一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法技术

本发明专利技术公开了一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法，属于微波测试技术领域。本发明专利技术不再通过附带限定条件的近似测试方法，而实现长延时器件在任意测试扫描及分析条件下的时延特性的精确测试，可以针对不同的实际测试应用需求，无需事先预知长延时器件固有时延特性的量级范围，有效解决了长延时器件的时延特性的精确测试与评估问题，以通用化的方式最大限度地满足实际应用的测试需求以及更高的技术要求。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法
本专利技术属于微波测试
，具体涉及一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法。
技术介绍
随着卫星导航、无线通信和物联网等领域相关技术的快速发展与进步，长延时器件的技术体制与组成状态日益复杂，对时延技术特性提出更高的要求，相应地对其特性表征(即对应传输散射参数的准确获取)也呈现出更为迫切的需求，因此给测试技术或相关产品提出更新、更高的技术要求。传统矢量网络分析仪的测试架构与处理技术已不能适应新的测试需求，需要创新提出或形成与应用需求相适应的测试方法与技术。通常状态下，表征长延时器件时延特性的方法是采用矢量网络分析仪测试其时延特性所对应的散射参数，其测试原理是矢量网络分析仪为长延时器件提供一路连续波激励信号，接收带有长延时器件时延特性信息的同频测试信号，经过测试分析处理后，得到表征长延时器件时延技术特性的散射参数。根据实际应用的需求分析，矢量网络分析仪测试表征长延时器件时延技术特性的散射参数存在如下不足：1、由于传统矢量网络分析仪测试长延时器件的信号激励、信号接收及分析处理是仅通过锁相实现同步扫描，各部分之间缺少时序同步测控机制，当本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种适用于长延时器件的散射参数测试电路，包括信号激励单元、本振单元、参考信号接收单元、测试信号接收单元、数字及运算处理单元以及嵌入式计算机，其特征在于，还包括时钟及同步触发单元和基于时间身份映射的数据信息处理单元；信号激励单元，被配置为用于为参考信号接收单元和长延时器件提供不同频率的激励信号；本振单元，被配置为用于为参考信号接收单元和测试信号接收单元提供与不同频率的激励信号相应的本振信号；参考信号接收单元，被配置为用于接收信号激励单元发送的激励信号和本振单元发送的本振信号；测试信号接收单元，被配置为用于接收长延时器件输出的测试信号和本振单元发送的信号；数字及运算处理单元，被配置为用于接收参考信...

【技术特征摘要】
1.一种适用于长延时器件的散射参数测试电路，包括信号激励单元、本振单元、参考信号接收单元、测试信号接收单元、数字及运算处理单元以及嵌入式计算机，其特征在于，还包括时钟及同步触发单元和基于时间身份映射的数据信息处理单元；信号激励单元，被配置为用于为参考信号接收单元和长延时器件提供不同频率的激励信号；本振单元，被配置为用于为参考信号接收单元和测试信号接收单元提供与不同频率的激励信号相应的本振信号；参考信号接收单元，被配置为用于接收信号激励单元发送的激励信号和本振单元发送的本振信号；测试信号接收单元，被配置为用于接收长延时器件输出的测试信号和本振单元发送的信号；数字及运算处理单元，被配置为用于接收参考信号接收单元和测试信号接收单元发送的信号，并信号发送至嵌入式计算机；数字及运算处理单元，被配置为用于接收参考和测试中频信号并对该信号进行数字处理及相应运算，提取出相应参考和测试信号的特性信息即参考和测试信号的幅相信息送至嵌入式计算机进行后续的数据运算及处理；时钟及同步触发单元，被配置为用于为信号激励单元、本振单元、参考信号接收单元、测试信号接收单元以及数字及运算处理单元提供基准同步时钟以及触发信号；基于时间身份映射的数据信息处理单元，被配置为用于对数字及运算处理单元得到的参考和测试信号特性信息进行数据处理，采用“时间标记”和“身份顺序编号”的方式对该特性信息逐一进行“打戳式”标识，与参考中频信号和测试中频信号之间建立唯一的映射关联关系；嵌入式计算机，被配置为用于接收数字及运算处理单元和基于时间身份映射的数据信息处理单元发送的信号；在嵌入式计算机的控制下，信号激励单元产生的激励信号分为两路，一路输入至参考信号接收单元，另一路输入至被测长延时器件；本振单元产生的本振信号分为两路，一路输入至参考信号接收单元，另一路输入至测试信号接收单元；参考信号接收单元接收激励信号和本振信号，以变频的方式产生携带激励信号特性信息的参考中频信号，并将该中频信号输入至数字及运算处理单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭敏，王尊峰，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：山东,37