通过动态光散射装置确定样品的折射率和所述样品中颗粒的粒度制造方法及图纸

一种动态光散射装置(10)，包括：源(1)，其用于用一次电磁辐射(2)照射样品(5)；检测器(7)，其用于检测通过使一次电磁辐射(2)在样品(5)处散射所产生的二次电磁辐射(6)；折射率确定单元(20)，其包括可移动光学元件(4)，并且被配置为基于针对可移动光学元件的多个不同位置对二次电磁辐射的测量来确定指示样品(5)的折射率的信息；以及粒度确定单元(22)，其被配置为通过分析所检测的二次电磁辐射(6)并考虑由折射率确定单元确定的折射率来确定指示样品(5)中的颗粒的粒度的信息。

The refractive index of the sample and the particle size of the sample are determined by dynamic light scattering device

A dynamic light scattering device (10), including: (1), for an electromagnetic radiation (2) radiation samples (5); the detector (7), which is used for detection by an electromagnetic radiation (2) in the sample (5) at two times the electromagnetic radiation generated by scattering (6); refractive index determination unit (20), comprising a movable optical element (4), and is configured for a number of different positions for the movable optical elements of two electromagnetic radiation measurement to determine the indicator based on the sample (5) refractive index and particle size information; determining unit (22), which is configured for two times through the analysis of the detected electromagnetic radiation (6) and considered by the refractive index of refraction determining unit determines the rate to determine the sample size indicator (5) particles in information.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】通过动态光散射装置确定样品的折射率和所述样品中颗粒的粒度本专利技术涉及散射装置。此外，本专利技术涉及通过散射来确定指示样品中的颗粒的粒度的信息的方法。参考US5126581、US5696580、US7999936、US7105849和DE102008007743。为了分析流体样品，可以将流体样品装入样品容器中。然后可以使电磁辐射射束与流体样品相互作用，其中，散射的电磁辐射射束可以因此携带指示流体样品的物理和/或化学性质的信息。这样的布置可以用于通过动态光散射(DLS)来确定粒度。通过DLS，可以确定分散质中的粒度。DLS方法的优点是仅具有关于样品性质的非常有限的知识就足够了。然而，需要样品(特别是其溶剂)的折射率的值及其粘度作为输入参数。因此，用户必须在DLS装置中手动地输入使用的研究中样品(特别是其溶剂)的折射率是多少。例如，用户可以使用具有常用溶剂的随测量温度变化的折射率值的数据库。用户必须选择溶剂，或者必须手动地输入对应的折射率数值。这同样适用于粘度。然而，当所有其他参数(即，还有粒度)均已知时，可以通过DLS确定粘度。市售的来自MalvernInstrumentsLtd(英国马本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种散射装置(10)，特别是动态光散射装置(10)，包括：电磁辐射源(1)，所述电磁辐射源被配置用于用一次电磁辐射(2)照射样品(5)；电磁辐射检测器(7)，所述电磁辐射检测器被配置用于检测通过使所述一次电磁辐射(2)在所述样品(5)处散射所产生的二次电磁辐射(6)；折射率确定单元(20)，所述折射率确定单元被配置用于确定指示所述样品(5)的折射率的信息；粒度确定单元(22)，所述粒度确定单元被配置用于通过分析所检测的二次电磁辐射(6)来确定指示所述样品(5)中的颗粒的粒度的信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.21 EP 14194341.51.一种散射装置(10)，特别是动态光散射装置(10)，包括：电磁辐射源(1)，所述电磁辐射源被配置用于用一次电磁辐射(2)照射样品(5)；电磁辐射检测器(7)，所述电磁辐射检测器被配置用于检测通过使所述一次电磁辐射(2)在所述样品(5)处散射所产生的二次电磁辐射(6)；折射率确定单元(20)，所述折射率确定单元被配置用于确定指示所述样品(5)的折射率的信息；粒度确定单元(22)，所述粒度确定单元被配置用于通过分析所检测的二次电磁辐射(6)来确定指示所述样品(5)中的颗粒的粒度的信息。2.根据权利要求1所述的装置(10)，其中，所述折射率确定单元(20)被配置用于基于对所检测的二次电磁辐射(6)的分析来确定所述信息。3.根据权利要求1或2所述的装置(10)，其中，所述折射率确定单元(20)包括可移动光学元件(4)，所述可移动光学元件在所述一次电磁辐射(2)和所述二次电磁辐射(6)中的至少一个传播所沿的光学路径中；并且所述折射率确定单元被配置用于通过分析在所述可移动光学元件(4)于所述光学路径中的不同位置处所检测的二次电磁辐射(6)的强度变化来确定指示所述样品(5)的折射率的信息。4.根据权利要求1至3中任一项所述的装置(10)，其中，所述折射率确定单元(20)被配置用于基于所检测的二次电磁辐射(6)的强度与光学元件(4)相对于一光学路径的可变位置之间的相关性来确定所述信息，所述光学路径为所述一次电磁辐射(2)和所述二次电磁辐射(6)中的至少一个传播所沿的光学路径，所述相关性取决于所述样品(5)的折射率的值。5.根据权利要求3或4所述的装置(10)，其中，所述折射率确定单元(20)被配置用于基于对以下的比较来确定指示所述样品(5)的折射率的所述信息：在所述强度变化期间获得的强度曲线的特征，特别是最大强度值；以及参考材料的预定数据，特别是指示所述参考材料的折射率值与参考强度曲线的被检测特征特别是最大强度值之间的相关性的预定数据。6.根据权利要求3至5中任一项所述的装置(10)，其中，所述光学元件(4)选自由透镜、反射镜、板和楔形件组成的组。7.根据权利要求3至6中任一项所述的装置(10)，其中，所述光学元件(4)位于：所述电磁辐射源(1)和所述样品(5)之间；或所述样品(5)和所述电磁辐射检测器(7)之间。8.根据权利要求3至7中任一项所述的装置(10)，其中，所述光学元件(4)被安装成能够通过由以下组成的组中至少一种移动：使所述光学元件(4)沿着或平行于所述光学路径移位；使所述光学元件(4)垂直于所述光学路径移位；以及使所述光学元件(4)相对于所述光学路径倾斜。9.根据权利要求3至8中任一项所述的装置(10)，包括调节单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯蒂安·莫伊齐，
申请(专利权)人：安东帕有限责任公司，
类型：发明
国别省市：奥地利,AT