一种线板结构辐射发射强度的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种线板结构辐射发射强度的检测装置，包括设置于半电波暗室（3）内的测试桌（4），所述测试桌（4）上平铺有金属板（6），所述测试桌（4）上方水平设置有单根线缆（7），所述线缆（7）的始端端口与网络分析仪（8）的端口一连接，所述线缆（7）的终端端口通过短接线（9）与所述金属板（6）相连；所述线缆（7）和金属板（6）组成线板结构，双锥天线（10）接收所述线板结构的辐射，所述双锥天线（10）的输出端口直接输出传输系数或与所述网络分析仪（8）的端口二连接。本实用新型专利技术提供的一种线板结构辐射发射强度的检测装置，装置结构简单、测量结果真实准确。

【技术实现步骤摘要】
一种线板结构辐射发射强度的检测装置
本技术涉及一种线板结构辐射发射强度的检测装置，属于电磁兼容

技术介绍
目前常规的电磁兼容检测和电磁兼容设计之中，线板结构大量存在其中。例如MIL-STD461F关于待测设备的各类检测中常涉及到线板结构。而此种结构是电子设备在低频段（30MHz-200MHz）电磁辐射超标的主要因素之一。故线板结构的辐射发射强度会对整个系统的电磁辐射性能产生潜在的影响，甚至导致系统辐射发射强度超标的情况，因此，对线板结构辐射发射强度的研究和分析是非常重要的。在常见的电子设备和电磁兼容设计之中，经常遇见线板辐射体结构。为了对线板结构辐射体的辐射发射强度进行分析。针对线板结构辐射发射强度常见的测试方法为在一定的功率信号的驱动下，利用距离线板结构的接收天线来测量其辐射出的电磁辐射发射强度。但是，此方法的测量涉及到EMI接收机等众多的测试设备，测试结果受到了环境因素和测试设备的影响，极容易产生误差。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是，提供一种线板结构辐射发射强度的检测装置，该装置结构简单、测量结果真实准确。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：一种线板结构辐射发射强度的检测装置，包括设置于半电波暗室内的测试桌，所述测试桌上平铺有金属板，所述测试桌上方水平设置有单根线缆，所述线缆的始端端口与网络分析仪的端口一连接，所述线缆的终端端口通过短接线与所述金属板相连；所述线缆和金属板组成线板结构，双锥天线接收所述线板结构的辐射，所述双锥天线的输出端口直接输出传输系数或与所述网络分析仪的端口二连接。所述线板结构通过若干接地铜带接地。所述线缆的始端端口和所述双锥天线的输出端口均通过同轴线与所述网络分析仪相连。所述半电波暗室的墙壁上设置有吸波材料。所述线板结构为单线线板结构。所述线缆采用长度1.3m的铜线，所述线缆半径R为1.32mm，所述线缆始端端口和金属板之间添加50Ω离散端口；所述短接线为垂直设置且高度为5cm；在所述线缆的垂直平分线，与线缆水平相距1m和距离所述半电波暗室金属地面1.2m的位置处放置所述双锥天线。所述网络分析仪为Agilent便携式网络分析仪。所述线缆始端端口通过标准SMA接头与端口一连接。一种线板结构辐射发射强度的检测分析方法，包括以下步骤：S01，采用所述线缆始端端口和金属板之间添加50Ω离散端口作为线板结构的驱动信号端口，运用CST建立全波仿真模型并利用50Ω离散端口和双锥天线的端口记录全波仿真模型的电磁仿真结果，所述电磁仿真结果为传输系数一，此时，所述双锥天线的输出端口直接输出传输系数一；S02，采用网络分析仪作为线板结构的驱动信号，通过网络分析仪记录线板结构辐射发射的实际测试结果，所述实际测试结果为传输系数二，此时，线缆的始端端口与网络分析仪的端口一连接，所述双锥天线的输出端口与所述网络分析仪的端口二连接；S03，对比分析传输系数一和传输系数二，如二者差别不大，说明电磁仿真结果真实准确。本技术提供的一种线板结构辐射发射强度的检测装置，主要是为了解决不同参数下的线板结构的辐射发射强度分析的问题。最终考察线缆驱动端口（即始端端口）和双锥天线输出端口之间的传输系数的大小，仿真和测试进行对比分析，使测得的线板结构辐射发射强度的测试结果真实准确，误差小。附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为图1的俯视图；图3为本技术中双锥天线和线缆相对位置的示意图；图4为本技术中双锥天线处于不同极化状态下S21测试与仿真结果图；图5为本技术中线板结构在相同的布置下采用不同长度的线缆的仿真结果对比图；图6为本技术中线缆处于不同高度下S21测试与仿真结果图。具体实施方式下面结合附图对本技术作更进一步的说明。如图1~图3所示，一种线板结构辐射发射强度的检测装置，包括设置于半电波暗室3内的测试桌4，所述测试桌4上平铺有金属板6，所述测试桌4上方水平设置有单根线缆7，所述线缆7的始端端口与网络分析仪8的端口一连接，所述线缆7的终端端口通过短接线9与所述金属板6相连；所述线缆7和金属板6组成线板结构，双锥天线10接收所述线板结构的辐射，所述双锥天线10的输出端口直接输出传输系数或与所述网络分析仪8的端口二连接。