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自动测试通道配置装置及其控制方法制造方法及图纸
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文档序号:15937104
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本发明公开了一种自动测试通道配置装置及其控制方法,具有多个测试通道、记忆模块、第一逻辑运算模块及第二逻辑运算模块。记忆模块具有多个记忆区块,每一个记忆区块具有测试通道其中之一的多个导通状态值。每一个导通状态值关连于一个测试环境。第一逻辑运算...
该专利属于致茂电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过致茂电子股份有限公司授权不得商用。
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