PCB板推块两段式测试结构制造技术

本发明专利技术公开了一种PCB板推块两段式测试结构，包括沿厚度方向上顺序设置的载板、限位板和针板，载板和限位板之间具有供真空吸合的间隙，载板背向限位板的一侧用于放置待测PCB板，对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，针板厚度方向上穿设有长探针，对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，针板厚度方向上设有短探针，真空吸合时，限位板能够使长探针和短探针同时穿过探针通孔触及待测试针点和仅使长探针穿过探针通孔触及待测试针点，具有结构简单，便于操作实施的优点，能够确保在一次测试之后，按照测量要求很方便的将会干扰或不需测试的探针脱离，方便二次测试的进行，确保二次测试的结果。

PCB plate pushing block two section type test structure

The invention discloses a PCB plate pushing two segment test structure, including the order set along the thickness direction of carrier plate, a limiting plate and a needle plate, with a gap for vacuum suction plate and between the limiting plate plate back to the side of the limiting plate for placing the measured PCB board. The corresponding measured PCB board tests should always test point to probe contact, the needle plate thickness direction are arranged on the long probe, corresponding to be tested on the PCB board tests need not always contact the test probe needle, needle plate thickness direction is provided with a short probe, vacuum pull, limit board can make long and short probe and probe probe through the through hole to be hit test point and only the long probe passed through the probe hole touch test point, has the advantages of simple structure, easy operation, to ensure that after a test, according to test It is convenient to remove probes that will interfere or not to be tested to facilitate the two test and to ensure the results of the two test.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种PCB板测试装置，具体是涉及一种PCB板推块两段式测试结构。
技术介绍
PCB板在生产过程中需要经历很多环节，其中每个环节都需要进行相应的测试来检测产品的好坏，PCB板测试治具为PCB板的测试提供一个良好的平台，基本工作原理是利用将PCB板上的待测点与测试机中的对应点相连接，通过相应的程序来实现最终的测试。真空治具是PCB板测试常用的治具，主要包括上、下模和底框三部分，上、下模主要包括上、下针板、上、下载板、探针组件及密封组件，底框内含界面版，上、下载板用于保护待测PCB板和导正测试针点，上、下针板用于固定加长探针和普通探针等探针组件，密封组件用于上下模结合时确保治具内部处于密封状态，上、下模的测试针点与界面板上的针点用导线连接，界面板上的针点再与测试机上的针点一一对应，但是，随着PCB板功能越来越强，线路结构也越复杂，需要测试的点也越来越多，而相应的真空治具的测试探针也越来越多，因此，经常会遇到一些测试过程中存在一些会干扰和不需本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PCB板推块两段式测试结构，其特征在于：包括沿厚度方向上顺序设置的载板（1）、限位板（2）和针板（3），所述载板和所述限位板之间具有供真空吸合的间隙（4），所述载板背向所述限位板的一侧用于放置待测PCB板（5），对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接触的待测试针点，所述针板厚度方向上穿设有长探针（6），对应待测PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，所述针板厚度方向上设有短探针（7），对应每一个探针，所述载板和所述限位板上设有相匹配的探针通孔，真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述长探针穿过所述探针通孔触及所述待测...

【技术特征摘要】
1.一种PCB板推块两段式测试结构，其特征在于：包括沿厚度方向上顺序
设置的载板（1）、限位板（2）和针板（3），所述载板和所述限位板
之间具有供真空吸合的间隙（4），所述载板背向所述限位板的一侧用
于放置待测PCB板（5），对应待测PCB板上多次测试时始终需要探针接
触的待测试针点，所述针板厚度方向上穿设有长探针（6），对应待测
PCB板上多次测试时不需要探针始终接触的待测试针点，所述针板厚度
方向上设有短探针（7），对应每一个探针，所述载板和所述限位板上
设有相匹配的探针通孔，真空吸合时，所述限位板能够使所述长探针
和所述短探针同时穿过所述探针通孔触及所述待测试针点和仅使所述
长探针穿过所述探针通孔触及所述待测试针点。
2.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖秋生，郑建生，
申请(专利权)人：昆山威典电子有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32