The invention relates to a device and method for detecting liquid refraction rate based on interferometry, belonging to the field of high precision measurement of liquid refractive index, in order to solve the existing technical index rate measuring device to measure the state of matter is required, the measuring range is limited, poor stability, can flexibly adjust the shortcomings on the measurement accuracy and measurement range however, a device and a method for detecting liquid refraction rate based on interferometry. The method includes: pour the solution of known refractive index to first in the transparent container; start the electric birefringence adjusting device for optical signal phase two vertical polarization of the emitted beam of laser difference of the periodic modulation of the light signal, and the synchronization fluctuation photoelectric detector received; the solution is transparent container the replacement for the solution to be tested; the corresponding photoelectric detection device of the same peak point relative displacement; the calculating index of the test solution rate.
【技术实现步骤摘要】
一种基于干涉法的液体折射率检测装置及检测方法
本专利技术涉及一种基于干涉法的液体折射率检测装置及检测方法,属于液体折射率高精度测量领域。
技术介绍
折射率是表征物质光学特性的重要物理参量之一,在生产实践中有重要作用,液体的折射率的测量可帮助人们定量研究液体浓度、温度等参量随环境的变化规律。而对于不同的测量需求,测量精度和测量范围均有所不同。因此,需要设计一种测量精度和测量范围灵活可变的装置,以满足生产实践需求。目前,测量折射率的方法有很多,如阿贝折射计法、分光计法、干涉法等。其中,阿贝折射计法对待测物质的折射率范围有限制,分光计法限定了待测物质只能为固态。而干涉仪法对待测物质没有特殊要求。因此,近年涌现出了大量有关干涉法测折射率的装置。其中最典型的就是马赫曾德尔干涉仪、光纤折射率传感装置。但传统的马赫曾德尔干涉仪稳定性较差,信号漂移对测量准确性造成影响,后续的研究工作者为提高系统稳定性,用光纤结构替换了自由空间光路结构,但这也提高了系统安装的成本,且降低了系统灵活性,不能对测量精度和测量范围进行灵活调节。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决现有技术的折射率测量装置对待测物质的状态有要求,测量范围有限制,稳定性较差,不能对测量精度和测量范围进行灵活调节的缺点,而提出一种一种基于干涉法的液体折射率检测装置及检测方法。一种基于干涉法的液体折射率检测装置,包括:激光器、双折射调制装置、偏振分束镜、基准非偏振分束镜、基准光电探测装置、N组测量单元以及N组扩展光电探测装置,N为正整数,其中:第i组测量单元包括第i非偏振分束镜A、第i非偏振分束镜B、第i非偏振分束镜C ...
【技术保护点】
一种基于干涉法的液体折射率检测装置,其特征在于,包括:激光器、双折射调制装置、偏振分束镜、基准非偏振分束镜、基准光电探测装置、N组测量单元以及N组扩展光电探测装置,N为不小于2的正整数,其中:第i组测量单元包括第i非偏振分束镜A、第i非偏振分束镜B、第i非偏振分束镜C、第i光学补偿版以及高度为L
【技术特征摘要】
1.一种基于干涉法的液体折射率检测装置,其特征在于,包括:激光器、双折射调制装置、偏振分束镜、基准非偏振分束镜、基准光电探测装置、N组测量单元以及N组扩展光电探测装置,N为不小于2的正整数,其中:第i组测量单元包括第i非偏振分束镜A、第i非偏振分束镜B、第i非偏振分束镜C、第i光学补偿版以及高度为Li的第i透明容器;其中i为从1到N-1的正整数;其中,所述激光器用于发射激光,所述激光通过所述双折射调制装置的调制功能入射至基准非偏振分束镜并发生折射和反射,其中反射光由所述基准光电探测装置接收,折射光进入偏振分束镜,并发生折射和反射,其中折射光进入第1组测量单元的第1非偏振分束镜C,反射光进入第1组测量单元的第1非偏振分束镜A;第i非偏振分束镜A用于将入射光折射后进入第i+1非偏振分束镜A,还用于将入射光反射后再经过第i透明容器进入第i非偏振分束镜C并发生折射;第i非偏振分束镜B用于使入射光折射后进入第i+1非偏振分束镜B,还用于使入射光反射后再经过第i光学补偿板进入第i非偏振分束镜C并发生反射;第i透明容器用于呈装已知折射率的液体或待测液体;经过第i非偏振分束镜C反射和折射的光被第i测量单元接收。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述基准光电探测装置包括基准四分之一玻片以及基准光电探测器,入射光经过所述基准四分之一玻片后被所述基准光电探测器接收;以及所述第N组扩展光电探测装置包括第i四分之一玻片以及第i光电探测器,入射光经过所述第i四分之一玻片后被所述第i光电探测器接收。3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第1透明容器、第2透明容器……第N透...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚金任,张宇,王翰韬,
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学,
类型:发明
国别省市:黑龙江,23
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