静电荷图像显影用调色剂、静电荷图像显影剂和调色剂盒制造技术

技术编号:16037129 阅读:19 留言:0更新日期:2017-08-19 18:08
本发明专利技术提供了一种静电荷图像显影用调色剂,包含:调色剂;以及压缩聚集度为60%至95%且颗粒压缩比为0.20至0.40的二氧化硅颗粒。本发明专利技术还提供了一种包含静电荷图像显影用调色剂的静电荷图像显影剂以及一种容纳有静电荷图像显影用调色剂并且能够从成像装置上拆卸下来的调色剂盒。本发明专利技术的静电荷图像显影用调色剂在带电保持性方面是优异的并且当重复形成图像时,抑制感光体表面上产生成膜现象。

【技术实现步骤摘要】
静电荷图像显影用调色剂、静电荷图像显影剂和调色剂盒
本专利技术涉及电子照相法和静电记录法中用于静电荷图像显影的静电荷图像显影用调色剂、静电荷图像显影剂和调色剂盒。
技术介绍
经静电荷图像使图像信息可视化的方法(例如电子照相术)目前被用在各种领域中。电子照相术为这样一种方法:通过充电和曝光步骤在图像保持部件(感光体)的表面上将图像信息形成为静电荷图像并且随后经显影步骤(其中利用含有调色剂的显影剂在图像保持部件的表面上将图像显影为调色剂图像)、转印步骤(其中将调色剂图像转印至诸如纸之类的记录介质上);以及定影步骤(其中将调色剂图像定影至记录介质表面上)使图像可视化。在此情况下,由于在完成转印步骤后,调色剂颗粒、添加剂和放电产物残留在图像保持部件的表面上,所以通常包括在下一次成像之前的除去它们的清洁步骤。作为除去转印残留的调色剂等的清洁单元,可以提到的方法有:单独用毛刷、磁刷等除去它们的方法,使用通过将弹性材料形成刀片状而获得的部件(清洁刮板)的方法等等。由于方便且价格低廉,通常使用后者,其中将刮板的边缘部与图像保持部件(像汽车的雨刮器)的表面接触并且用图像保持部件的旋转运动收集并刮掉残留的调色剂等。例如,专利文献1公开了“一种成像方法,该方法使用了含有粘结剂树脂和着色剂的调色剂,并且该调色剂是通过将体均粒径为60nm至300nm的经硅油表面改性的二氧化硅颗粒和体均粒径为5nm至25nm的二氧化硅颗粒外部添加至平均圆度为0.95至1.0的着色颗粒而获得的,所述方法包括在静电潜像载体的表面上形成潜像的潜像形成步骤;利用含有调色剂的显影剂使静电潜像载体的表面上已形成的潜像显影,以形成调色剂图像的显影步骤;将静电潜像载体的表面上已形成的调色剂图像转印至转印接收部件的转印步骤;以及将已转印至转印接收部件上的调色剂图像定影的定影步骤,该方法还包括用4g/mm至6.5g/mm的按压压力将由弹性材料组成的清洁刮板按压至潜像载体的表面(该表面为将调色剂图像转印至转印接收部件的表面上之后的表面),以从静电潜像载体的表面上除去残留的调色剂的清洁步骤。”例如,专利文献2公开了“一种调色剂,包含含有粘结剂树脂的调色剂颗粒、二氧化碳颗粒和作为外部添加剂而从外部添加至调色剂颗粒的二氧化硅颗粒,其中该二氧化钛颗粒的一次颗粒的数均粒径(D1)为10.0nm至30.0nm,并且该二氧化碳颗粒的一次颗粒的数均粒径(D1)为4.0nm至15.0nm。”此外,专利文献3公开了“一种可带负电的调色剂,包含通过湿式制粒法制备的调色剂颗粒、第一疏水二氧化硅、第二疏水二氧化硅和作为外部添加剂而从外部添加至调色剂颗粒的疏水二氧化钛,其中第一疏水二氧化硅的平均一次粒径为5nm至18nm,第二疏水二氧化硅的平均一次粒径为18nm至50nm,并且具有比第一疏水二氧化硅的平均一次粒径大的平均一次粒径,疏水二氧化钛的平均一次粒径为10nm至40nm。”[专利文献][专利文献1]JP-A-2007-279607[专利文献2]JP-A-2015-125258[专利文献3]JP-A-2003-202702
技术实现思路
迄今为止,当使用其中将二氧化硅颗粒添加至调色剂颗粒的表面的静电荷图像显影用调色剂(下文也称为“调色剂”)时,降低了带电保持性,并且当重复形成图像时,可能产生调色剂组分被附着至感光体的表面,从而形成膜(下文称为“成膜”)的现象。因此,本专利技术提供了一种静电荷图像显影用调色剂,当与仅具有压缩聚集度(compressiveagglomerationdegree)小于60%或大于95%或颗粒压缩比(particlecompressionratio)小于0.20或大于0.40的二氧化硅颗粒(其作为外部添加剂被添加至调色剂颗粒表面)的调色剂相比时,该静电荷图像显影用调色剂在带电保持性方面是优异的并且当重复形成图像时,抑制感光体表面上产生成膜现象。此外,如上所述,现有技术已知一种静电荷图像显影用调色剂(下文也称为“调色剂”),其中将由二氧化钛颗粒等所示的体积电阻率为1.0×108Ωcm至1.0×1015Ωcm的无机氧化物颗粒和二氧化硅颗粒外部添加至调色剂颗粒。其原因是,在保持高湿度下的电荷赋予能力,同时通过使用具有中等电阻(mediumresistance)的无机氧化物颗粒能够抑制低湿度下的高带电。即使在相同的高温和高湿环境下,当重复形成具有低图像密度的图像时,也降低了显影装置中的相对湿度并且还减少了新调色剂的供给,使得调色剂的高带电变得显著,因此在使用高电阻颗粒的情况下导致密度的降低。另一方面,在包含调色剂和载体的静电荷图像显影中,当从调色剂颗粒中剥离中阻颗粒并转印(附着)至载体的表面时,可以降低载体的带电能力。当通过降低载体的带电能力来降低调色剂的带电量时,可能产生成雾现象(调色剂附着至非图像区域的现象)。特别地,当在高温和高湿环境下重复形成具有高图像密度的图像时,增加了转印至载体的中阻颗粒的量并容易产生成雾现象。因此,当与仅具有压缩聚集度小于60%或大于95%和颗粒压缩比小于0.20或大于0.40的二氧化硅颗粒(其作为外部添加剂被添加至调色剂颗粒和中阻颗粒)的调色剂相比时,本专利技术的优选方面提供了一种抑制产生成雾现象的静电荷图像显影用调色剂,该成雾现象是当在高温和高湿环境下重复形成具有高图像密度的图像时所产生的。本专利技术具有如下构成。[1]一种静电荷图像显影用调色剂,包含:调色剂颗粒;以及具有压缩聚集度为60%至95%的压缩聚集度和且颗粒压缩比为0.20至0.40的颗粒压缩比的二氧化硅颗粒。[2]根据[1]所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述调色剂颗粒的体均粒径为3.0μm至8.0μm。[3]根[1]或[2]所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述二氧化硅颗粒的平均圆当量直径为40nm至200nm。[4]根据[1]至[3]中任一项所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述二氧化硅颗粒的颗粒分散度为90%以上100%以下。[5]根据[1]至[4]中任一项所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述二氧化硅颗粒为利用粘度为1,000cSt至50,000cSt的硅氧烷化合物进行了表面处理的二氧化硅颗粒,并且该二氧化硅颗粒所具有的硅氧烷化合物的表面附着量为0.01质量%至5质量%。[6]根据[5]所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述硅氧烷化合物为硅油。[7]根据[1]至[6]中任一项所述的静电荷图像显影用调色剂,其包含体积电阻率为1.0×108Ωcm至1.0×1015Ωcm的无机氧化物颗粒。[8]根据[7]所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述二氧化硅颗粒的平均圆当量直径大于所述无机氧化物颗粒的平均圆当量直径。[9]根据[7]或[8]所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述无机氧化物颗粒为二氧化钛颗粒。[10]根据[7]至[9]中任一项所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述无机氧化物颗粒的平均圆当量直径为7nm至50nm。[11]根据[1]至[10]中任一项所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述调色剂颗粒包含聚酯树脂。[12]根据[11]所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述聚酯树脂的玻璃化转变温度(Tg)为50℃至80℃。[13]根据[11]或[12]所述的静电荷图像显影用调色剂本文档来自技高网
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静电荷图像显影用调色剂、静电荷图像显影剂和调色剂盒

