一种往返性动作测试机构制造技术

一种往返性动作测试机构，包括底座，所述底座上设有互相垂直的X轴驱动单元和Y轴驱动单元、通过连接板设置在X轴驱动单元和Y轴驱动单元上方的Z轴驱动单元，以及由Z轴驱动单元驱动的探针检测组件，所述Z轴驱动单元垂直于X轴驱动单元和Y轴驱动单元，所述探针检测组件包括探针固定件、数根探针，以及供探针固定件移动的滑轨，数根所述探针的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元工作时，带动探针沿滑轨移动从而接触或者远离待测试样品。因此，本实用新型专利技术具有适合于微小材料的LED芯片测试的、测试精度较高、运行更加稳定的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种往返性动作测试机构
本技术涉及LED分光机领域,尤其是一种往返性动作测试机构。
技术介绍
LED分光机通过测试机构夹持LED芯片的铜箔，对LED芯片进行测试，从而实现LED芯片的分色和分光，例如，中国专利文献CN102360062A就公开了一种SMDLED贴片分光机用芯片探测装置，它的具体结构为：包括有支撑板，所述支撑板的一侧设置有驱动源，所述支撑板的另一侧设置有弹性探针组件和同步驱动机构，所述同步驱动机构的一端与所述驱动源连接，所述同步驱动机构的另一端与所述弹性探针组件配合连接，所述驱动源驱动所述同步驱动机构，所述探针组件在所述同步驱动机构的作用下可同时接触或者远离待测试芯片；但是，上述的这种SMDLED贴片分光机用芯片探测装置是通过水平的两个夹具分别从两个侧面夹持LED芯片的两侧的铜箔，从而实现LED芯片的测试的，这种探测装置只能适用于体积较大、铜箔在两侧面的LED芯片的测试，对于体积较小的LED芯片，测试精度不够，且运行不稳定，测试的故障率较高，尤其是现在市面上的微小材料的LED芯片，有五个发光面，且铜箔只存在于一个面上，现有的探测装置根本无法对其进行测试，于是人们便尝试研发出适合于微小材料的LED芯片测试的探测装置，但是由于技术的缺陷，适合这种微小材料的LED芯片的探测装置尚不成熟，市面上尚没有较完善的适合微小材料的探测装置。
技术实现思路
为了克服上述问题，本技术向社会提供一种适合于微小材料的LED芯片测试的、测试精度较高、运行更加稳定的往返性动作测试机构。本技术的技术方案是：提供一种往返性动作测试机构，包括底座，所述底座上设有互相垂直的X轴驱动单元和Y轴驱动单元、通过连接板设置在X轴驱动单元和Y轴驱动单元上方的Z轴驱动单元，以及由Z轴驱动单元驱动的探针检测组件，所述Z轴驱动单元垂直于X轴驱动单元和Y轴驱动单元，所述探针检测组件包括探针固定件、数根探针，以及供探针固定件移动的滑轨，数根所述探针的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元工作时，带动探针沿滑轨移动从而接触或者远离待测试样品。作为对本技术的改进，还包括设在所述底座上的千分微调尺，所述千分微调尺用于调节探针的位置。作为对本技术的改进，所述Z轴驱动单元包括伺服电机和与伺服电机的输出轴连接的凸轮结构，所述凸轮结构在伺服电机的驱动下带动探针沿滑轨移动。作为对本技术的改进，还包括探针导向座，所述探针导向座设置在探针的中下部。作为对本技术的改进，还包括分别用于感应Z轴驱动单元的行程的左极限、右极限的第一传感器和第二光电传感器。作为对本技术的改进，所述X轴驱动单元是由第一电机驱动的。作为对本技术的改进，所述Y轴驱动单元是由第二电机驱动的。本技术由于所述底座上设有互相垂直的X轴驱动单元和Y轴驱动单元、通过连接板设置在X轴驱动单元和Y轴驱动单元上方的Z轴驱动单元，以及由Z轴驱动单元驱动的探针检测组件，所述Z轴驱动单元垂直于X轴驱动单元和Y轴驱动单元，所述探针检测组件包括探针固定件、数根探针，以及供探针固定件移动的滑轨，数根所述探针的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元工作时，带动探针沿滑轨移动从而接触或者远离待测试样品。因此，本技术具有适合于微小材料的LED芯片测试的、测试精度较高、运行更加稳定的的优点。附图说明图1是本技术的一种实施例的立体结构示意图。图2是图1的另外一个视角的立体结构示意图。具体实施方式在本技术的描述中，需要理解的是，术语中“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”、“相连”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术的具体含义。此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”、“若干”的含义是两个或两个以上。请先参见图1至图2，图1和图2揭示的是一种往返性动作测试机构的一种实施例，一种往返性动作测试机构，包括底座100，所述底座100上设有互相垂直的X轴驱动单元和Y轴驱动单元（本实施例中未画出X轴驱动单元和Y轴驱动单元的具体结构，画出了X轴驱动单元和Y轴驱动单元的滑台2）、通过连接板5设置在X轴驱动单元和Y轴驱动单元上方的Z轴驱动单元3，以及由Z轴驱动单元3驱动的探针检测组件4，具体地，本实施例中，是在所述滑台2上设置连接板5，所述Z轴驱动单元3和探针检测组件4设置在所述连接板5上，驱动所述X轴驱动单元或Y轴驱动单元，所述连接板5、Z轴驱动单元3和探针检测组件4随着X轴驱动单元或Y轴驱动单元的移动而移动，所述Z轴驱动单元3垂直于X轴驱动单元和Y轴驱动单元，本技术中，所述探针检测组件4包括探针固定件42、数根探针41，以及供探针固定件42移动的滑轨43，本实施例中，具体地，所述探针固定件42包括用于固定探针41的探针座421、用于固定探针座421且起定位作用的探针座定位块422、起导向作用的探针座导向板423、探针座底板424和滑座425，所述探针座定位块422固定在所述探针座导向板423上，所述探针座导向板423通过探针座底板424固定在所述滑座425上，所述滑座425底部设有与滑轨43对应吻合的滑槽（图中不可见），所述滑座425通过滑槽可在所述滑轨43上运动；本技术中，数根所述探针41的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合，本技术中，所述Z轴驱动单元3包括伺服电机31和与伺服电机31的输出轴连接的凸轮结构32（凸轮结构属于现有技术，此处不再一一赘述），所述Z轴驱动单元3工作时，所述凸轮结构32在伺服电机31的驱动下带动探针41沿滑轨43移动，从而使得探针41接触或者远离待测试样品；本技术中，通过三个驱动单元精确定位、且数根所述探针41的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合，因此本技术能够适合于体积更小的LED芯片，尤其是适合于五个发光面的微小材料的LED芯片，能够与微小材料的LED芯片的铜箔点对应吻合从而完成测试，而不损坏其他的五个发光面；本技术采用X轴、Y轴和Z轴三个方向的驱动，使得测试前的定位更加精准，从而提高测试精度，运行更加稳定。本技术中，优选的，还包括设在所述底座100上的千分微调尺8，所述千分微调尺8用于调节底座100上，调节所述千分微调尺8，即同时能调节底座100上的连接板5、X轴驱动单元、Y轴驱动单元、Z轴驱动单元3，以及探针检测组件4的位置，所述千分微调尺8的调节是细微调节，由于微小材料的LED芯片体积非常小，因此千分微调尺8的调节能够对探针41的位置进行更加精本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种往返性动作测试机构，包括底座（100），其特征在于，所述底座（100）上设有互相垂直的X轴驱动单元和Y轴驱动单元、通过连接板（5）设置在X轴驱动单元和Y轴驱动单元上方的Z轴驱动单元（3），以及由Z轴驱动单元（3）驱动的探针检测组件（4），所述Z轴驱动单元（3）垂直于X轴驱动单元和Y轴驱动单元，所述探针检测组件（4）包括探针固定件（42）、数根探针（41），以及供探针固定件（42）移动的滑轨（43），数根所述探针（41）的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元（3）工作时，带动探针（41）沿滑轨（43）移动从而接触或者远离待测试样品。

【技术特征摘要】
1.一种往返性动作测试机构，包括底座（100），其特征在于，所述底座（100）上设有互相垂直的X轴驱动单元和Y轴驱动单元、通过连接板（5）设置在X轴驱动单元和Y轴驱动单元上方的Z轴驱动单元（3），以及由Z轴驱动单元（3）驱动的探针检测组件（4），所述Z轴驱动单元（3）垂直于X轴驱动单元和Y轴驱动单元，所述探针检测组件（4）包括探针固定件（42）、数根探针（41），以及供探针固定件（42）移动的滑轨（43），数根所述探针（41）的下端面在同一水平面上且与待测试样品上的铜箔点相吻合；所述Z轴驱动单元（3）工作时，带动探针（41）沿滑轨（43）移动从而接触或者远离待测试样品。2.根据权利要求1所述的往返性动作测试机构，其特征在于：还包括设在所述底座（100）上的千分微调尺（8），所述千分微调尺（8）用于调节探针（41）的位置...

【专利技术属性】
技术研发人员：何选民，段雄斌，李清，
申请(专利权)人：深圳市标谱半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44