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用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)技术方案
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下载用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)的技术资料
文档序号:16048914
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公开了用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)。电子系统包含要求大量测试和调试来确保良好的质量和性能的复杂集成电路(IC)。在示例性方面,在电子系统中提供了EUD。EUD配置成向电子系统中的多个内部调试接...
该专利属于高通股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过高通股份有限公司授权不得商用。
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