基于自适应滤波和泰勒级数的TIADC失配误差校准方法技术

本发明专利技术公开了一种基于自适应滤波和泰勒级数的TIADC失配误差校准方法，包括通道信号采集、估计通道1的采样信号的偏置误差、校正通道1的偏置误差、分数延迟滤波、用自适应滤波器估计通道1的增益误差和时间相位误差、校正通道1的增益误差和时间相位误差步骤。本发明专利技术具有需要采样点数少，计算量较少等特点，适用于手持示波器等便携采集设备。

【技术实现步骤摘要】
基于自适应滤波和泰勒级数的TIADC失配误差校准方法
本专利技术涉及一种TIADC失配误差校准方法，尤其涉及一种基于自适应滤波和泰勒级数的TIADC失配误差校准方法，属于仪器仪表领域。
技术介绍
并行采样系统(TIADC)会由于器件的非理想特性，而产生偏置误差、增益误差、时间相位误差。双通道TIADC模型如下图1所示，采样率为fs，采样周期为Ts。参数g0,o0,Δt0分别为通道0的增益误差、偏置误差和时间相位误差，参数g1,o1,Δt1分别为通道1的增益误差、偏置误差、和时间相位误差。实际工作中以通道0作为参考通道，需要对通道1的增益误差、偏置误差和时间相位误差g1,o1,Δt1进行估计并校正，最终使得g1＝g0,o1＝o0,及Δt1＝Δt0，从而完成对整个系统的失配误差校正。如图1所示，标准信号源同时输入通道0和通道1,以通道0作为参考，经过ADC离散化后两个通道的数据表示如下：其中X0(k)表示为通道0的采样数据，X1(k)表示为通道1的采样数据。通道1的数据和通道0的数据之间的关系可以表述为X1(k)＝(1+g1)X0(k+0.5-Δt1/2)+o1(2)对TIADC中三个主本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于自适应滤波和泰勒级数的TIADC失配误差校准方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：通道信号采集：将标准信号源X(t)＝sin(wint)同时输入通道0和通道1；标准信号源的角频率频率win满足：

【技术特征摘要】
1.一种基于自适应滤波和泰勒级数的TIADC失配误差校准方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：通道信号采集：将标准信号源X(t)＝sin(wint)同时输入通道0和通道1；标准信号源的角频率频率win满足：Ts为采样间隔时间，通道0为参考信道，通道0和通道1间隔采样间隔时间Ts交错采样，通道1采样信号X1(k)为：X1(k)＝(1+g1)X0(k+0.5-Δt1/2)+o1(2)其中X0(k)为通道0的采样信号，g1,o1,Δt1分别为通道1的增益误差、偏置误差和时间相位误差；步骤2：估计通道1的采样信号的偏置误差步骤3：校正通道1的偏置误差：式中为经过偏置误差校正后的通道1的采样数据；步骤4：分数延迟滤波：将经过偏置误差校正后的通道1的采样数据输入分数延迟滤波器滤波，分数延迟滤波器的系统传递函数为:其中D＝0.5，(5)经过分数延迟滤波处理后的通道1的采样数据的一阶泰勒级数展开为X'0(k)为的导数，其计算方法为：X'0(k)＝[-X0(k+2)+8X0(k+1)-8X0(k-1)+X0(k-2)]/[(48×π×f0)/fs](7)步骤5：用自...

【专利技术属性】
技术研发人员：白旭，胡辉，李万军，刘澜涛，
申请(专利权)人：北华航天工业学院，
类型：发明
国别省市：河北,13