光学仪器、相位板及像形成方法技术

本发明专利技术提供一种能够以简单的结构对复数个荧光的相位进行调制的光学仪器、相位板和像形成方法。所述光学仪器10具有：对以第1波长为中心波长的第1荧光施以第1相位调制并对以第2波长为中心波长的第2荧光施以第2相位调制的通用的相位调制掩膜50、让第1荧光和第2荧光入射相位调制掩膜50的同一入射区域的照射光学系统30、聚集经第1相位调制后的第1荧光和经第2相位调制后的第2荧光并形成与点扩展函数相应的像的聚光光学系统60。

Optical instrument, phase plate and image forming method

The present invention provides an optical instrument, a phase plate and an image forming method, which can modulate the phase of a plurality of fluorescence in a simple structure. The optical instrument has 10 illumination optical system the same incident area of general phase modulation with the first phase modulation on first to first wavelength fluorescence wavelength and second to second to second phase modulation on the fluorescence wavelength of the center wavelength of the mask 50, first and second fluorescence fluorescence incident phase modulation mask 50 the 30, the first gathered first fluorescence after the phase modulation and the second fluorescence second phase modulation and the formation and the corresponding image point spread function of optical system 60.

【技术实现步骤摘要】
光学仪器、相位板及像形成方法
本专利技术涉及一种光学仪器、相位板及像形成方法。
技术介绍
例如，在光学显微镜这种光学仪器中，利用光的相位调制能够提高分辨率、校正像差等，实现各种功能。在特开（日本专利公开）2010-25922号公报中记述了一种在一定的宽光谱范围内调制复数种互不相同的波长的光束的相位的相位调制器。此相位调制器通过衍射光栅使光源照射的光束按照波长不同分别衍射向不同的角度。根据波长不同而分别衍射的光束经过聚光镜入射到空间相位调制器。相位调制器具有与各波长分别对应的复数个相位调制区域，经衍射光栅的衍射后，各波长的光束入射到与各波长相对应的相位调制区域。
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题根据特开（日本专利公开）2010-25922号公报中所述技术，要让光束入射到各波长所对应的相位调制区域的话就需要用衍射光栅和棱镜等让光束衍射。因此会带来光学系统复杂化、相位调制结构复杂化等问题。此外，特开（日本专利公开）2010-25922号公报中所述的相位调制器针对每种波长都设有复数个相位调制区域，因此还存在相位调制器大型化的问题。解决技术问题的技术手段本专利技术第一技术方案涉及一种光学仪器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学仪器，包括：对第1波长的光施以第1相位调制并对第2波长的光施以第2相位调制的通用的相位调制掩膜；使所述第1波长的光和所述第2波长的光入射所述相位调制掩膜的同一入射区域的照射光学系统；以及聚集经所述第1相位调制后的所述第1波长的光和经所述第2相位调制后的所述第2波长的光并形成与点扩展函数相应的像的聚光光学系统。

【技术特征摘要】
2016.03.10 JP 2016-0476821.一种光学仪器，包括：对第1波长的光施以第1相位调制并对第2波长的光施以第2相位调制的通用的相位调制掩膜；使所述第1波长的光和所述第2波长的光入射所述相位调制掩膜的同一入射区域的照射光学系统；以及聚集经所述第1相位调制后的所述第1波长的光和经所述第2相位调制后的所述第2波长的光并形成与点扩展函数相应的像的聚光光学系统。2.一种光学仪器，包括：对第1波长的光和第2波长的光施以相位调制的通用的相位调制掩膜；使所述第1波长的光和所述第2波长的光入射所述相位调制掩膜的照射光学系统；以及聚集经所述相位调制掩膜相位调制后的所述第1波长的光和所述第2波长的光并形成与点扩展函数相应的像的聚光光学系统；其中，所述相位调制掩膜是相位板，所述相位板的厚度在所述第1波长的光用的相位板厚度和所述第2波长的光用的相位板的厚度之间。3.一种光学仪器，包括：对第1波长的光和第2波长的光施以相位调制的通用的相位调制掩膜；使所述第1波长的光和所述第2波长的光入射所述相位调制掩膜的照射光学系统；以及聚集经所述相位调制掩膜相位调制后的所述第1波长的光和所述第2波长的光并形成与点扩展函数相应的像的聚光光学系统；其中，所述相位调制掩膜是能够根据输入来设定相位调制图形的相位调制器，所述相位调制器通过基于所述第1波长的光用的灰度和所述第2波长的光用的灰度之间的灰度的输入而设定的所述相位调制图形来对所述第1波长的光和所述第2波长的光施以相位调制。4.根据权利要求1所述的光学仪器，其特征在于：所述相位调制掩膜是相位板；所述相位板在所述入射区域包括：对所述第1波长的光施以第1相位调制的第1区域、以及对所述第2波长的光施以第2相位调制的第2区域。5.根据权利要求1所述的光学仪器，其特征在于：所述相位调制掩膜是能够根据输入来设定相位调制图形的相位调制器；所述相位调制图形在所述入射区域包括：用于对所述第1波长的光施以第1相位调制的第1区域、以及用于对所述第2波长的光施以第2相位调制的第2区域。6.根据权利要求4所述的光学仪器，其特征在于：所述第1区域和所述第2区域分别由复数个区域构成；所述第1区域的各区域和所述第2区域的各区域彼此相邻。7.根据权利要求6所述的光学仪器，其特征在于：所述第1区域的各区域和所述第2区域的各区域为方形。8.根据权利要求7所述的光学仪器，其特征在于：所述第1区域的各区域和所述第2区域的各区域从所述入射区域的一端延伸到另一端。9.根据权利要求6所述的光学仪器，其特征在于：所述第1区域的各区域和所述第2区域的各区域为环状。10.根据权利要求1所述的光学仪器，其特征在于：所述第1波长的光和所述第2波长的光分别是从荧光物质中产生的第1荧光和第2荧光。11.根据权利要求10所述的光学仪器，其特征在于：所述第1荧光的波段和所述第2荧光的波段分别有一定宽度，所述第1荧光的波段的一部分和所述第2荧光的波段的一部分互相重合。12.根据权利要求1所述的光学仪器，其特征在于：所述第1波长的光是强度峰值在所述第1波长的光，所述第2波长的光是强度峰值在所述第2波长的光。13.根据权利要求1所述的光学仪器，其特征在于：所述照射光学系统具有物镜，所述相位调制掩膜在拍摄面上分别使所述第1波长的光的光点和所述第2波长的光的光点成像于两点，并与所述物镜与所述第1波长的光的...

【专利技术属性】
技术研发人员：冈田昌也，岩永茂树，
申请(专利权)人：希森美康株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP