用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)技术方案

公开了用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)。电子系统包含要求大量测试和调试来确保良好的质量和性能的复杂集成电路(IC)。在示例性方面，在电子系统中提供了EUD。EUD配置成向电子系统中的多个内部调试接口发送控制信息和/或从电子系统中的多个内部调试接口收集调试信息。EUD还配置成将调试信息转换成USB格式，从而调试信息能够通过由电子系统提供的USB接口而被外部访问。EUD可以提供电子系统的非侵入性监视。当EUD被启用时，电子系统能够将USB端口用于任务模式中的通信。附加地，电子系统在EUD持续工作时能够在功率节省模式期间开启或关闭所有系统时钟。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)优先权要求本申请要求于2014年10月30日提交的题为“EMBEDDEDUNIVERSALSERIALBUS(USB)DEBUG(EUD)FORMULTI-INTERFACEDDEBUGGINGINELECTRONICSYSTEMS(用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD))”的美国专利申请S/N14/527,873的优先权，该申请通过援引全部纳入于此。背景I.公开领域本公开的技术一般涉及调试电子系统。II.
技术介绍
移动计算设备在当代社会已变得普遍。移动计算设备的流行可归因于在此类计算设备内启用的许多功能。已经设计并制造出日益复杂的集成电路(IC)以提供移动计算设备内日益强大的功能性。在一些情况中，移动计算设备的整个系统被集成到称之为片上系统(SOC)的单个IC中。在一些其他情况中，移动计算设备的整个系统由封装到称之为系统级封装(SIP)的集成模块中多个IC支持。IC和移动计算设备在它们各自的研发生命周期的不同阶段期间被反复测试和调试，以致力于在向消费者发布移动计算设备之前检测并消除潜在的差错。测试是用于在特定条件下检测疑似差错的过程，而调试是用来调查疑似差错的确切起因的过程。实际的调试办法涉及分析在各种测试条件下从被测试设备(DUT)获得的执行日志。在调试移动计算设备以及其内诸IC的情况中，经常采用已制定的调试方法体系和工具，诸如联合测试动作组(JTAG)录入、串行有线调试(SWD)、系统迹线，以及通用异步接收机/发射机(UART)录入。这些调试方法体系中的每一者都被专门设计以在特定条件下从DUT中的特定电路、组件和/或功能块捕捉执行日志。随着移动计算设备的复杂度持续增加且IC的大小持续减小，测试和调试正变得越来越繁琐和耗时。相应地，移动计算设备的设计者和研发者要求有更好的测试和调试工具。公开概述详细描述中公开的诸方面包括用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)。电子系统(诸如移动计算设备)包含要求大量测试和调试来确保良好的质量和性能的复杂集成电路(IC)。在示例性方面，在电子系统中提供了EUD。EUD配置成向电子系统中的多个内部调试接口(例如，联合测试动作组(JTAG)、串行有线调试(SWD)、系统迹线、通用异步接收机/发射机(UART)等)提供控制信息和/或从电子系统中的多个内部调试接口收集调试信息。EUD将调试信息转换成USB格式，从而调试信息能够通过由电子系统提供的USB接口而被外部访问。EUD的一示例性属性是其能够提供电子系统的非侵入性监视。在EUD被启用时,电子系统仍然能够将USB端口用于任务模式中的通信。此外，电子系统在EUD持续工作时仍旧能够开启或关闭所有系统时钟并转换到功率节省模式或转换自功率节省模式。通过在电子系统中提供EUD来使得多接口调试信息通过USB接口能被外部访问，而不影响电子系统的正常行为，测试和调试可以更简单且更高效地完成而无需来自电子系统的多个连接接口。就此而言，在一方面，提供了一种电子系统中的嵌入式EUD。EUD包括USB集线器。该USB集线器包括至少一个上行流接口。该至少一个上行流接口耦合到电子系统中的USBPHY。USB集线器还包括通信地耦合到至少一个上行流接口的多个下行流接口。该EUD还包括耦合到该多个下行流接口中的一者的调试外围设备。该调试外围设备配置成在多个下行流接口中的该一者上与USB集线器交换USB格式的数据分组。该调试外围设备通信地耦合到该电子系统中多个调试功能中的至少一个调试功能以从该至少一个调试功能接收调试信息。该调试外围设备配置成将从该至少一个调试功能接收到的该调试信息转换成该USB格式的数据分组以提供给该USB集线器。该USB集线器配置成在该至少一个上行流接口上向该USBPHY提供该USB格式的数据分组。在另一方面，提供了一种用于使用EUD在电子系统中启用调试过程的方法。