支持SISO和MIMO‑OTA的配置水平环的暗室制造技术

本实用新型专利技术公开了一种支持SISO和MIMO‑OTA的配置水平环的暗室。该暗室包括：暗室本体；设置在暗室本体内的多个用于进行MIMO OTA测试的第一探头和用于进行SISO OTA测试的第二探头；设置在暗室本体外的测试设备，测试设备通过通信线缆与第一探头和第二探头电连接；安装在暗室本体内的测试转台，测试转台用于固定进行MIMO OTA测试或SISO OTA测试的待测对象。本实用新型专利技术解决了相关技术中进行MIMO OTA测试和SISO OTA测试的成本较高的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
支持SISO和MIMO-OTA的配置水平环的暗室
本技术涉及电磁测试领域，具体而言，涉及一种支持SISO和MIMO-OTA的配置水平环的暗室。
技术介绍
多输入多输出(即Multiple-InputMultiple-Output，缩写为MIMO)技术已经成为无线通信领域的关键技术，经过近几年的持续发展，MIMO技术被越来越多的应用于无线通讯系统，MIMOOTA(Over-The-Air，空口测试)测试采用多通道输入多通道输出的系统架构，利用了发送和接收天线之间的空间分集技术，由信号衰落和多径环境引起的多信号路径来增加数据吞吐量而无需额外的增加带宽，相比传统的单通道架构SISO(即singleinputsingleoutput)，其系统复杂度增加了许多。SISOOTA测试与MIMOOTA测试的主要不同在于，在测试时，待测物发射或接收信号的工作模式不同，SISOOTA测试是单路轮询的方式发射或接收信号，而MIMOOTA测试是多天线以多个流的方式发射或接收信号。通信行业的OTA测试，需要使用到微波暗室，用于屏蔽外界信号的干扰。标准测试要求暗室至少为4米以上的立方体或长方体结构，常规的办公楼本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种支持SISO和MIMO‑OTA的配置水平环的暗室，其特征在于，包括：暗室本体；设置在所述暗室本体内的多个用于进行MIMO OTA测试的第一探头和用于进行SISO OTA测试的第二探头；设置在所述暗室本体外的测试设备，所述测试设备通过通信线缆与所述第一探头和所述第二探头电连接；安装在所述暗室本体内的测试转台，所述测试转台用于固定进行MIMO OTA测试或SISO OTA测试的待测对象。

【技术特征摘要】
1.一种支持SISO和MIMO-OTA的配置水平环的暗室，其特征在于，包括：暗室本体；设置在所述暗室本体内的多个用于进行MIMOOTA测试的第一探头和用于进行SISOOTA测试的第二探头；设置在所述暗室本体外的测试设备，所述测试设备通过通信线缆与所述第一探头和所述第二探头电连接；安装在所述暗室本体内的测试转台，所述测试转台用于固定进行MIMOOTA测试或SISOOTA测试的待测对象。2.根据权利要求1所述的暗室，其特征在于，所述暗室本体的内壁上形成有环形带，多个所述第一探头和所述第二探头安装在所述环形带上。3.根据权利要求2所述的暗室，其特征在于，所述环形带为水平设置在所述暗室本体的内壁上的环形带。4.根据权利要求3所述的暗室，其特征在于，所述环形带到所述暗室本体的顶部的垂直距离与所述环形带到所述暗室本体的底部的垂直距离相同。5.根据权利要求2所述的暗室，其特征在于，在所述环形带上，任意相邻的两个所述第一探头之间的距离为预设值，其中，所述第二探头安装在相邻的两个所述第一探头之间。6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫冉，于海生，张志华，金磊，
申请(专利权)人：北京中科国技信息系统有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11