【技术实现步骤摘要】
一种检测金属异物和重量的检测设备
本专利技术涉及检测设备
,尤其是涉及一种检测金属异物和重量的检测设备。
技术介绍
检测设备有很多种类,工厂常用的检测设备有很多,包括测量设备卡尺、天平、打点机等,另外还有质量检测分析仪器,材质检测、包装检测设备等也是常见的检测设备。在包装环节中比较常见的有包装材料检测仪、金属检测设备、非金属检测设备以及无损检测设备等。现有的检测设备,结构复杂,功能单一,只能对产品进行一种检测,需要工人分开对产品进行检测,浪费时间,增加成本,检测不合格的产品,不能进行标注,需要人工进行分拣,容易产生误差,造成损失,增加人力物力。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷,提供一种检测金属异物和重量的检测设备,通过设置的X射线测量仪和重量传感器,对产品进行检测,从而解决上述问题。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种检测金属异物和重量的检测设备,包括第一支撑架、第一传送装置、X射线测量仪,所述第一支撑架顶部安装有第一传送装置,所述第一传送装置一侧设有方形槽,所述方形槽内设有X射线测量仪,所述方形槽底部一侧设有重量传感器,所 ...
【技术保护点】
一种检测金属异物和重量的检测设备,包括第一支撑架(1)、第一传送装置(2)、X射线测量仪(4),其特征在于,所述第一支撑架(1)顶部安装有第一传送装置(2),所述第一传送装置(2)一侧设有方形槽(3),所述方形槽(3)内设有X射线测量仪(4),所述方形槽(3)底部一侧设有重量传感器(5),所述第一支撑架(1)内设有第一电动推杆(7),所述第一电动推杆(7)一侧设有PLC控制器(6),所述第一传送装置(2)一侧设有转动轴(8),所述转动轴(8)转动连接有连接板(10),所述第一电动推杆(7)一侧固定设有凸块(9),所述第一支撑架(1)一侧设有第二支撑架(12),所述第二支撑架 ...
【技术特征摘要】
1.一种检测金属异物和重量的检测设备,包括第一支撑架(1)、第一传送装置(2)、X射线测量仪(4),其特征在于,所述第一支撑架(1)顶部安装有第一传送装置(2),所述第一传送装置(2)一侧设有方形槽(3),所述方形槽(3)内设有X射线测量仪(4),所述方形槽(3)底部一侧设有重量传感器(5),所述第一支撑架(1)内设有第一电动推杆(7),所述第一电动推杆(7)一侧设有PLC控制器(6),所述第一传送装置(2)一侧设有转动轴(8),所述转动轴(8)转动连接有连接板(10),所述第一电动推杆(7)一侧固定设有凸块(9),所述第一支撑架(1)一侧设有第二支撑架(12),所述第二支撑架(12)顶部设有第二传送装置(11),所述第二支撑架(12)一侧设有第三支撑架(14),所述第三支撑架(14)顶部设有第三传送装置(13),所述方形槽(3)一侧固定设有第二电动推杆(15),所述第二电动推杆(15)顶部固定设有印章(16),所述重量传感器(5)、第二电动推杆(15)、...
【专利技术属性】
技术研发人员:孟义平,
申请(专利权)人:江苏展邦智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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