该方法包括将该电子系统附连至USB主机。该方法还包括由该EUD检测该USB主机的存在。该方法还包括由该EUD检测该调试过程在该电子系统中是否被准许。该方法还包括从该USB主机接收至少一个EUD配置。该方法还包括由该EUD从该USB主机接收至少一个调试命令。该方法还包括根据该至少一个调试命令收集调试信息。在另一方面，提供了一种基于EUD的测试系统。该基于EUD的测试系统包括USB主机，其包括USB主机接口。该基于EUD的测试系统还包括电子系统。该电子系统包括在USB电缆上耦合到该USB主机接口的USBPHY。该电子系统还包括EUD。该EUD包括USB集线器。该USB集线器包括至少一个上行流接口。该USB集线器还包括通信地耦合到该至少一个上行流接口的至少一个第一下行流接口。该USB集线器还包括通信地耦合到至少一个上行流接口的多个第二下行流接口。该EUD还包括耦合到该多个第二下行流接口中的至少一者的至少一个调试外围设备。该EUD还包括耦合到该至少一个第一下行流接口的断连开关。该EUD还包括旁路开关。该旁路开关包括导线。该旁路开关还包括配置成交替地连接到该至少一个上行流接口和该导线的第一旁路开关。该旁路开关还包括配置成交替地连接到该导线和该断连开关的第二旁路开关。该EUD还包括耦合到该USBPHY的EUD电源。该EUD还包括耦合到该USBPHY的EUD振荡器。该电子系统还包括耦合到该至少一个调试外围设备的至少一个调试功能。该电子系统还包括耦合到该第二旁路开关的USB控制器。在另一方面，提供了一种电子系统中的EUD。该EUD包括USB集线器。该USB集线器包括至少一个上行流接口。该至少一个上行流接口耦合到该电子系统中的USBPHY。USB集线器还包括通信地耦合到至少一个上行流接口的多个下行流接口。该EUD还包括耦合到该多个下行流接口中的至少一者的至少一个调试外围设备。该至少一个调试外围设备配置成在多个下行流接口中的该至少一者上与USB集线器交换USB格式的数据分组。该至少一个调试外围设备通信地耦合到该电子系统中的多个调试功能之中的至少一个调试功能以向该至少一个调试功能发送控制信息和/或从该至少一个调试功能接收调试信息。该至少一个调试外围设备配置成将从该至少一个调试功能接收到的该调试信息转换成该USB格式的数据分组以提供给该USB集线器。该至少一个调试外围设备配置成控制该电子系统。该USB集线器配置成在该至少一个上行流接口上向该USBPHY提供该USB格式的数据分组。在另一方面，提供了一种电子系统中的EUD。各装置包括用于将该电子系统附连至USB主机的装置。各装置还包括由该EUD检测该USB主机的存在。各装置还包括由该EUD检测该调试过程在该电子系统中是否被准许。各装置还包括由该EUD从该USB主机接收至少一个EUD配置。各装置还包括由该EUD从该USB主机接收至少一个调试命令。各装置还包括根据该至少一个调试命令收集调试信息。附图简述图1是可受益于本公开的示例性方面的用于测试和调试电子系统的调试系统的常规配置的框图；图2是示例性嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)的示意图，其配置成向电子系统内的至少一个调试功能发送控本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子系统中的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)，包括：USB集线器，其包括：耦合到所述电子系统中的USB物理层(PHY)的至少一个上行流接口；以及通信地耦合到所述至少一个上行流接口的多个下行流接口；以及耦合到所述多个下行流接口中的一者的调试外围设备，其中所述调试外围设备配置成在所述多个下行流接口中的所述一者上与所述USB集线器交换USB格式的数据分组；其中所述调试外围设备通信地耦合到所述电子系统中多个调试功能中的至少一个调试功能以从所述至少一个调试功能接收调试信息；其中所述调试外围设备配置成将从所述至少一个调试功能接收到的所述调试信息转换成所述USB格式的数据分组以提供给所述USB集线器；以及其中所述USB集线器配置成在所述至少一个上行流接口上向所述USB PHY提供所述USB格式的数据分组。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.10.30 US 14/527,8731.一种电子系统中的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)，包括：USB集线器，其包括：耦合到所述电子系统中的USB物理层(PHY)的至少一个上行流接口；以及通信地耦合到所述至少一个上行流接口的多个下行流接口；以及耦合到所述多个下行流接口中的一者的调试外围设备，其中所述调试外围设备配置成在所述多个下行流接口中的所述一者上与所述USB集线器交换USB格式的数据分组；其中所述调试外围设备通信地耦合到所述电子系统中多个调试功能中的至少一个调试功能以从所述至少一个调试功能接收调试信息；其中所述调试外围设备配置成将从所述至少一个调试功能接收到的所述调试信息转换成所述USB格式的数据分组以提供给所述USB集线器；以及其中所述USB集线器配置成在所述至少一个上行流接口上向所述USBPHY提供所述USB格式的数据分组。2.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，进一步包括：耦合到所述USBPHY的EUD电源，其中所述EUD电源配置成向所述EUD提供操作功率；以及耦合到所述USBPHY的EUD振荡器，其中所述EUD振荡器配置成向所述EUD提供操作时钟。3.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，进一步包括耦合到所述USBPHY的EUD电源，其中所述EUD电源配置成独立于所述电子系统中的数字电源电压是否被设置成非操作电平而向所述EUD提供操作功率。4.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，进一步包括耦合到所述USBPHY的EUD振荡器，其中所述EUD振荡器配置成独立于所述电子系统中的其他系统时钟是否被关闭而向所述EUD提供操作时钟。5.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，包括配置成启用所述电子系统的调试模式的旁路开关。6.如权利要求5所述的EUD，其特征在于，所述旁路开关包括：耦合到所述至少一个上行流接口和所述USBPHY的第一旁路开关；以及耦合到所述电子系统中的USB控制器和所述多个下行流接口中的一者的第二旁路开关。7.如权利要求6所述的EUD，其特征在于，进一步包括断连开关，所述断连开关配置成通过保持所述断连开关断开而将所述电子系统从所述USB集线器脱离。8.如权利要求6所述的EUD，其特征在于，进一步包括断连开关，所述断连开关配置成通过保持所述断连开关闭合而将所述电子系统附连到所述USB集线器。9.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，包括配置成通过将所述USBPHY直接连接到所述USB控制器而启用所述电子系统的任务模式的旁路开关。10.如权利要求9所述的EUD，其特征在于，所述旁路开关包括：耦合到所述USBPHY并从所述至少一个上行流接口解耦的第一旁路开关；以及耦合到所述电子系统中的USB控制器以及所述第一旁路开关的第二旁路开关。11.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，所述调试外围设备耦合到所述电子系统中的联合测试动作组(JTAG)调试功能并配置成与相应的JTAG调试功能发送或接收JTAG调试信息。12.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，所述调试外围设备耦合到所述电子系统中的串行导线调试(SWD)调试功能并配置成与相应的SWD调试功能发送或接收SWD调试信息。13.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，所述调试外围设备耦合到所述电子系统中的系统迹线调试功能并配置成与相应的系统迹线调试功能发送或接收系统迹线调试信息。14.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，所述调试外围设备耦合到所述电子系统中的通信(COM)端口调试功能并配置成与相应的COM端口调试功能发送或接收COM端口调试信息。15.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，所述USBPHY是USB高速接口或USB超高速接口。16.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，所述电子系统是片上系统(SOC)集成电路(IC)。17.如权利要求1所述的EUD，其特征在于，所述电子系统是包括至少一个副电子系统的基于系统级封装(SIP)的电子系统，其中所述至少一个副电子系统包括具有至少一个副上行流接口的副EUD。18.如权利要求17所述的EUD，其特征在于，所述多个下行流接口中的一者耦合到至少一个副上行流接口以与所述至少一个副电子系统发送或接收调试信息。19.一种用...

【专利技术属性】
技术研发人员：T·B·兰博尔，D·E·艾利斯，S·沙赫鲁尼亚，V·K·K·翁，
申请(专利权)人：高通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国,US