所述线板结构通过若干接地铜带11接地。所述线缆7的始端端口和所述双锥天线10的输出端口均通过同轴线12与所述网络分析仪8相连。所述半电波暗室3的墙壁上设置有吸波材料5。所述线板结构为单线线板结构。针对传统方法对线缆7和金属板6组成的线板结构辐射发射强度分析的不足，本技术采用简单二端口网络进行仿真和测试分析。整个仿真模型1和实际测试模块2的布置按照MIL-STD-461F的要求。仿真模型1和实际测试模块2均设置于半电波暗室3内。实际测试模块2包括测试桌4，所述测试桌4上平铺有金属板6，所述测试桌4上方水平设置有单根线缆7，所述线缆7的始端端口与网络分析仪8的端口一连接，所述线缆7的终端端口通过短接线9与所述金属板6相连，用于接收所述线缆7和金属板6组成的线板结构辐射的双锥天线10的输出端口与所述网络分析仪8的端口二连接。仿真模型1包含实际测试模块2所有部分，但不需要所述双锥天线10的输出端口与所述网络分析仪8的端口二连接，而是替换为所述双锥天线10的输出端口直接输出传输系数。本技术提供的一种线板结构辐射发射强度的检测装置，装置结构简单、测量结果真实准确。线缆7采用长度1.3m金属铜线，线缆7始端端口和金属板6之间添加50Ω离散端口，线缆7的终端端口通过短接线9与金属板6连接。此外还在线缆7的垂直平分线，与线缆7水平相距1m和半电波暗室3金属地面1.2m的位置处放置双锥天线10，用于接收线板结构辐射体的辐射发射强度。所述线缆7半径R为1.32mm；所述短接线9为垂直设置且高度为5cm。采用Agilent便携式网络分析仪作为线缆7和金属板6组成的线板结构的驱动信号，双锥天线10接收线缆7和金属板6组成的线板结构产生的辐射发射信号。上述整个装置结构中线缆7的长度，线缆7距离金属板6的高度都是可以变化的。最终考察线缆7驱动端口和双锥天线10输出端口之间的传输系数S21的大小。仿真和测试对比分析结果如图4~图6所示。所述网络分析仪8为Agilent便携式网络分析仪。所述线缆7始端端口通过标准SMA接头与端口一连接。一种线板结构辐射发射强度的检测分析方法，本分析方法采用电磁仿真和实际测试对比分析的方法。电磁仿真运用CST建立全波仿真模型，模型的建立按照MIL-STD461F的要求进行，如图1~图3所示。为了验证电磁仿真的准确性和真实性，进一步采用实验测试（即实际测试）的方法，测试部分包括电磁兼容暗室（即半电波暗室3）、矢量网络分析仪（即网络分析仪8）、同轴线12等。同样实际测试的布置严格按照MIL-STD461F的要求，如图1~图3所示。最终对电磁仿真结果和实际测试结果进行对比，通过分析不同状态下的结果，最终得出线板结构辐射发射强度的结论。实验采用单线线板结构为辐射体，设线缆7的半径为R，距离测试桌4表面金属板6的距离为H，距离桌边边缘距离为L，双锥天线10距离线缆7的距离为D。采用Agilent便携式网络分析仪作为线缆7和金属板6组本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种线板结构辐射发射强度的检测装置，其特征在于，包括设置于半电波暗室（3）内的测试桌（4），所述测试桌（4）上平铺有金属板（6），所述测试桌（4）上方水平设置有单根线缆（7），所述线缆（7）的始端端口与网络分析仪（8）的端口一连接，所述线缆（7）的终端端口通过短接线（9）与所述金属板（6）相连；所述线缆（7）和金属板（6）组成线板结构，双锥天线（10）接收所述线板结构的辐射，所述双锥天线（10）的输出端口直接输出传输系数或与所述网络分析仪（8）的端口二连接。

【技术特征摘要】
1.一种线板结构辐射发射强度的检测装置，其特征在于，包括设置于半电波暗室（3）内的测试桌（4），所述测试桌（4）上平铺有金属板（6），所述测试桌（4）上方水平设置有单根线缆（7），所述线缆（7）的始端端口与网络分析仪（8）的端口一连接，所述线缆（7）的终端端口通过短接线（9）与所述金属板（6）相连；所述线缆（7）和金属板（6）组成线板结构，双锥天线（10）接收所述线板结构的辐射，所述双锥天线（10）的输出端口直接输出传输系数或与所述网络分析仪（8）的端口二连接。2.根据权利要求1所述的一种线板结构辐射发射强度的检测装置，其特征在于：所述线板结构通过若干接地铜带（11）接地。3.根据权利要求1所述的一种线板结构辐射发射强度的检测装置，其特征在于：所述线缆（7）的始端端口和所述双锥天线（10）的输出端口均通过同轴线（12）与所述网络分析仪（8）相连。4.根据权利要求1所述的一种线板结构辐射发射强度...

【专利技术属性】
技术研发人员：万发雨，胡广，许宏炜，
申请(专利权)人：南京信息工程大学，
类型：新型
国别省市：江苏,32