一种测量角分辨率的装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及测距雷达领域，尤其涉及一种测量角分辨率的装置，用于解决现有技术测量角分辨率的装置结构复杂，测试数据不精确的问题。一种测量角分辨率的装置，包括：旋转平台、固定在旋转平台的旋转轴中心的待测物体、背景板结构以及分别和旋转平台及待测物体相连接的电脑，所述背景板结构包括至少一个背景板；所述旋转平台绕顺时针或逆时针方向旋转，所述旋转平台在待测物体的相邻的两次测量之间转动角度为d，且转动角度d小于待测物体的角分辨率。通过对待测物体的数据抓取和参数修改，实现了包括激光雷达在内的多种光学装置的角分辨率测量。

【技术实现步骤摘要】
一种测量角分辨率的装置
本专利技术涉及测距雷达领域，具体涉及一种测量角分辨率的装置。
技术介绍
角分辨率是激光雷达等光学测距装置很重要的一个光学参数，是光学测距装置最小能够探测到多大物体的一个量化的指标参数，是成像系统或系统元件能有差别地区分开两相邻物体最小间距的能力。一般分辨率测试采用国际标准的ISO12233解析度分辨率卡进行测试，它适用于数码相机或摄像机，但是激光雷达并不属于这一类设备，而且激光雷达不能得到正常的彩色或黑白图像，只能得到被测物体与激光雷达的距离值，导致传统分辨率测量不能满足激光雷达角分辨率测量要求，并且目前没有有效的激光雷达角分辨率测量设备。而若进行人工测量，一般是依据雷达的具体性能参数设计试验，不仅适应范围窄，自动化程度低，而且效率低下，测量结果受到一定人为因素干扰。这对于激光雷达等光学测距装置，特别是多线或阵列激光雷达后期调试校准都增加了难度。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的不足，本专利技术提供一种测量角分辨率的装置及方法，以解决现有技术的测量角分辨率的装置结构复杂，对于激光雷达等装置的测试适用困难的问题。为了实现上述专利技术目的，本专利技术采取如下技术方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量角分辨率的装置，其特征在于，所述装置包括：旋转平台、固定在旋转平台的旋转轴中心的待测物体、背景板结构以及分别和旋转平台及待测物体相连接的电脑，所述背景板结构包括至少一个背景板；所述旋转平台绕顺时针或逆时针方向旋转，所述旋转平台在待测物体的相邻的两次测量之间转动角度为d，且转动角度d小于待测物体的角分辨率。

【技术特征摘要】
1.一种测量角分辨率的装置，其特征在于，所述装置包括：旋转平台、固定在旋转平台的旋转轴中心的待测物体、背景板结构以及分别和旋转平台及待测物体相连接的电脑，所述背景板结构包括至少一个背景板；所述旋转平台绕顺时针或逆时针方向旋转，所述旋转平台在待测物体的相邻的两次测量之间转动角度为d，且转动角度d小于待测物体的角分辨率。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待测物体包含LED光源或者激光光源，且所述待测物体具有测距模块或感光传感器。3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述背景板结构包括至少两个相邻的背景板，相邻的两个背景板在旋转平台的转动方向上具有间隔；或者，相邻的两个背景板相对于旋转平台的旋转轴中心具有距离差值，相邻的两个背景板在旋转平台的转动方向上具有重叠部分和不重叠部分，并且至少一个不重叠部分位于旋转平台的转动方向上；或者，相邻的两个背景板相对于旋转平台的旋转轴中心具有距离差值，相邻的两个背景板在待测物体的测试方向上无缝连接。4.如权利要求3所述的装置，其特征在于，相邻的两个背景板为第一背景板和第二背景板，其中第一背景板覆盖所述待测物体探测角度为α，第二背景板与所述第一背景板不重合区域覆盖所述待测物体探测角度为β，所述第一背景板覆盖的探测角度α与所述β无缝邻接。5.如权利要求4所述的装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：王瑞，疏达，李远，
申请(专利权)人：北醒北京光子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11