一种开尔文连接故障检测电路及方法技术

本发明专利技术公开了一种开尔文连接故障检测电路及方法，包括用于开尔文检测电路的被测组件和测试针床，测试针床的四个探针分为两组探触被测组件，开尔文检测电路的两组测试线路分别连接测试针床的两组探针，针床的每一组探针分别连接有一个针床触点连接检测电路，所述针床触点连接检测电路包括一个限制容量的电容，电容通过连接在电容两端的两个换向开关的导向分别形成直流充电回路和放电回路，本发明专利技术采用浮动电容放电进行开尔文故障功能检测，且放电检测过程较短，可以有效的保护被测器件，防止被测器件被打坏，有效的提高了测试安全性和效率。

【技术实现步骤摘要】
一种开尔文连接故障检测电路及方法
本专利技术涉及基本电子电路领域，具体为一种开尔文连接故障检测电路及方法。
技术介绍
开尔文四线检测（KelvinFour-terminalsensing），也被称之为四端子检测（4T检测，4Tsensing）、四线检测或4点探针法，它是一种电阻抗测量技术，使用单独的对载电流和电压检测电极，相比传统的两个终端（2T）传感能够进行更精确的测量。四线开尔文测试的目的是扣除导线电阻带来的压降。一段30cm长导线的等效电阻大概是十毫欧姆到百毫欧姆，如果通过导线的电流足够大（比如是安培级的话），那么导线两端的压降就达到几十到上百mV。如想准确测量负载两端的电压就必须扣除导线电阻带来的压降。但开尔文四线检测必须保证高端和低端的端子在器件端短路，确保四线连接正常，故在进行开尔文检测时，需要进行开尔文故障检测，确保接触的可靠性。现有的开尔文故障检测方式，采用搭接内部环路，检测环路通断是否异常。但开尔文故障检测时通常会连接外接测试器件，现有方法会对器件端造成影响，严重情况下甚至打坏器件。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种开尔文连接故障检测电路及方法，在进行开尔文测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种开尔文连接故障检测电路，包括用于开尔文检测电路的被测组件和测试针床，测试针床的四个探针分为两组探触被测组件，开尔文检测电路的两组测试线路分别连接测试针床的两组探针，其特征在于，针床的每一组探针分别连接有一个针床触点连接检测电路，所述针床触点连接检测电路包括一个限制容量的电容，电容通过连接在电容两端的两个换向开关的导向分别形成直流充电回路和放电回路，所述放电回路包括所述电容，电容串接放电电阻、光电耦合器输入端和所述一组探针，光电耦合器输出端连接信号输出电路，信号输出电路连接一个信号检测仪，通过信号检测仪判断针床触点的连接故障。

【技术特征摘要】
1.一种开尔文连接故障检测电路，包括用于开尔文检测电路的被测组件和测试针床，测试针床的四个探针分为两组探触被测组件，开尔文检测电路的两组测试线路分别连接测试针床的两组探针，其特征在于，针床的每一组探针分别连接有一个针床触点连接检测电路，所述针床触点连接检测电路包括一个限制容量的电容，电容通过连接在电容两端的两个换向开关的导向分别形成直流充电回路和放电回路，所述放电回路包括所述电容，电容串接放电电阻、光电耦合器输入端和所述一组探针，光电耦合器输出端连接信号输出电路，信号输出电路连接一个信号检测仪，通过信号检测仪判断针床触点的连接故障。2.根据权利要求1所述的开尔文连接故障检测电路，其特征在于，所述电容的容量在30至50微法拉，电容充电后的电容两侧电压是3.5至5伏，所述放电电阻是150至200欧姆。3.根据权利要求1所述的开尔文连接故障检测电路，其特征在于，所述开尔文检测电路的两组测试线路分别通过选择开关连接测试针床的两组探针，所述针床触点连接检测电路连接在选择开关的开尔文检测电路的两组测试线路端。4.根据权利要求1或3所述的开尔文连接故障检测电路，其特征在于，在开尔文检测电路的两组测试线路与所述针床触点连接检测电路之间设置有通断关开关。5.一种开尔文连接故障检测方法，包括用于开尔文检测电路的被测组件和测试针床，测试针床的四个探针分为两组探触被测组件，开尔文检测电路的两组测试线路分别连接测试针床的两组探针，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李晨阳，刘惠鹏，姚健，
申请(专利权)人：北京华峰测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11