零覆盖光栅化剔除制造技术

根据一些实施例，零覆盖测试可以判定诸如三角形之类的图元是否依赖于样本行或样本列或样本线之间的通道。如果是，则可在零覆盖剔除测试中剔除所述图元。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】零覆盖光栅化剔除
技术介绍
本公开涉及图形处理。在图形处理单元中，具有负责寻找哪些样本正在被渲染的图元(primitive)内部的光栅化单元或光栅化器。被渲染的图元通常是三角形。在对三角形进行光栅化之前，通常具有设置和剪裁测试，设置和剪裁测试判定三角形是否在视锥体的外部。如果是，则可剔除那些三角形，从而节省处理周期。然后，仅未被剔除的三角形到达实际的光栅化器。一个剔除测试(被称为覆盖测试)判定在给定光栅化器中的当前活跃样本图案的情况下三角形是否完全覆盖任何样本。如果否，则可剔除那个三角形。简单的示例是具有两个顶点的三角形，其中两个顶点具有相同的位置，因为该三角形具有零面积。另一示例是正好落入样本之间的三角形。针对每个被覆盖像素内的每个样本，光栅化器通过评估样本是否在图元内部来执行覆盖测试。针对三角形，这通过评估样本到三角形的三条边的有符号距离来完成。附图说明参照以下附图对一些实施例进行描述：图1是通道的第一实施例的描绘；图2是通道的第二实施例的描绘；图3是通道的第三实施例的描绘；图4是通道的第四实施例的描绘；图5是通道的一个实施例的流程图；图6是一个实施例的示意性描绘；图7是根据一个实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，包括：判定图元是否位于多个样本之间的通道中；以及如果是，则剔除所述图元。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.06 US 14/534,3741.一种方法，包括：判定图元是否位于多个样本之间的通道中；以及如果是，则剔除所述图元。2.如权利要求1所述的方法，其中，所述通道沿样本行或样本列。3.如权利要求1所述的方法，其中，所述通道沿对角线。4.如权利要求1所述的方法，包括判定：一个顶点是否在通道内部，并且其他顶点中的一个是否在所述通道内在所述通道的第一侧上，并且剩余的顶点是否在所述通道的第二侧上，并且在这种情况下。5.如权利要求4所述的方法，其中，判定包括：标识样本线；标识所述图元内部的与所述线垂直并且使通道外部的所述图元的顶点与线相交的线段；标识所述线段与那条线相交的点；标识连续样本是否在所述图元的外部，并且如果是，则剔除所述三角形。6.如权利要求5所述的方法，其中，所述线段是通过所述顶点到所述图元内部任何点的任意线。7.如权利要求1所述的方法，包括：将顶点变换至经旋转的坐标系；针对所述经变换的顶点计算轴线对准的边界框；以及然后执行剔除测试。8.如权利要求1所述的方法，其中，判定包括：判定图元是否完全位于多个样本之间的通道中，不覆盖所述通道的任一边界/边缘上的样本。9.一种或多种非瞬态计算机可读介质，存储有指令，所述指令被执行以执行包括以下各项的序列：判定图元是否基本上位于多个样本之间的通道中；以及如果是，则剔除所述图元。10.如权利要求9所述的介质，其中，所述通道沿样本行或样本列。11.如权利要求9所述的介质，其中，所述通道沿对角线。12.如权利要求9所述的介质，所述序列包括判定：一个顶点是否在通道内部，并且其他顶点中的一个是否在所述通道内在所述通道的第一侧上，并且剩余的顶点是否在所述通道的第二侧上，并且在这种情况下。13.如权利要求12所述的介质，其中，判定包括：标识样本线；标识所述图元...

【专利技术属性】
技术研发人员：T·G·阿凯奈莫勒，J·N·哈塞尔格林，C·J·穆克伯格，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：美国,US