【技术保护点】
一种静电荷图像显影用调色剂,包含:调色剂颗粒;以及压缩聚集度为60%至95%且颗粒压缩比为0.20至0.40的二氧化硅颗粒。

【技术特征摘要】
2016.02.10 JP 2016-024114;2016.02.10 JP 2016-024141.一种静电荷图像显影用调色剂,包含:调色剂颗粒;以及压缩聚集度为60%至95%且颗粒压缩比为0.20至0.40的二氧化硅颗粒。2.根据权利要求1所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述调色剂颗粒的体均粒径为3.0μm至8.0μm。3.根据权利要求1或2所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述二氧化硅颗粒的平均圆当量直径为40nm至200nm。4.根据权利要求1至3中任一项所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述二氧化硅颗粒的颗粒分散度为90%以上100%以下。5.根据权利要求1至4中任一项所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述二氧化硅颗粒为利用粘度为1,000cSt至50,000cSt的硅氧烷化合物进行了表面处理的二氧化硅颗粒,并且该二氧化硅颗粒所具有的硅氧烷化合物的表面附着量为0.01质量%至5质量%。6.根据权利要求5所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述硅氧烷化合物为硅油。7.根据权利要求1至6中任一项所述的静电荷图像显影用调色剂,其包含体积电阻率为1.0×108Ωcm至1.0×1015Ωcm的无机氧化物颗粒。8.根据权利要求7所述的静电荷图像显影用调色剂,其中所述二氧化硅颗粒的平均圆当量直径大于所述无机氧化物颗粒的平...

【专利技术属性】
技术研发人员:中岛与人奥野广良井上敏司饭田能史钱谷优香惠利祥史岩永猛竹内荣野崎骏介角仓康夫师冈泰久
申请(专利权)人:富士施乐株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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