一种频谱分析仪的校准方法技术

本发明专利技术涉及一种频谱分析仪的校准方法，包括：确定中频通道电路需校准的频率点；利用每个校准频率点对应的频率，确定每个校准频率点对应的第一本振信号的扫频频率和数控振荡器的扫频频率；每一次校准时，设置第一本振的工作频率和数控振荡器的工作频率；每个校准频率点对应的校准信号依此经过射频前端、中频通道电路、采样之后，输入至所述数控振荡器，经数控振荡器混频处理，将每个校准信号变频至零中频；对每个校准信号对应的零中频信号处理获得校准信号的测量幅度；每个校准信号的测量幅度与实际幅度比较，获得中频通道电路在对应频率点的频率响应；利用中频通道电路在对应频率点的频率响应实现频谱分析仪的校准。

【技术实现步骤摘要】
一种频谱分析仪的校准方法
本专利技术涉及频谱分析仪
，特别涉及一种频谱分析仪的校准方法。
技术介绍
频谱分析仪是一种用来对被测信号进行频谱分析的接收机，可以测量未知信号的频率、幅值、失真等相关参数，通常具有很宽的频率和幅值测量范围。主要应用于基站维护、电子产品研发、生产等领域。频谱分析仪又可称为频域示波器、跟踪示波器、分析示波器、谐波分析器、频率特性分析仪或傅里叶分析仪等。频谱分析仪的主要技术指标有频率范围、分辨力、扫频速度、灵敏度、显示方式和假响应、幅度精度等。如图1所示，为传统的频谱分析仪的工作原理图。输入射频信号经过多次变频将频率较高的信号改变为数字中频模块可处理的低频信号。由于是多次混频，所以必然要求提供多个本振信号。在这一转变过程中，由于混频器本身的特性决定，会产生无用边频及非线性杂散等，为了保证信号频谱的纯度，就需要用滤波器将不需要的信号滤除。如图2所示，改进型频谱分析仪的工作原理图。频谱分析仪100采用超外差式结构，对通过射频前端模块101引入的输入信号、中频通道模块102对其进行多次变频，使之变成中频信号，然后送至包含ADC采样单元、数字中频滤波器单元、检波器单元，控制单元及显示器单元的显示模块103进行输出和显示。在射频前端模块101中，被测信号从输入端口进入，用单刀双掷开关1来选通前端链路104或者选通功率负载2，单刀双掷开关1有可能要承受较大功率，因此经常采用大功率单刀双掷开关或继电器来构成。单刀双掷开关4用于选通将被测信号输入前端链路104还是将校准信号输出单元3接入前端链路104从而进行自校准，校准信号输出单元3通常由频谱分析仪100的内部电路产生。单刀双掷开关5与单刀双掷开关7共同配合选通固定衰减器6是否接入前端链路104。固定衰减器6可以承受较大的输入功率，当用频谱分析仪100测量较大功率的信号时，为了保证混频器13工作在线性区域，需要先将输入信号进行衰减；固定衰减器6通常具有较高的压缩点，以确保到达混频器13的被测信号不会被压缩。步进衰减器8是一个衰减量可调的衰减器，而且具有较宽的衰减范围，可将输入的被测信号继续衰减至混频器13的最佳混频电平。单刀双掷开关9和单刀双掷开关11共同配合选通前置放大器10，前置放大器10用于小信号的测量，当被测量的信号幅值比较小且接近频谱分析仪100的低噪时，打开前置放大器10，将减小前端链路104的噪声系数，即降低了噪声，这样小信号可以被准确的测量。滤波器12是一个低通滤波器，其作用是对混频器13的镜像频率进行抑制。该方案的校准方法是频谱分析仪100对点频的校准信号进行测量，将其通过测量得到的校准信号的幅值与校准信号的实际幅值做差值，显示模块203中的控制单元将所述差值保存起来，在频谱分析仪100以后的测量结果中，自动加上该差值，以减少测量结果的误差。从显示模块103中的数字中频滤波单元后处理的信号是有一定带宽的，信号带宽等于当前设置RBW(分辨率滤波器带宽)，而现有方案的校准方法并不能对中频通道模块电路在RBW带宽内引入的频率响应进行校准，因此中频通道模块电路引入的频率响应平坦度会影响测试信号幅度的准确性(3dB带宽内)，设备幅度测试准确度降低。频谱分析仪100的中频通道模块中的模拟中频滤波器带宽须大于频谱分析仪的最大可设RBW，如1MHz。经过显示模块103中ADC采样、数字中频滤波处理后的信号带宽等于当前设置的RBW带宽。因为数字中频处理的信号并不是理想的单频点信号，而是带宽为RBW的信号，现有方案校准只进行单点校准，并没有考虑中频通道电路在信号带宽内的频率响应平坦度，测得的信号峰值准确度比较高，但是3dB带宽内的幅度与实际值误差可能会较大，无法校准。实时频谱分析仪是同时采样分析带宽内的信号，分析带宽通常较宽，分析带宽内中频通道的频率响应平坦度对测试的准确性影响是无法忽略的，若应用现有方案的校准方法，校准信号须是带宽等于分析带宽的宽带信号。为了完成校准，需要增加宽带信号产生电路作为校准信号源，增加了电路成本，且保证全工作温度范围内宽带校准信号幅度精度高，实现难度也比较大。
