确定被修饰化合物的身份制造技术

使用数据独立采集法获得样本产物离子谱。检索已知化合物的产物离子的已知m/z值。由所述样本产物离子谱生成产物离子XIC。按照保留时间将所述生成的产物离子XIC的XIC峰进行分组。选择一组XIC峰。通过获得所述所选XIC峰组的每个谱中每个单一同位素峰，为所述XIC峰组创建m/z峰列表。从所述m/z峰列表中去除与所述已知m/z值匹配的值。对于所述m/z峰列表中的每个值，计算其与所述已知m/z值的m/z差值。将所述m/z差值分组并对每组中的m/z差值的数量进行计数。如果m/z差值组的计数超过预定计数，那么检测修饰形式。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】确定被修饰化合物的身份相关申请的交叉参考本申请要求2014年11月13日提交的第62/079,048号美国临时专利申请的权益，其全部内容引入于此作为参考。
技术介绍
检测和识别一种已知化合物的修饰形式可用于诸多用途。在蛋白质组学中，检测和识别肽的修饰形式很有用。肽可以有很多修饰形式，一些具有生物学重要性(如磷酸化、甲基化等)，另一些来自实验假象(意想不到的胰蛋白酶产物、甲硫氨酸氧化等)。在药物代谢中，检测和识别施用药物的修饰形式很有用。目标是查找氧化、硫化等代谢反应所引起的施用药物的衍生物形式。在法医研究中，检测和识别滥用药物等已知化合物的修饰形式很有用，其可能表明一种新药。在所有这些情况中，母体化合物及其片段谱是已知的。检测和识别修饰形式的传统方法是信息依赖采集(IDA)法。IDA是一种灵活的串联质谱分析法，在色谱操作期间用户可以指定产生产物离子谱的准则。例如，在IDA方法中要进行前体或质谱(MS)测量扫描以生成前体离子峰列表。用户可以为峰列表上的前体离子子集选择过滤峰列表的准则。然后前体离子子集裂化，就得到产物离子或质谱/质谱(MS/MS)谱。为了检测和识别修饰形式，IDA产生的产物离本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种由串联质谱数据检测样本中已知目标化合物的修饰形式的产物离子的系统，其包括：处理器，其(a)接收多个样本产物离子谱，所述多个样本产物离子谱通过以下产生：用分离装置随时间推移从样本中分离已知化合物，并且在每个时间步骤，用串联质谱仪为所述样本的质量范围内选择的多个前体质量选择窗进行多个产物离子扫描来分析所述已知化合物，(b)从存储器中检索所述已知化合物的至少一种化合物的产物离子的已知质荷比m/z值，(c)由所述多个样本产物离子谱中包含与所述已知m/z值匹配的m/z峰的产物离子谱生成产物离子提取离子色谱图XIC，(d)按照保留时间将所述生成的产物离子XIC的XIC峰分组，产生多个XIC峰组，(e)...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.13 US 62/079,0481.一种由串联质谱数据检测样本中已知目标化合物的修饰形式的产物离子的系统，其包括：处理器，其(a)接收多个样本产物离子谱，所述多个样本产物离子谱通过以下产生：用分离装置随时间推移从样本中分离已知化合物，并且在每个时间步骤，用串联质谱仪为所述样本的质量范围内选择的多个前体质量选择窗进行多个产物离子扫描来分析所述已知化合物，(b)从存储器中检索所述已知化合物的至少一种化合物的产物离子的已知质荷比m/z值，(c)由所述多个样本产物离子谱中包含与所述已知m/z值匹配的m/z峰的产物离子谱生成产物离子提取离子色谱图XIC，(d)按照保留时间将所述生成的产物离子XIC的XIC峰分组，产生多个XIC峰组，(e)选择所述多个XIC峰组中的至少一个XIC峰组，(f)通过获得用于生成所述至少一个XIC峰组的所述XIC峰的每个谱中每个单一同位素峰的m/z值，为所述至少一个XIC峰组创建m/z峰列表，(g)从所述m/z峰列表中去除与所述已知m/z值匹配的m/z值，(h)对于所述m/z峰列表中剩余的每个m/z值，计算所述峰列表m/z值与所述已知产物离子的所述m/z值的每个m/z值之间的m/z差值，产生多个m/z差值，(i)将所述多个m/z差值中具有相同m/z值的m/z差值分成一组，并对每组中的m/z差值的数量进行计数，产生多个m/z差值组，每组包含计数，以及(j)如果所述多个m/z差值组中的m/z差值组的计数超过了预定计数，那么检测在所述m/z差值组的所述m/z值处的所述至少一种化合物的修饰形式的产物离子。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述至少一种化合物包括肽。3.根据权利要求2所述的系统，其中至少一种化合物的产物离子的所述已知m/z值包括b和y离子的m/z值。4.根据权利要求1所述的系统，其中所述至少一种化合物包括施用药物。5.根据权利要求1所述的系统，其中所述至少一种化合物包括滥用药物。6.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器基于所述至少一个XIC峰组的保留时间选择所述至少一个XIC峰组。7.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器进一步为每个生成的XIC峰计算分数。8.根据权利要求7所述的系统，其中所述处理器基于所述至少一个XIC峰组中XIC峰的组合分数选择所述至少一个XIC峰组。9.一种从串联质谱数据检测样本中已知目标化合物的修饰形式的产物离子的方法，其包括：(a)使用处理器接收多个样本产物离子谱，其中所述多个样本产物离子谱通过以下产生：用分离装置随时间推移从样本中分离已知化合物，并且在每个时间步骤，用串联质谱仪为所述样本的质量范围内选择的多个前体质量选择窗进行多个产物离子扫描来分析所述已知化合物；(b)使用所述处理器从存储器中检索所述已知化合物的至少一种化合物的产物离子的已知质荷比m/z值；(c)使用所述处理器由所述多个样本产物离子谱中包含与所述已知m/z值匹配的m/z峰的产物离子谱生成产物离子提取离子色谱图XIC；(d)使用所述处理器按照保留时间将所述生成的产物离子XIC的XIC峰分组，产生多个XIC峰组；(e)使用所述处理器选择所述多个XIC峰组中的至少一个XIC峰组；(f)使用所述处理器，通过获得用于生成所述至少一个XIC峰组的所述XIC峰的每个...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·SH·刘，
申请(专利权)人：DH科技发展私人贸易有限公司，
类型：发明
国别省市：新加坡,SG