一种测量工件内部残余应力的方法技术

本发明专利技术提供一种测量工件内部残余应力的方法，该方法包括：把测量工件沿深度方向切出一个斜面；沿所述斜面的法向方向打应力测量孔；采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值；根据所述测量残余应力值，利用残余应力修正公式获得实际残余应力值；将所述实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。本发明专利技术提供的测量工件内部残余应力的方法，效率高，测量快、结果精确。

【技术实现步骤摘要】
一种测量工件内部残余应力的方法
本专利技术涉及应力测量
，更具体地，涉及一种测量工件内部残余应力的方法。
技术介绍
残余应力是指物体在不受外力作用状态下或所受外力卸载后，物体内部存在的保持自相平衡的应力系统。残余应力的存在严重影响了工件的疲劳强度、静力强度及抗腐蚀性能，使工件在制造时产生变形和开裂等工艺缺陷，进而影响零件的使用寿命；残余应力还是影响零件几何尺寸稳定性的主要因素；因此，有效地测量工件的残余应力具有重大意义。残余应力的测量方法分为无损测量和有损测量。其中，无损测量包括X射线法、X射线衍射法、中子衍射法、扫描电镜声显微镜法、电子散斑干涉法、超声法和磁性法；有损测量包括钻孔法、环芯法、分割切条法、裂纹柔度法和剥层曲率半径法。其中，钻孔法、环芯法、分割切条法、X射线法、X射线衍射法和电子散斑干涉法，只能测量一层的残余应力，只有与剥层法结合才能测量内部的残余应力。而传统的剥层法耗时很大，每测量一次便要去除一层材料，重新贴一次应变花，而且每一次贴片都会有人为随机误差，工件越大耗时越多。裂纹柔度法、中子衍射法和超声法可以检测内部残余应力分布，但超声法测量精度低，中子衍射设备昂贵本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量工件内部残余应力的方法，其特征在于，包括：把测量工件沿深度方向切出一个斜面；沿所述斜面的法向方向打应力测量孔；采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值；根据所述测量残余应力值，利用残余应力修正公式获得实际残余应力值；将所述实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。

【技术特征摘要】
1.一种测量工件内部残余应力的方法，其特征在于，包括：把测量工件沿深度方向切出一个斜面；沿所述斜面的法向方向打应力测量孔；采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值；根据所述测量残余应力值，利用残余应力修正公式获得实际残余应力值；将所述实际残余应力值进行坐标转换获得初始残余应力值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述测量工件的上表面打竖直应力测量孔。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述测量工件的上表面打竖直应力测量孔之后，采用激光干涉应力仪获取所述竖直应力测量孔中的初始残余应力值。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述沿所述斜面的法向方向打应力测量孔包括：采用直径为D的刀具在所述斜面的法向方向打应力测量孔，其中，所述应力测量孔的深度为0.6D。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：所述应力测量孔为多个，各个孔之间在与所述斜面平行方向上的距离至少为4D。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：所述应力测量孔在所述斜面上成直线排列或者折线形排列。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值包括：建立空间坐标系；其中，X轴、Y轴在所述斜面上，Z轴垂直向上，X轴、Y轴、Z轴满足右手法则；其中，所述应力测量孔包括多个，每个所述应力测量孔具有相同的深度；采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的X轴、Y轴方向的测量残余应力值。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述采用激光干涉应力仪获取所述应力测量孔中的测量残余应力值...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙剑飞，王子标，王天明，陈五一，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：北京,11