幅材检测校准系统及相关方法技术方案

本发明专利技术公开了使用来自校准的点传感器的数据、使用基于频谱的分析来校准幅材检测系统的系统和方法。

Amplitude measuring and calibrating system and related method

A system and method for calibrating a amplitude check system using data from a calibration point sensor and using spectrum based analysis are disclosed.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用本专利申请涉及美国专利申请No.12/133,487（现为美国专利No.7,773,226）和美国专利申请No.12/786,975（现为美国专利No.7,957,000），两者的名称均为“WebInspectionCalibrationSystemandRelatedMethods”（幅材检测校准系统及相关方法）。
技术介绍
某些幅材属性适合于光学检测。这些属性或者是可直接观察的（如透射率或者如刮痕或其他外观缺陷之类的偏差），或者是与某个可光学观察的属性充分相关以致可测量的。例如，对于非织造幅材，与可光学观察属性相关但不可直接观察的属性为其隔热能力，所述隔热能力通常是利用导热率来测定的。可通过监测从已知温度梯度的一端到另一端的热流率来测定幅材的导热率，但这种测定难以用于在线生产型环境中。然而，如果幅材的构造为透光提供条件，则其导热率可能与透过它并且进入一系列光学传感器的光的亮度相关。因此，可利用透过幅材的光的光学信号，并通过已知的光学感测技术来指示幅材的导热率本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种针对用于监测幅材材料的幅材检测系统的校准系统，所述校准系统包括：至少一个幅材传感器，被构造成接收指示所述幅材材料的第一横向幅材部分的第一特性的信号，并且提供以校准的测量单位来表示所述第一特性的第一响应信号，所述第一横向幅材部分小于所述幅材材料的宽度；所述幅材检测系统，被构造成接收指示所述幅材材料的第二横向幅材部分的所述第一特性的信号，并且提供表示所述第二横向幅材部分的第二响应信号；以及传感器至检测系统校准模块，所述校准模块将所述第一响应信号和第二响应信号转换成频域，并对于所关注的第一频率范围，分析所述第一响应信号和第二响应信号的频谱以提供第一频率范围相关模型，然后将所述第一频率范围相关模型...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.09.30 US 13/249,4681.一种针对用于监测幅材材料的幅材检测系统的校准系统，所述
校准系统包括：
至少一个幅材传感器，被构造成接收指示所述幅材材料的第一横
向幅材部分的第一特性的信号，并且提供以校准的测量单位来表示所
述第一特性的第一响应信号，所述第一横向幅材部分小于所述幅材材
料的宽度；
所述幅材检测系统，被构造成接收指示所述幅材材料的第二横向
幅材部分的所述第一特性的信号，并且提供表示所述第二横向幅材部
分的第二响应信号；以及
传感器至检测系统校准模块，所述校准模块将所述第一响应信号
和第二响应信号转换成频域，并对于所关注的第一频率范围，分析所
述第一响应信号和第二响应信号的频谱以提供第一频率范围相关模
型，然后将所述第一频率范围相关模型应用到所述第一频率范围...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾斯汀·W·威廉，
申请(专利权)人：三M创新有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US