测试分选机用插件制造技术

本发明专利技术涉及一种测试分选机用插件。本发明专利技术公开一种通过在形成于插件的支撑部件上的开放孔或者形成于防脱突起上的引导槽上形成具有与半导体元件的端子大小相等的半径的引导部而精确设定半导体元件的位置来提高产品可靠性的技术。

Plug-in for test sorter

The invention relates to a plug-in unit for testing sorter. The invention discloses a position through the open hole formed in the support member in the plug-in on or formed with semiconductor element terminals of equal size in the radius of anti off guide groove on the guide protrusion and accurately set the semiconductor element to improve the reliability of products and technology.

【技术实现步骤摘要】
测试分选机用插件本申请是申请日为2013年09月18日、申请号为201310426373.0的专利技术专利申请“测试分选机用插件”的分案申请。
本专利技术涉及一种可用于在测试分选机中装载半导体元件的测试盘的插件。
技术介绍
测试分选机是一种将通过预定的制造工序制造的半导体元件从客户盘(CUSTOMERTRAY)移动到测试盘(TESTTRAY)之后，为使装载于测试盘上的半导体元件能够同时被测试机(TESTER)测试(TEST)而提供支持，且根据测试结果而对半导体元件进行等级分类并从测试盘移动到客户盘的装置，其已被多篇公开文件所公开。测试盘上配备有用于安置半导体元件的插件，对此可参考韩国专利申请10-2012-0089602号(专利技术名称：测试分选机用插件，以下称为现有技术1)或者韩国专利申请10-2012-0107985号(专利技术名称：测试分选机用插件，以下称为现有技术2)等。首先参考现有技术1，形成于支撑部件上的开放孔要具有半导体元件的端子所能充分插入的大小。因此，将开放孔的大小确定为将半导体元件的端子所具有的最大公差、半导体元件端子之间的公差、以及与半导体元件的端子接触的插座之本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试分选机用插件，其特征在于，包括：主体，形成有用于插入半导体元件的插孔；支撑部件，从所述插孔的一侧支撑插入到所述插孔中的半导体元件；固定部件，将所述支撑部件固定于所述主体；闩锁装置，用于将半导体元件保持在所述插孔内，其中，所述支撑部件上形成有用于朝测试机方向开放半导体元件端子的开放孔，以使被所述支撑部件所支撑的半导体元件的端子电连接于测试机侧，所述开放孔中的至少一个特定开放孔形成于当半导体元件立为竖直状态时能够使处于最下侧的端子插入的位置上，以引导并设定半导体元件的端子的位置，据此能够精确设定半导体元件的位置。

【技术特征摘要】
2012.10.26 KR 10-2012-01199841.一种测试分选机用插件，其特征在于，包括：主体，形成有用于插入半导体元件的插孔；支撑部件，从所述插孔的一侧支撑插入到所述插孔中的半导体元件；固定部件，将所述支撑部件固定于所述主体；闩锁装置，用于将半导体元件保持在所述插孔内，其中，所述支撑部件上形成有用于朝测试机方向开放半导体元件端子的开放孔，以使被所述支撑部件所支撑的半导体元件的端子电连接于测试机侧，所述开放孔中的至少一个特定开放孔形成于当半导体元件立为竖直状态时能够使处于最下侧的端子插入的位置上，以引导并设定半导体元件的端子的位置，据此能够精确设定半导体元件的位置。2.如权利要求1所述的测试分选机用插件，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗闰成，刘晛准，黄正佑，
申请(专利权)人：泰克元有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR