一种数控测长仪制造技术

本实用新型专利技术提供一种数控测长仪，包括机架、固定于机架上的移动导轨、光栅尺和测量座，所述的测量座沿移动导轨水平移动，其还包括外辊道量具、内辊道量具，所述的外辊道量具和内辊道量具相互平行，测量座的顶部分别位于内、外辊道量具的下方，承托内外辊道量具；所述的光栅尺位于第一测量座及第二测量座底部，与移动导轨处于同一水平面上。本新型用可更换的活动钢球实现自动定位，用光栅尺作为弓高的测量装置，同时，由PLC闭环定位控制系统驱动步进电机进行精确定位，使高精度步进电机驱动滚珠丝杆系统进行精确定位，实现微米级的定位精度和重复定位精度。而在测量座上的测量挡块通用于内、外滚道量具的标定，能实现磨损小、精度保持性好的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种数控测长仪
本技术属于测量器具领域，具体涉及一种回转支承的测量器具。
技术介绍
回转支承轴承是一种能够承受综合负荷的支承轴承。由于其受力大，所以对滚道的精度要求比较高。现在常用的测量装置存在以下主要问题：一是测量的精度和范围有限；二是比对测量形成累计误差，影响测量精度；三是测量装置体积庞大、造价昂贵。目前，国内回转支承制造生产企业大都采用桥尺测量棒对回转支承内外滚道直径进行检测，桥尺一端固定，一端移动，移动部分连接百分表，由弹簧复位，两端通过钢球与滚道接触，测量前，桥尺在测长仪上校核，确定桥尺的基本尺寸及压力值，即可检测滚道的直径尺寸。此滚道直径检测方案仅能检测滚道直径，且未考虑球形测量装置磨损引起的测量误差，无法检测滚道形状而滚道形状的精度对于回转支承制造精度、装配间隙，甚至是对整车的工作性能、作业安全性、使用寿命等都会产生重要的影响。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题克服现有的缺陷，提供一种方便于对回转支承加工后进行测量的结构。为了解决上述技术问题，本技术提供了如下的技术方案：一种数控测长仪，包括机架、固定于机架上的移动导轨、光栅尺和第一测量座，所述的第一测量座沿移动导轨水平移动，其还包括外辊道量具、内辊道量具和第二测量座，所述的外辊道量具和内辊道量具相互平行，第一测量座的顶部位于外辊道量具的下方，承托外辊道量具，第二测量座设置于移动导轨上且沿移动导轨水平移动，第二测量座的顶部位于内辊道量具的下方，承托内辊道量具，所述的第二测量座位于第一测量座的内侧；所述的光栅尺位于第一测量座及第二测量座底部，与移动导轨处于同一水平面上。作为对上述一种数控测长仪的进一步描述，还包括拖链，所述的拖链与第二测量座相连接，带动第二测量座水平移动。作为对上述一种数控测长仪的进一步描述，第一测量座和第二测量座上分别设有测量挡块，所述的测量挡块中部为凹槽，所述的凹槽与内辊道量具及外辊道量具相应。作为对上述一种数控测长仪的进一步描述，内辊道量具上分别设有一活动球体。本技术有益效果：用可更换的活动钢球实现自动定位，用光栅尺作为弓高的测量装置，同时，由PLC闭环定位控制系统驱动步进电机进行精确定位，使高精度步进电机驱动滚珠丝杆系统进行精确定位，配合光栅尺全闭环测量，实现微米级的定位精度和重复定位精度。而在测量座上的测量挡块可拆卸安装，并且通用于内、外滚道量具的标定，利用该标定能实现磨损小、精度保持性好的优点。附图说明附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。图1是本技术的整体结构立体图；图2是本技术的正面结构图。具体实施方式以下结合附图对本技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本技术，并不用于限定本技术。如图1-图2所示，一种数控测长仪，包括机架1、固定于机架上的移动导轨2、光栅尺3和第一测量座4，所述的第一测量座4沿移动导轨水平移动，其还包括外辊道量具5、内辊道量具6和第二测量座7，所述的外辊道量具和内辊道量具相互平行，第一测量座4的顶部位于外辊道量具的下方，承托外辊道量具，第二测量座设置于移动导轨上且沿移动导轨水平移动，第二测量座的顶部位于内辊道量具6的下方，承托内辊道量具6，所述的第二测量座位于第一测量座4的内侧；所述的光栅尺位于第一测量座4及第二测量座底部，与移动导轨处于同一水平面上。在该结构中，采用内外辊道量具的两层同步测量方式，再结合测量座的精确分离与移动，可以精准地进行移动微调。作为对上述一种数控测长仪的进一步描述，还包括拖链8，所述的拖链8与第二测量座7相连接，带动第二测量座7水平移动。结合高精度步进电机，使用拖链带动第二测量座移动，可以精确地定位第二测量座的位置，同时能方便实现回转两方的测量移动方向变换，以进行测量的调整。作为对上述一种数控测长仪的进一步描述，第一测量座4和第二测量座7上分别设有测量挡块9，所述的测量挡块中部为凹槽91，所述的凹槽91与内辊道量具6及外辊道量具5相应。由该凹槽91可以有效地支撑以及引导内外辊道量具的移动。作为对上述一种数控测长仪的进一步描述，内辊道量具6上分别设有一活动球体61，实现自动定位。本新型的操作过程如下：启动数控测长仪，通过人机界面进行相关系统参数设置及测量要求输入，由PLC闭环定位控制系统驱动步进电机11进行精确定位；然后，高精度步进电机11驱动沿移动导轨进行精确定位，配合光栅尺3全闭环测量，实现微米级的定位精度和重复定位精度，在测量时，通过移动第一测量座4、第二测量座7上的测量挡块即可。测量挡块安装在测量座上，可通用于内、外滚道量具上进行标定。以上为本技术较佳的实施方式，本技术所属领域的技术人员还能够对上述实施方式进行变更和修改，因此，本技术并不局限于上述的具体实施方式，凡是本领域技术人员在本技术的基础上所作的任何显而易见的改进、替换或变型均属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数控测长仪，包括机架、固定于机架上的移动导轨、光栅尺和第一测量座，所述的第一测量座沿移动导轨水平移动，其特征在于：还包括外辊道量具、内辊道量具和第二测量座，所述的外辊道量具和内辊道量具相互平行，第一测量座的顶部位于外辊道量具的下方，承托外辊道量具，第二测量座设置于移动导轨上且沿移动导轨水平移动，第二测量座的顶部位于内辊道量具的下方，承托内辊道量具，所述的第二测量座位于第一测量座的内侧；所述的光栅尺位于第一测量座及第二测量座底部，与移动导轨处于同一水平面上。

【技术特征摘要】
1.一种数控测长仪，包括机架、固定于机架上的移动导轨、光栅尺和第一测量座，所述的第一测量座沿移动导轨水平移动，其特征在于：还包括外辊道量具、内辊道量具和第二测量座，所述的外辊道量具和内辊道量具相互平行，第一测量座的顶部位于外辊道量具的下方，承托外辊道量具，第二测量座设置于移动导轨上且沿移动导轨水平移动，第二测量座的顶部位于内辊道量具的下方，承托内辊道量具，所述的第二测量座位于第一测量座的内侧；所述的光栅尺位于第...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈黎，
申请(专利权)人：东莞共荣精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44