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本发明涉及一种测试分选机用插件。本发明公开一种通过在形成于插件的支撑部件上的开放孔或者形成于防脱突起上的引导槽上形成具有与半导体元件的端子大小相等的半径的引导部而精确设定半导体元件的位置来提高产品可靠性的技术。...
该专利属于泰克元有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克元有限公司授权不得商用。

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