一种抑制杂散光的物质折射率测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种抑制杂散光的物质折射率测量装置，属于光学仪器领域，其包括光源，输入耦合光学模块，反射测量模块，输出耦合光学模块，阵列器件以及图像采集分析系统，输入耦合光学模块用于接收来自光源的光束并将其聚焦或发散，反射测量模块用于容置待测对象并对其折射率进行测量以获得折射率原始信息，输出耦合光学模块用于收集带有待测对象折射率信息的反射光，阵列器件用于接受带有待测对象折射率信息的反射光，并将其转化为光电信号，图像采集分析系统用于对光电信号进行处理和分析，以直接输出待测对象的折射率数值。本发明专利技术通过设计反射测量模块，能巧妙消除测量薄层物质折射率时的杂散光，且能用于测量薄层物质的折射率。

A refractive index measuring device for suppressing stray light

The invention discloses a material refractive index of stray light suppression rate measuring device, belonging to the field of optical instruments, which comprises a light source, the input coupling optical reflectance measurement module, output module, optical coupling module, array device and image acquisition and analysis system, the input coupling optical module is used for receiving the light beam from a light source and the focus or divergence. Reflection measurement module for holding the object to be measured and the refractive index were measured to obtain the refractive index of the original information, output coupling optical module is used for collecting the reflected light from the object with the refractive index information of the measured array device for receiving the reflected light with a refractive index of the measured object information, and converts it into electrical signal, image acquisition and analysis system for processing and analysis of the photoelectric signal, with direct output to be measured index of object index. By designing a reflection measuring module, the utility model can skillfully eliminate stray light when measuring the refractive index of the thin layer substance, and can be used for measuring the refractive index of the thin layer substance.

【技术实现步骤摘要】
一种抑制杂散光的物质折射率测量装置
本专利技术属于光学仪器领域，更具体地，涉及一种抑制杂散光的物质折射率测量装置。
技术介绍
折射率是物质的重要物理参数之一，人们常利用光在界面上临界角附近的反射特性，完成折射率测量，如：著名的阿贝折光计。这种测量装置原理简单、测量精确，在各行各业得到了广泛的应用。传统的目视阿贝折光计需要取样和手动对准，人眼通过目镜对准，测量效率不高，精度也将受到影响，无法满足自动在线测量要求。此外，传统阿贝折光计这类装置测量不同物质时会受到一定限制：对于液体，需要取样较多，这种限制对于少量液体、价值昂贵液体不适用；对于固体，薄片测量，对准误差取决于操作者的经验，长时间测量将带来更大误差。在生物、医药、半导体、化工、光学、医疗等领域，存在大量薄膜和价值昂贵液体需要精确测量其折射率。在传统光学中，对于光学薄膜和少量微量液体等的折射率测量存在着一个问题：与棱镜接触的待测物质下表面发生全反射，未经处理的上表面将产生杂散光信号，这将影响系统的测量性能。目前，需要开发一种新的装置或者方法以满足薄膜、少量或价值昂贵液体的折射率的精确测量。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种抑制杂散光的物质折射率测量装置，其特征在于，其包括光源(1)，输入耦合光学模块(2)，反射测量模块，输出耦合光学模块(5)，阵列器件(6)，图像采集分析系统(7)，其中，所述光源(1)用于产生发散光束；所述输入耦合光学模块(2)用于接受来自光源(1)的光束并将其聚焦或发散，所述反射测量模块设置在所述输入耦合光学模块(2)的出射光方向上，用于容置待测对象(4)并对其折射率进行测量以获得折射率原始信息，所述输出耦合光学模块(5)设置在所述反射测量模块的反射光方向上，用于收集带有待测对象折射率信息的反射光，所述阵列器件(6)用于接受带有待测对象折射率信息的反射光，并将其转化为光电信号，所述图像采...

【技术特征摘要】
1.一种抑制杂散光的物质折射率测量装置，其特征在于，其包括光源(1)，输入耦合光学模块(2)，反射测量模块，输出耦合光学模块(5)，阵列器件(6)，图像采集分析系统(7)，其中，所述光源(1)用于产生发散光束；所述输入耦合光学模块(2)用于接受来自光源(1)的光束并将其聚焦或发散，所述反射测量模块设置在所述输入耦合光学模块(2)的出射光方向上，用于容置待测对象(4)并对其折射率进行测量以获得折射率原始信息，所述输出耦合光学模块(5)设置在所述反射测量模块的反射光方向上，用于收集带有待测对象折射率信息的反射光，所述阵列器件(6)用于接受带有待测对象折射率信息的反射光，并将其转化为光电信号，所述图像采集分析系统(7)用于对所述光电信号进行处理和分析，以直接输出待测对象的折射率数值。2.如权利要求1所述的一种抑制杂散光的物质折射率测量装置，其特征在于，工作时，从光源(1)射出的光线经输入耦合光学模块(2)后射入至反射测量模块，光在反射测量模块处同时发生折射和反射，反射测量模块用于将发生折射的光透射至外界或者用于将发生折射的光吸收，从而消除折射光对反射光的干扰，反射光进入输出耦合光学模块(5)，从输出耦合光学模块(5)中输出的光被阵列器件(6)接受。3.如权利要求2所述的一种抑制杂散光的物质折射率测量装置，其特征在于，所述反射测量模块包括第一棱镜(3)、第二棱镜(8)以及用于测量时容置待测对象的间隙，所述间隙为第一棱...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭文平，夏珉，杨克成，李微，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：湖北,42