一种S参数圆形插值方法技术
A S parameter circular interpolation method
The invention provides a circular interpolation method of S parameter, using the measured S parameters in the Smith chart showing continuous and circular features, will be measured S parameters into the Smith chart of UV coordinate system; to solve the circular parameters by using UV coordinate data; and then use the phase data the interpolation point corresponding to the frequency, as the basis of the circular interpolation; interpolation points near the 2 point data, as defined for range; and interpolation in Smith graph. The invention uses the S parameter to interpolate the characteristics of the Smith circle graph, and can obtain more accurate interpolation results.
【技术实现步骤摘要】
一种S参数圆形插值方法
本专利技术涉及测试
，特别涉及一种S参数圆形插值方法。
技术介绍
在进行网络参数测试、仿真时，通常使用S参数进行计算。若使用的数据频率与测量到的数据频率不一致，则需要进行插值运算。虽然现有的插值方法种类很多，如线性插值、样条插值、拉格朗日插值等，但是这些都是对直角坐标系下的数据进行插值。如何更准确的得到插值数据，还需要根据被测件的S参数性质进行处理。S参数有多种格式：实部+虚部、线性幅度+相位、对数幅度+相位、Smith圆图。在需要进行插值的情况下，最简单的是将S参数的实部、虚部数据进行分别插值。但是被测件的S参数在实部、虚部格式下没有呈现特定关系，无法表现被测件的特性。更精确的方法是将S参数转化到线性幅度、线性相位格式下，然后再分别对线性幅度、相位进行插值。这种情况下，可以将被测件的相位线性关系表现出来。但是由于被测件S参数在线性幅度下没有特定的线性关系，所以通过此种方式会与实际值有偏差。由于对S参数的实部+虚部、线性幅度+相位插值方法，不能完整的表现被测件的特性，所以插值结果会有偏差。真实的被测件可以分解成电感、电容、电阻模型的组...
【技术保护点】
一种S参数的圆形插值方法，其特征在于，利用被测件S参数在Smith圆图上连续且呈现圆形的特点，将被测件S参数转化到Smith圆图的UV坐标系下；利用UV坐标下的数据进行圆形参数的求解；然后利用插值点频率对应的相位数据，作为圆形插值的依据；将插值点临近2点的数据，作为求解范围的限定；进而在Smith圆图上进行插值求解。
【技术特征摘要】
1.一种S参数的圆形插值方法，其特征在于，利用被测件S参数在Smith圆图上连续且呈现圆形的特点，将被测件S参数转化到Smith圆图的UV坐标系下；利用UV坐标下的数据进行圆形参数的求解；然后利用插值点频率对应的相位数据，作为圆形插值的依据；将插值点临近2点的数据，作为求解范围的限定；进而在Smith圆图上进行插值求解。2.如权利要求1所述的一种S参数的圆形插值方法，其特征在于，具体包括以下步骤：第一步：将所有测量值的实部虚部，通过公式(1)计算得到相位其中，为S参数相位值；r为S参数实部数据；x为S参数虚部数据；第二步：所有插值点循环，若所有插值点都运算完成，则转到第八步；否则，转到第三步；第三步：利用当前插值点i的频率进行插值，得到插值点的相位第四步：将插值点临近的3个测量值的实部虚部值，转化为Smith圆图UV坐标下的值；第五步：利用下述公式(6)，得到圆形的a、b、c参数；对于直角坐标系而言，圆形的公式为：(u-a)2+(v-b)2＝c(6)由...
【专利技术属性】
技术研发人员：庄志远，梁胜利，袁国平，杨明飞，蔡洪坤，安洋，庄学利，王振凤，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：山东,37
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。