一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的方法及系统，该系统包括：CPLD、以及分别与CPLD连接的PCIe设备和PCIe switch芯片，CPLD将PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在寄存器内交替更换，对PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟，PCIe switch芯片从寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对PCIe设备进行相应的处理。本发明专利技术通过CPLD模拟PCIe设备暴力热插拔的场景，实现了人力的解放，从而节约了人力成本。

Method and system for testing PCIe switch chip violent hot plug function

The invention discloses a method and a system for testing PCIe switch chip violence hot swap function, the system includes: CPLD, PCIe and switch equipment and PCIe chip are respectively connected to the CPLD, the CPLD PCIe devices are hot violence when pulling out equipment in the information of the corresponding register value, and PCIe equipment when inserting the equipment in the violent thermal information of the corresponding register value, according to the preset period alternated in the register of the PCIe device, hot swappable violent scene simulation, PCIe switch chip from the register read device in information, and according to the read information corresponding to the movement of equipment in equipment, corresponding to PCIe equipment. The invention realizes the liberation of manpower by simulating the scene of hot and hot plugging of PCIe equipment by CPLD, thereby saving labor cost.

【技术实现步骤摘要】
一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的方法及系统
本专利技术涉及暴力热插拔安全
，更具体的说，涉及一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的方法及系统。
技术介绍
PCIe(PeripheralComponentInterconnectexpress，一种高速串行计算机扩展总线标准)设备是一种支持暴力热插拔功能的设备，比如现有技术中的PCIe固态硬盘(SolidStateDrives，SSD)，其暴力热插拔功能主要通过PCIeswitch芯片实现。PCIeswitch芯片根据检测到的PCIe设备暴力热插拔时的信号变化，对PCIe设备的暴力热插拔动作进行判定并进行相应的处理，以避免连接PCIe设备的系统出现宕机等问题。为保证PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的可靠性，通常需要对PCIeswitch芯片暴力热插拔功能进行测试。传统测试方案中，一般将待测试PCIeswitch芯片与NVMe(Non-VolatileMemoryexpress，一种接口协议)SSD连接，然后通过人工手动插拔NVMeSSD来检测PCIeswitch芯片的暴力热插拔功能是否正常，实现对PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的测试。然而，由于人工每次手动插拔NVMeSSD的过程都相对繁琐和费力，因此，手动插拔到一定次数后，手臂都会有酸痛的感觉，所以如何提供一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的方法及系统，以解放人力是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术公开一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的方法及系统，以实现人力解放，节约人力成本。一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的系统，所述系统包括：复杂可编程逻辑器件CPLD、以及分别与所述CPLD连接的PCIe设备和PCIeswitch芯片，其中，所述CPLD包括计数器和寄存器；所述CPLD用于将所述PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所述PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在所述寄存器内交替更换，对所述PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟；所述PCIeswitch芯片用于从所述寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对所述PCIe设备进行相应的处理，其中，所述设备动作包括：暴力热拔动作和暴力热插动作。优选的，还包括：与所述PCIeswitch芯片连接的中央处理器CPU；所述CPU，用于在所述PCIeswitch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热拔动作时，接收所述PCIeswitch芯片生成并输出的中断信息，并根据所述中断信息中携带的所述PCIe设备的标识，停止对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述中断信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已断开连接；所述CPU，还用于在所述PCIeswitch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热插动作时，接收所述PCIeswitch芯片生成并输出的连接信息，并根据所述连接信息中携带的所述PCIe设备的标识，对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述连接信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已连接。一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的方法，所述方法由系统执行，所述系统包括：复杂可编程逻辑器件CPLD、以及分别与所述CPLD连接的PCIe设备和PCIeswitch芯片，其中，所述CPLD包括计数器和寄存器；所述方法包括：所述CPLD将所述PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所述PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在所述寄存器内交替更换，对所述PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟；所述PCIeswitch芯片从所述寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对所述PCIe设备进行相应的处理，其中，所述设备动作包括：暴力热拔动作和暴力热插动作。优选的，当所述系统还包括中央处理器CPU时，所述方法还包括：所述CPU在所述PCIeswitch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热拔动作时，接收所述PCIeswitch芯片生成并输出的中断信息，并根据所述中断信息中携带的所述PCIe设备的标识，停止对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述中断信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已断开连接；所述CPU在所述PCIeswitch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热插动作时，接收所述PCIeswitch芯片生成并输出的连接信息，并根据所述连接信息中携带的所述PCIe设备的标识，对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述连接信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已连接。从上述的技术方案可知，本专利技术公开了一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的方法及系统，该系统包括：CPLD、以及分别与CPLD连接的PCIe设备和PCIeswitch芯片，CPLD将PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在寄存器内交替更换，对PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟，PCIeswitch芯片从寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对PCIe设备进行相应的处理。本专利技术通过CPLD模拟PCIe设备暴力热插拔的场景，代替了传统人工插拔PCIe设备的过程，从而不仅实现了人力的解放，节约了人力成本，而且还可以增加测试时长和次数，增加测试的可靠性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据公开的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例公开的一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的系统的结构示意图；图2为本专利技术实施例公开的另一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的系统的结构示意图；图3为本专利技术实施例公开的一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的方法流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例公开了一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的方法及系统，以实现人力解放，节约人力成本。参见图1，本专利技术一实施例公开的一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的系统的结构示意图，该系统包括：CPLD(omplexProgrammableLogicDevice，复杂可编程逻辑器件)11、以及分别与CPLD11连接的PCIe设备12和PCIeswitch芯片13，其中，CPLD11包括计数器和寄存器；具体的：CPLD11用于将所述PCIe设备12被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试PCIe switch芯片暴力热插拔功能的系统，其特征在于，所述系统包括：复杂可编程逻辑器件CPLD、以及分别与所述CPLD连接的PCIe设备和PCIe switch芯片，其中，所述CPLD包括计数器和寄存器；所述CPLD用于将所述PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所述PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在所述寄存器内交替更换，对所述PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟；所述PCIe switch芯片用于从所述寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对所述PCIe设备进行相应的处理，其中，所述设备动作包括：暴力热拔动作和暴力热插动作。

