自动测试通道配置装置及其控制方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种自动测试通道配置装置及其控制方法，具有多个测试通道、记忆模块、第一逻辑运算模块及第二逻辑运算模块。记忆模块具有多个记忆区块，每一个记忆区块具有测试通道其中之一的多个导通状态值。每一个导通状态值关连于一个测试环境。第一逻辑运算模块依据一个记忆区块中的导通状态值和测试环境选择数据，产生第一控制信号。第二逻辑运算模块依据一个记忆区块中的导通状态值和测试环境维持数据，产生第二控制信号。第二逻辑运算模块依据第一控制信号及第二控制信号，产生第一测试通道控制信号，以选择性地导通第一测试通道。

Automatic test channel configuration device and control method thereof

The invention discloses an automatic test channel configuration device and a control method thereof, comprising a plurality of test channels, a memory module, a first logic operation module and a two logic operation module. The memory module has a plurality of memory blocks, each memory block having a plurality of conduction state values of one of the test channels. Each on state value relates to a test environment. The first logic operation module selects the data according to the conduction state value in a memory block and the test environment, and generates a first control signal. The second logic operation module maintains the data according to the conduction state value and the test environment in a memory block, and generates a second control signal. The second logic operation module generates a first test channel control signal according to the first control signal and the two control signal to selectively conduct the first test channel.

【技术实现步骤摘要】
自动测试通道配置装置及其控制方法
本专利技术关于一种自动测试通道配置装置及其控制方法，特别是一种应用于自动测试设备的自动测试设备资源配置方法及其控制方法。
技术介绍
在测试集成电路的领域中，自动测试设备(automatedtestequipment,ATE)被广泛地运用来对受检测的集成电路送出信号，并接收和分析从受测集成电路反馈的信号，来决定受测的集成电路有没有发生功能错误(malfunction)的状况。为了增加集成电路的测试效率和降低测试成本，目前的集成电路测试厂商积极地研究如何能在同一时段中测试更多个待测物(deviceundertest，DUT)，使得自动测试设备分配测试通道的方式越来越重要。此外，当自动测试设备对待测集成电路进行测试时，同一批进行测试的集成电路中，可能会有部分的集成电路需要进行微调。而目前的自动测试设备不具有微调部分或全部集成电路的功能，因此亦增加了集成电路的测试成本。
技术实现思路
本专利技术在于提供一种自动测试通道配置装置及其控制方法，藉以解决现有自动测试设备不具有微调部分或全部待测集成电路的问题。本专利技术所公开的自动测试通道配置装置，电性连接一自动测试设本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动测试通道配置装置，电性连接一自动测试设备与至少一待测物，该自动测试通道配置装置包括：多个测试通道；一记忆模块，包括对应于该些测试通道的多个记忆区块，每一该记忆区块关连于该些测试通道其中之一，每一该记忆区块包括多个导通状态值，每一该导通状态值关连于多个测试环境其中之一；一第一逻辑运算模块，电性连接该记忆模块，用以依据该些记忆区块其中之一储存的该些导通状态值和一测试环境选择数据，产生该些测试通道中的一第一测试通道的一第一控制信号，该测试环境选择数据具有多个选择状态值，每一该选择状态值关连于该些测试环境其中之一；以及一第二逻辑运算模块，电性连接该第一逻辑运算模块，用以依据该些记忆区块其中之一...

【技术特征摘要】
2015.12.23 TW 1041432651.一种自动测试通道配置装置，电性连接一自动测试设备与至少一待测物，该自动测试通道配置装置包括：多个测试通道；一记忆模块，包括对应于该些测试通道的多个记忆区块，每一该记忆区块关连于该些测试通道其中之一，每一该记忆区块包括多个导通状态值，每一该导通状态值关连于多个测试环境其中之一；一第一逻辑运算模块，电性连接该记忆模块，用以依据该些记忆区块其中之一储存的该些导通状态值和一测试环境选择数据，产生该些测试通道中的一第一测试通道的一第一控制信号，该测试环境选择数据具有多个选择状态值，每一该选择状态值关连于该些测试环境其中之一；以及一第二逻辑运算模块，电性连接该第一逻辑运算模块，用以依据该些记忆区块其中之一储存的该些导通状态值和一测试环境维持数据，产生该第一测试通道的一第二控制信号，该测试环境维持数据具有多个状态维持值，每一该状态维持值关连于该些测试环境其中之一，该第二逻辑运算模块依据该第一控制信号及该第二控制信号，产生一第一测试通道控制信号，以选择性地导通该第一测试通道。2.如权利要求1所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第二逻辑运算模块还输出该第一控制信号及该第二控制信号至该自动测试设备，使该自动测试设备依据该第一控制信号及该第二控制信号选择性地维持自该第一测试通道输出的信号。3.如权利要求1所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第二逻辑运算模块包括：多个第一逻辑单元，电性连接至该第一逻辑运算模块，每一该第一逻辑单元用以依据该些导通状态值其中之一与该些状态维持值其中之一决定一测试环境维持信号；以及一第二逻辑单元，电性连接至该些第一逻辑单元，用以依据每一该第一逻辑单元决定的该测试环境维持信号以产生该第一测试通道的该第二控制信号。4.如权利要求3所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第一逻辑运算模块包括：一控制单元，电性连接至该记忆模块，用以从该些记忆区块中读取一第一记忆区块中的该些导通状态值；多个第三逻辑单元，电性连接至该记忆模块，每一该第三逻辑单元用以依据被读取的该些导通状态值其中之一与该些选择状态值其中之一决定一测试环境...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡承豪，朱庆华，张友青，
申请(专利权)人：致茂电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71