图像捕获装置及图像捕获方法制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】图像捕获装置及图像捕获方法
本专利技术的实施例涉及用于记录图像的设备及方法。具体来说，实施例涉及那些有利于对光学像差进行计算校正的设备及方法。
技术介绍
现代光学系统应满足在图像品质方面越来越严格的要求。为此，可利用高精度及高品质光学单元。另一选择为，可利用更具成本效益的光学单元，并将此与随后进行的后处理相组合。可使用较高品质的光学单元来产生高品质图像。然而，除成本方面的缺点以外，此也可能会引起大的安装空间及高的重量。此外，大量的透镜可能会提高系统的易反射性(Reflectionsusceptibility)及/或降低透射性。对于许多应用来说，例如在昂贵专业器具的领域中，此可能是不利的。将成本较低的光学单元与随后进行的后处理相组合的设备及方法可在进一步的数字处理中包含去卷积技术。此类技术常常与高计算成本有关。此可被认为是不利的，尤其是需要对图像进行快速计算时，例如在显微镜系统中实时地显示记录样品区域。调制传递函数(MTF)的低对比度及/或图像的不良信噪比(SNR)可使得使用去卷积技术所确定的某些空间频率不能被重建或者只能在某些额外假设下被重建。举例来说，对于其中由...
【技术保护点】
一种图像记录设备，包括：照明装置(11、12；121)，是可控的，以设定用于对物体(2)进行照明的多个照明角度(4)；检测器，包括图像传感器(15；123)，所述图像传感器(15；123)用以针对所述多个照明角度(4)而捕获所述物体(2)的多个图像(41‑43)；电子评估装置(20；124‑126)，用于处理所述多个图像，且耦合至所述图像传感器(15；123)，其中所述电子评估装置(20；124‑126)用以对所述多个图像(41‑43)中的至少一些应用图像校正，所述图像校正包括位移(T1、T2；75‑78；110)，其中所述位移(T1、T2；75‑78；110)取决于在记录...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.08.29 DE 102014112416.2;2014.09.03 DE 10201411.一种图像记录设备，包括：照明装置(11、12；121)，是可控的，以设定用于对物体(2)进行照明的多个照明角度(4)；检测器，包括图像传感器(15；123)，所述图像传感器(15；123)用以针对所述多个照明角度(4)而捕获所述物体(2)的多个图像(41-43)；电子评估装置(20；124-126)，用于处理所述多个图像，且耦合至所述图像传感器(15；123)，其中所述电子评估装置(20；124-126)用以对所述多个图像(41-43)中的至少一些应用图像校正，所述图像校正包括位移(T1、T2；75-78；110)，其中所述位移(T1、T2；75-78；110)取决于在记录相应的所述图像(41-43)时所使用的所述照明角度(4)，以及在所述图像校正之后将所述多个图像(44-46)相组合。2.如权利要求1所述的图像记录设备，其中所述电子评估装置(20；124-126)用以通过所述处理来校正纵向色像差。3.如权利要求1或权利要求2所述的图像记录设备，其中所述图像传感器(15；123)包括多个色彩通道，以及其中所述位移(T1、T2；75-78；110)取决于相应的所述色彩通道、以及在记录相应的所述图像时的所述照明角度(4)。4.如权利要求3所述的图像记录设备，其中对于一个色彩通道，所述位移(T1、T2；75-78；110)取决于所述色彩通道的焦点位置(54、56)与另一色彩通道的另一焦点位置(52)之间的距离(66、67)。5.如权利要求4所述的图像记录设备，其中所述距离(66、67)及/或所述焦点位置(54、56)是以非易失性方式储存在所述图像记录设备的存储媒体(21)中。6.如前述权利要求中任一项所述的图像记录设备，其中所述电子评估装置(20；124-126)用以校正像散。7.如权利要求6所述的图像记录设备，其中对以一个照明角度(4)捕获的图像(41-43)应用的所述位移(110)取决于以所述照明角度(4)入射的光束(90)相对于由成像光学单元的像散轴及光学轴(5)界定的平面的位...
【专利技术属性】
技术研发人员：L斯托普，M丰克，A伯纳，
申请(专利权)人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE
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