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本发明公开了一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法，属于微波测试技术领域。本发明不再通过附带限定条件的近似测试方法，而实现长延时器件在任意测试扫描及分析条件下的时延特性的精确测试，可以针对不同的实际测试应用需求，无需事先预知长延时器件...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十一研究所授权不得商用。

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