一种光电开关阵列检测装置及设备制造方法及图纸

技术编号:15958740 阅读:41 留言:0更新日期:2017-08-08 09:57
本实用新型专利技术公开了一种光电开关阵列检测装置及设备,包括用于发射出光束以形成第一平行光束组的光发射组件、用于将接收到的第一平行光束组会聚成第二平行光束组的聚光装置、用于将接收到的第二平行光束组散射成第三平行光束组的散射装置、用于接收第三平行光束组的光接收组件以及用于给光发射组件和光接收组件供电的电源端口;聚光装置设置于光发射组件与光接收组件之间,散射装置设置于聚光装置与光接收组件之间;其中,第二平行光束组的横截面的面积小于第一平行光束组的横截面的面积,第三平行光束组的横截面的面积大于第二平行光束组的横截面的面积。本实用新型专利技术还公开了一种光电开关阵列检测设备。本实用新型专利技术的测量分辨率高及测量精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种光电开关阵列检测装置及设备
本技术涉及传感器
,尤其涉及一种光电开关阵列检测装置及设备。
技术介绍
光电开关是以光电器件作为转换元件的传感器,分为光电发射器和光电接收器,它把光电发射器和光电接收器之间光的强弱变化转化为电流的变化以达到探测的目的。光电开关具有非接触、响应快、性能可靠等特点,因此在工业自动化装置和检测控制
中获得广泛应用。现如今,可以将由多个光电开关来组成的光电开关阵列来获取出置于光电开关阵列中的物体的坐标位置。其中,光电开关阵列获取物体坐标位置的工作原理如下:光电发射器与光电接收器一一对应,当光电发射器发射出的光线能被光电接收器接收到时,光电接收器就会产生电信号,当光电发射器发射出的光线不能被光电接收器接收到时,光电接收器就会不产生电信号;因此当不透明物体置于光电开关阵列中后,该物体将遮挡住该区域内的光电发射器所发出的光线,使该区域内的光电接收器接收不到光信号,因此该区域内的光电接收器就不会产生电信号,此时通过相应的检测电路来检测该开关阵列中的电信号的通断状态就可以检测出哪部分的光电发射器与光电接收器之间的光线被该物体遮挡,从而可以获取该物体的坐标位置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电开关阵列检测装置,其特征在于,包括光发射组件、聚光装置、散射装置、光接收组件以及用于给所述光发射组件和所述光接收组件供电的电源端口;所述聚光装置设置于所述光发射组件与所述光接收组件之间,所述散射装置设置于所述聚光装置与所述光接收组件之间;所述光发射组件,包括至少两个光发射元件,用于发射出光束以形成第一平行光束组;所述聚光装置,用于将接收到的所述第一平行光束组会聚成第二平行光束组;其中,所述第二平行光束组的横截面的面积小于所述第一平行光束组的横截面的面积;所述散射装置,用于将接收到的所述第二平行光束组散射成第三平行光束组;其中,所述第三平行光束组的横截面的面积大于所述第二平行光束组的横截...

【技术特征摘要】
1.一种光电开关阵列检测装置,其特征在于,包括光发射组件、聚光装置、散射装置、光接收组件以及用于给所述光发射组件和所述光接收组件供电的电源端口;所述聚光装置设置于所述光发射组件与所述光接收组件之间,所述散射装置设置于所述聚光装置与所述光接收组件之间;所述光发射组件,包括至少两个光发射元件,用于发射出光束以形成第一平行光束组;所述聚光装置,用于将接收到的所述第一平行光束组会聚成第二平行光束组;其中,所述第二平行光束组的横截面的面积小于所述第一平行光束组的横截面的面积;所述散射装置,用于将接收到的所述第二平行光束组散射成第三平行光束组;其中,所述第三平行光束组的横截面的面积大于所述第二平行光束组的横截面的面积;所述光接收组件,包括与所述的至少两个光发射元件对应的至少两个光接收元件,并用于接收所述第三平行光束组。2.根据权利要求1所述的光电开关阵列检测装置,其特征在于,所述聚光装置包括包含有多个第一反射元件的第一反射组和包含有多个第二反射元件的第二反射组,所述第一反射组位于所述第二反射组和所述光发射组件之间,所述第一反射元件的第一反射面与所述第二反射元件的第二反射面一一对应,所述第一反射面与所述光发射元件一一对应且所述第一反射面朝向所述光发射组件的中轴线,所述第一反射面和与其对应的所述第二反射面平行且相对;所述第一反射面与所述中轴线的夹角随所述第一反射面到所述中轴线的距离的减小而依次减小。3.根据权利要求1所述的光电开关阵列检测装置,其特征在于,所述聚光装置包括包含有多个第一反射元件的第一反射组和包含有多个第二反射元件的第二反射组,所述第一反射组位于所述第二反射组和所述光发射组件之间,所述第一反射元件的第一反射面与所述第二反射元件的第二反射面一一对应,所述第一反射面与所述光发射元件一一对应,所述第一反射面和与其对应的所述第二反射面平行且相对;位于同一行或同一列的所述第一反射元件的所述第一反射面平行,并与水平面呈预定的夹角,且所述夹角随所述第一反射面到所述光发射组件的中轴线的距离的减小而依次减小。4.根据权利要求2或3所述的光电开关阵列检测装置,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:石晶
申请(专利权)人:广州杰赛科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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