【技术特征摘要】
1.一种测试PCIeswitch芯片暴力热插拔功能的系统，其特征在于，所述系统包括：复杂可编程逻辑器件CPLD、以及分别与所述CPLD连接的PCIe设备和PCIeswitch芯片，其中，所述CPLD包括计数器和寄存器；所述CPLD用于将所述PCIe设备被暴力热拔出时的设备在位信息对应的寄存器的值，和所述PCIe设备被暴力热插入时的设备在位信息对应的寄存器的值，按照预设周期在所述寄存器内交替更换，对所述PCIe设备的暴力热插拔场景进行模拟；所述PCIeswitch芯片用于从所述寄存器读取设备在位信息，并根据读取的设备在位信息对应的设备动作，对所述PCIe设备进行相应的处理，其中，所述设备动作包括：暴力热拔动作和暴力热插动作。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：与所述PCIeswitch芯片连接的中央处理器CPU；所述CPU，用于在所述PCIeswitch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热拔动作时，接收所述PCIeswitch芯片生成并输出的中断信息，并根据所述中断信息中携带的所述PCIe设备的标识，停止对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述中断信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已断开连接；所述CPU，还用于在所述PCIeswitch芯片确定读取的设备在位信息为暴力热插动作时，接收所述PCIeswitch芯片生成并输出的连接信息，并根据所述连接信息中携带的所述PCIe设备的标识，对所述PCIe设备进行读/写操作；其中，所述连接信息用于指示所述PCIeswitch芯片与所述PCIe设备已连接。...

【专利技术属性】
技术研发人员：张政，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南,41