一种测量装置及天线对准系统制造方法及图纸

一种测量装置及天线准系统，其特征在于，所述装置包括：基座；转动部，所述转动部可转动地设置在所述基座的第一面上，且所述转动部可绕垂直于所述第一面的轴转动；发光单元，设置在所述转动部，且与所述转动部保持相对位置固定；测角仪，设置在所述转动部上，用于确定所述转动部绕所述垂直于所述第一面的轴转动的角度；其中，在所述基座固定在第一天线的参考面时，通过转动所述转动部将所述发光单元所发出的光对准第二天线，并通过所述测角仪确定所述转动部转动的第一角度，所述第一角度被用于调整所述第一天线的姿态,以使所述第一天线与所述第二天线对准。

【技术实现步骤摘要】
一种测量装置及天线对准系统
本技术涉及测量
，特别涉及一种对准装置及天线对准系统。
技术介绍
目前，在天线对准系统中，为了实现天线之间的对准，通常将天线安装在支架、转台等设备上，通过目测天线位置和手动调控方式实现天线之间的对准。一方面，天线的固定通常采用固定件如螺钉、螺丝等直接固定，使得每一次都要花费较长时间手动调整天线的姿态；同时，目测、手动操作调控天线位置还会造成的天线转动的角度误差较大。最终导致天线对准难度大、对准精度低。
技术实现思路
本技术提供一种测量装置及天线对准系统，解决在现有技术中，天线对准难度大、精度低的技术问题。本技术提供一种测量装置用于实现天线之间的对准，所述测量装置包括基座、转动部、发光单元及测角仪。其中，所述基座位于测量装置的最底部；所述转动部设置在所述基座的第一面上，所述转动部可以绕垂直于第一面的轴转动；所述发光单元设置在所述转动部上，并且与所述转动部保持相对位置固定；所述测角仪设置在所述转动部上，用于确定所述转动部绕垂直于第一面的轴转动的角度。其中，在所述基座固定在第一天线的参考面时，通过转动所述转动部将所述发光单元所发出的光对准第二天线，并通过所述测角仪本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量装置，其特征在于，所述装置包括：基座；转动部，所述转动部可转动地设置在所述基座的第一面上，且所述转动部可绕垂直于所述第一面的轴转动；发光单元，设置在所述转动部，且与所述转动部保持相对位置固定；测角仪，设置在所述转动部上，用于确定所述转动部绕所述垂直于所述第一面的轴转动的角度；其中，在所述基座固定在第一天线的参考面时，通过转动所述转动部将所述发光单元所发出的光对准第二天线，并通过所述测角仪确定所述转动部转动的第一角度，所述第一角度被用于调整所述第一天线的姿态,以使所述第一天线与所述第二天线对准。

【技术特征摘要】
1.一种测量装置，其特征在于，所述装置包括：基座；转动部，所述转动部可转动地设置在所述基座的第一面上，且所述转动部可绕垂直于所述第一面的轴转动；发光单元，设置在所述转动部，且与所述转动部保持相对位置固定；测角仪，设置在所述转动部上，用于确定所述转动部绕所述垂直于所述第一面的轴转动的角度；其中，在所述基座固定在第一天线的参考面时，通过转动所述转动部将所述发光单元所发出的光对准第二天线，并通过所述测角仪确定所述转动部转动的第一角度，所述第一角度被用于调整所述第一天线的姿态,以使所述第一天线与所述第二天线对准。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述转动部包括：转动轴，设置在所述第一面上，所述转动部通过所述转动轴可转动地设置在所述基座的第一面上。3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述发光单元用于发射正交光；其中，在所述正交光的中心对准所述第二天线的参考位置时，所述正交光对准所述第二天线。4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：角度显示器，与所述测角仪相连，用于显示所述转动部绕所述垂直于所述第一面的轴转动的所述第一角度。5.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置包括：驱动单元，用于驱动所述转动部绕所述垂直于所述第一面的轴转动。6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：接口，用于接收第一触发指令，所述第一触发指令用于触发所述驱动单元驱动所述转动部转动。7.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：接口，与所述测角仪相连，用于将所述第一角度发送给控制中心，所述第一角度被所述控制中心用于对所述第一天线与所述第二天线进行对准。8.如权利要求7所述装置，其特征在于，所述接口还用于接收所述控制中心发送的第二触发指令，所述第二触发指令用于触发所述测量装置向所述控制中心发送所述第一角度。9.一种天线对准系统，其特征在于，所述系统包括：测量装置，第一天线，转台，控制中心以及第二天线；其中，所述第一天线设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨先超，任超，熊函，王凯，
申请(专利权)人：四川九洲电器集团有限责任公司，
类型：新型
国别省市：四川,51