形成回路。检测采样电路11由光电耦合器T组成，光电耦合器T由发光二极管和三极管组成，光电耦合器T共设置10组，采用10组所形成的电路可以准确的检测出触头发生的变化。线圈吸合继电器驱动电路12包括发光二极管D2、三极管Q1和电解电容C1，发光二极管D2的输入端与电源VCC电连接，发光二极管D2的输出端与三极管Q1的集电极连接，所述电解电容C1的正极与三极管Q1的基级连接，电解电容C1的负极与三极管Q1的发射极连接。时钟震荡电路13包括晶振Y1、电容C2和电容C3，晶振Y1与处理芯片10的引脚20、21连接，电容C2与电容C3并联在晶振Y1的一侧。电机驱动电路14包括直流电源DC、三极管Q2和电解电容C4，直流电源DC与三极管Q2的集电极电连接，电解电容C4的正极与三极管Q2的基级连接，电解电容C4的负极与三极管Q2的发射极连接。第一与门芯片6与第二与门芯片7之间还设置有第三异或门芯片8，第三异或门芯片8的输出端口连接在第一与门芯片6与第二与门芯片7所连接的电路上，第三异或门芯片8的输入接口9和10分别连接在第一异或门芯片4与第一与门芯片6、第二异或门芯片5与第二与门芯片7所连接的电路上。本专利技术的触头参数检测电路，通过线位移传感器电路1控制传感器反方向移动，同时检测每个触头状态是否发本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触头参数检测电路，包括线位移传感器电路(1)、信号脉冲电路(9)、检测采样电路(11)、线圈吸合继电器驱动电路(12)、时钟震荡电路(13)和电机驱动电路(14)，其特征在于：所述线位移传感器电路(1)内含有线位移传感器输入端口(2)、集成芯片(3)、第一异或门芯片(4)、第二异或门芯片(5)、第一与门芯片(6)和第二与门芯片(7)，所述线位移传感器输入端口(2)的三、四号接线端子分别与集成芯片(3)的引脚2、3连接，所述集成芯片(3)的引脚10、12相连形成回路，集成芯片(3)的引脚11、13分别并联接在回路上，所述第一异或门芯片(4)的输入端口4和5分别与集成芯片(3)的引脚11和12所连接的电路相连，所述第二异或门芯片(5)的输入端口1、2分别与集成芯片(3)的引脚10、13所连接的电路相连，所述第一与门芯片(6)的输入端口2与第一异或门芯片(4)的输出端口连接，第一与门芯片(6)的输入端口1与第二与门芯片(7)的输入端口5连接，所述第二与门芯片(7)的输入端口4与第二异或门芯片(5)的输出端口连接。

【技术特征摘要】
1.一种触头参数检测电路，包括线位移传感器电路(1)、信号脉冲电路(9)、检测采样电路(11)、线圈吸合继电器驱动电路(12)、时钟震荡电路(13)和电机驱动电路(14)，其特征在于：所述线位移传感器电路(1)内含有线位移传感器输入端口(2)、集成芯片(3)、第一异或门芯片(4)、第二异或门芯片(5)、第一与门芯片(6)和第二与门芯片(7)，所述线位移传感器输入端口(2)的三、四号接线端子分别与集成芯片(3)的引脚2、3连接，所述集成芯片(3)的引脚10、12相连形成回路，集成芯片(3)的引脚11、13分别并联接在回路上，所述第一异或门芯片(4)的输入端口4和5分别与集成芯片(3)的引脚11和12所连接的电路相连，所述第二异或门芯片(5)的输入端口1、2分别与集成芯片(3)的引脚10、13所连接的电路相连，所述第一与门芯片(6)的输入端口2与第一异或门芯片(4)的输出端口连接，第一与门芯片(6)的输入端口1与第二与门芯片(7)的输入端口5连接，所述第二与门芯片(7)的输入端口4与第二异或门芯片(5)的输出端口连接。2.根据权利要求1所述的一种触头参数检测电路，其特征在于：所述信号脉冲电路(9)包括处理芯片(10)，所述处理芯片(10)的引脚16、引脚17分别与第二与门芯片(7)和第一与门芯片(6)的输出端口连接，处理芯片(10)的引脚14和15相连形成回路。3.根据权利要求1所述的一种触头参数检测电路，其特征在于：所述检测采样电路(11)由光电耦合器T组成，光电耦合器T由发光二极管和三极管...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜勇，
申请(专利权)人：乐清市三江自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33