技术实现思路
为解决现有技术的问题，本专利技术提出一种频谱分析仪的校准方法，在现有方案电路的基础上可以不增加额外电路就能实现对中频通道电路的带内频率响应进行校准，减小中频通道电路的带内频率响应对幅度测量的影响。为实现上述目的，本专利技术提供了一种频谱分析仪的校准方法，包括：确定中频通道电路需校准的频率点；利用每个校准频率点对应的频率，确定每个校准频率点对应的第一本振信号的扫频频率和数控振荡器的扫频频率；每一次校准时，根据每个校准频率点对应的第一本振信号的扫频频率和所述频谱分析仪的数控振荡器的扫频频率，设置第一本振的工作频率和数控振荡器的工作频率；每个校准频率点对应的校准信号依此经过射频前端、中频通道电路、采样之后，输入至所述数控振荡器，经所述数控振荡器混频处理，将每个校准信号变频成零中频信号；所述频谱分析仪利用每个校准信号对应的零中频信号获得相应校准信号的测量幅度；每个校准信号的测量幅度与实际幅度比较，获得每个校准信号的差值，该差值为中频通道电路在对应频率点的频率响应；利用中频通道电路在对应频率点的频率响应实现频谱分析仪的校准。优选地，所述数控振荡器的扫频频率与所述中频通道电路输出的中频信号的频率相等。上述技术方案具有如下有益效果：本技术方案简单易实现，且不额外增加电路成本，用以校准中频通道电路分析带宽内的频率响应，以减小其对幅度测量准确度的影响。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为传统的频谱分析仪的工作原理图；图2为改进型频谱分析仪的工作原理图；图3为本专利技术提出的一种频谱分析仪的校准方法流程图；图4为本实施例需要校准的频谱分析仪的电路图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本技术方案的工作原理：现有技术通常采用宽带信号作为校准信号的方法，需要增加宽带信号产生电路，增加了电路成本，占用PCB面积也会相应增加，且幅度精准的宽带信号产生电路实现难度也是比较大的。基于此，本技术方案为了校准中频通道的宽带频率响应，没有增加一个宽带的校准信号产生电路，当进行校准时，校准信号不变，第一本振频率和数振荡器频率同步变化，可测试得到校准信号变频至中频通道带内任意位置后进行采样处理的幅度，与校准信号实际幅度值比较得到的差值，保存下来，作为输出该中频频率时中频通道频率响应的校准数据。频谱分析仪进行测量时，自动加上相应的差值。实现频谱分析仪的校准，不需要为了配合校准增加额外的电路。基于上述工作原理，本专利技术提出一种频谱分析仪的校准方法，如图3所示。包括：步骤301)确定中频通道电路需校准的频率点；步骤本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种频谱分析仪的校准方法，其特征在于，包括：确定中频通道电路需校准的频率点；利用每个校准频率点对应的频率，确定每个校准频率点对应的第一本振信号的扫频频率和数控振荡器的扫频频率；每一次校准时，根据每个校准频率点对应的第一本振信号的扫频频率和所述频谱分析仪的数控振荡器的扫频频率，设置第一本振的工作频率和数控振荡器的工作频率；每个校准频率点对应的校准信号依次经过射频前端、中频通道电路、采样之后，输入至所述数控振荡器，经所述数控振荡器混频处理，将每个校准信号变频成零中频信号；所述频谱分析仪利用每个校准信号对应的零中频信号获得相应校准信号的测量幅度；每个校准信号的测量幅度与实际幅度比较，获得每个校准信号的差值，该差值为中频通道电路在对应频率点的频率响应；利用中频通道电路在对应频率点的频率响应实现频谱分析仪的校准。

【技术特征摘要】
1.一种频谱分析仪的校准方法，其特征在于，包括：确定中频通道电路需校准的频率点；利用每个校准频率点对应的频率，确定每个校准频率点对应的第一本振信号的扫频频率和数控振荡器的扫频频率；每一次校准时，根据每个校准频率点对应的第一本振信号的扫频频率和所述频谱分析仪的数控振荡器的扫频频率，设置第一本振的工作频率和数控振荡器的工作频率；每个校准频率点对应的校准信号依次经过射频前端、中频通道电路、采样之后，输入至所述数控振...

【专利技术属性】
技术研发人员：张弘，王悦，王铁军，李维森，
申请(专利权)人：苏州普源精电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32