The invention uses the vector of polarization of radial variation can produce two focal points, the characteristics and the two point gap between the distance can be controlled by the optical parameters, a set of double spacing can be regulated like double imaging system. The experimental system of the invention includes a vector light source, a lens and an image detector. The spatial light modulator can be modulated with the image information of the incident light, and with the subsequent optical system of optical modulation of the incident beam polarization vector, get the radial change: the beam through the lens, then the spatial modulation image capture device receives the operation, and detection of spatially modulated light intensity through different parts of the lens the value of the image forming in the light modulation. Dual focus imaging is a major breakthrough in optical imaging. This paper obtains the result from the propagation characteristics of vector light field, and gets the optical parameters that affect the focus distance of the dual focus imaging. The application prospect is considerable.
【技术实现步骤摘要】
一种基于矢量光场的径向偏振特性的双成像方法及系统
本专利技术涉及矢量光场的成像领域,尤其涉及一种基于矢量光场的径向偏振特性的双成像方法及系统。
技术介绍
在过去的几年中,矢量光场特有的聚焦特性与新型的偏振结构广泛的引起了人们兴趣。在一般情况下,通过设置空间光调制器的相位或强度(或两者同时改变)的入射光束就只有一个焦点,但是双焦点成像的研究和应用却寥寥无几。双焦点成像研究相对较晚,但是其应用前景却很可观,通过研究影响其的光学参数,可以有更大突破。本专利技术利用偏振态径向变化的矢量光束,调制出双焦点成像,给出了影响双焦点成像的相关参数,结果清晰,易于制作。
技术实现思路
本专利技术的目的是在于针对现有技术的不足,提供一种基于矢量光场的径向偏振特性的双成像方法及系统。本专利技术通过以下技术方案来实现:一种基于矢量光场的径向偏振特性的双成像系统,该系统通过将带有图像信息的入射光用空间光调制器调制成偏振态径向变化的矢量光场,实现双成像。所述偏振态径向变化的矢量光场在z=0平面上的表达式为:Ex=exp(i2πnrl),Ey=exp(-i2πnrl);其中,EX为偏振态径向变化的矢量光场的x方向上的电场强度分量,Ey为偏振态径向变化的矢量光场的y方向上的电场强度分量,n为矢量光束偏振态沿径向变化的快慢的表示参数,r为矢量光束的光场半径,i为复数分量,l为拓扑荷。一种基于矢量光场的径向偏振特性的双成像系统,包括偏振态径向变化的矢量光场发生器和透镜,偏振态径向变化的矢量光场发生器产生偏振态径向变化的矢量光场,将表示入射图像的入射光调制到矢量光场发生器中,经该发生器处理后获得带 ...
【技术保护点】
一种基于矢量光场的径向偏振特性的双成像系统,其特征在于,该系统通过将带有图像信息的入射光用空间光调制器调制成偏振态径向变化的矢量光场,实现双成像。所述偏振态径向变化的矢量光场在z=0平面上的表达式为:Ex=exp(i2πnr
【技术特征摘要】
1.一种基于矢量光场的径向偏振特性的双成像系统,其特征在于,该系统通过将带有图像信息的入射光用空间光调制器调制成偏振态径向变化的矢量光场,实现双成像。所述偏振态径向变化的矢量光场在z=0平面上的表达式为:Ex=exp(i2πnrl),Ey=exp(-i2πnrl);其中,EX为偏振态径向变化的矢量光场的x方向上的电场强度分量,Ey为偏振态径向变化的矢量光场的y方向上的电场强度分量,n为矢量光束偏振态沿径向变化的快慢的表示参数,r为矢量光束的光场半径,i为复数分量,l为拓扑荷。2.一种基于矢量光场的径向偏振特性的双成像系统,其特征在于,包括偏振态径向变化的矢量光场发生器和透镜...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈瑞品,张晓雨,高腾跃,
申请(专利权)人:浙江理工大学,
类型:发明
国别省市:浙江,33
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