红外线气体分析装置及其使用方法制造方法及图纸

红外线气体分析装置具备含有测定对象成分的样品气体所流通的测定单元、具有参照气体的比较单元、设置于测定单元和比较单元的一端侧并对测定单元和比较单元分别照射红外线的一对光源、以及设置于测定单元和比较单元的另一端侧并使用由测定单元和比较单元出射的红外线来对测定对象成分进行检测的检测部。在检测部中封入由与测定对象成分不同的成分构成并在测定对象成分的红外吸收带的至少一部分波数下具有红外吸收带的检测用气体。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】红外线气体分析装置及其使用方法
本专利技术涉及红外线气体分析装置及其使用方法。
技术介绍
已知有不使来自红外线光源的红外线按照波数分散而直接对样品气体照射红外线从而对各成分的气体浓度进行测定的非分散红外线吸收法。利用非分散红外线吸收法的气体分析能够迅速地测定气体中所含的各种成分。因此，利用非分散红外线吸收法的分析作为直接测定气体的含有成分的方法被用于各种用途中。对于这样的分析中使用的红外线气体分析装置而言，已知光源的输出的变化、单元和窗的污染等会导致测定误差。为了减小测定误差，在专利文献1中提出了如下方法：除了封入有在测定气体的红外吸收带具有灵敏度的气体的主检测器以外，还设置封入有对测定气体不具有灵敏度的气体的补偿用检测器。通过形成这样的装置构成，进行零点漂移修正来实现测定精度的提高。作为形成红外线气体分析装置的测定误差的其他原因，考虑到其他干涉成分所带来的影响。即，担心会因样品气体的组成而使样品气体中所含的成分彼此的红外线峰的波数重合，测定对象成分的测定精度降低。对于这样的现象，例如，在专利文献2中提出了如下技术：与测定成分的检测器分开地设置干涉成分检测器，并且使用吸收特定波数范围本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种红外线气体分析装置，其具备：含有测定对象成分的样品气体所流通的测定单元、具有参照气体的比较单元、设置于所述测定单元和所述比较单元的一端侧并对所述测定单元和所述比较单元分别照射红外线的一对光源、以及设置于所述测定单元和所述比较单元的另一端侧并使用由所述测定单元和所述比较单元出射的红外线来对所述测定对象成分进行检测的检测部，在所述检测部中封入由与所述测定对象成分不同的成分构成并在所述测定对象成分的红外吸收带的至少一部分波数下具有红外吸收带的检测用气体。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.07.04 JP 2014-1388821.一种红外线气体分析装置，其具备：含有测定对象成分的样品气体所流通的测定单元、具有参照气体的比较单元、设置于所述测定单元和所述比较单元的一端侧并对所述测定单元和所述比较单元分别照射红外线的一对光源、以及设置于所述测定单元和所述比较单元的另一端侧并使用由所述测定单元和所述比较单元出射的红外线来对所述测定对象成分进行检测的检测部，在所述检测部中封入由与所述测定对象成分不同的成分构成并在所述测定对象成分的红外吸收带的至少一部分波数下具有红外吸收带的检测用气体。2.如权利要求1所述的红外线气体分析装置，其中，封入所述检测用气体的所述检测部的内部空间被隔成所述测定单元侧的第一室和所述比较单元侧的第二室，所述检测部基于所述第一室与所述第二室的温度差来对所述测定对象成分进行检测。3.如权利要求1或2所述的红外线气体分析...

【专利技术属性】
技术研发人员：井伊宏文，福井裕也，田中秀二，
申请(专利权)人：宇部兴产株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP