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本发明公开了一种抑制杂散光的物质折射率测量装置，属于光学仪器领域，其包括光源，输入耦合光学模块，反射测量模块，输出耦合光学模块，阵列器件以及图像采集分析系统，输入耦合光学模块用于接收来自光源的光束并将其聚焦或发散，反射测量模块用于容置待测对...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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