支持EEPROM掉电测试的仿真器制造技术

本发明专利技术公开了一种支持EEPROM掉电测试的仿真器，包括：一EEPROM存储器，一仿真芯片，一机具电源检测模块，一电源模块；所述机具电源检测模块能自动检测接触式或非接触式机具供电情况，在机具供电时，通过复位信号线控制仿真芯片不处于复位状态，即正常工作状态；所述机具电源检测模块通过控制信号控制电源模块经电源线向EEPROM存储器供电；所述机具电源检测模块在机具不供电即发生掉电时，通过复位信号线控制仿真芯片进入复位状态，使仿真芯片不工作；通过控制信号控制电源模块不再经电源线向EEPROM存储器供电，即EEPROM存储器无电源。本发明专利技术能够方便用户程序的开发、调试和测试，提高代码开发效率。

Emulator for supporting EEPROM power down test

The invention discloses a support EEPROM power off testing simulator, including a EEPROM memory, a simulation chip, a machine power detection module, a power module; the equipment power detection module can automatically detect the contact or non-contact power supply equipment, the machine with power supply, not is reset by the reset signal line control chip simulation, namely the normal working state; the equipment power detection module through the control signal to control the power supply module through the power line to the EEPROM memory power supply; the power supply equipment in power supply equipment detection module is not that occurs when the power is off, enter the reset state through the reset signal line control chip, the chip simulation does not work; through the control signal to control the power supply module is no longer the power line to the EEPROM memory EEPROM memory power supply, no power. The invention can facilitate the development, debugging and testing of user programs, and improve the efficiency of code development.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及仿真器领域，特别是涉及一种支持EEPROM(ElectricallyErasableProgrammableRead-OnlyMemory，电可擦可编程只读存储器)掉电测试的仿真器。
技术介绍
处理器芯片内有用户开发的用户程序，在用户程序的编写和调试中，所使用的工具一般是仿真器。仿真器内使用包含产品处理器芯片各项功能的仿真芯片，用于模拟产品处理器芯片的工作行为，仿真芯片与仿真器其他部件(存放用户程序的程序存储器、存放数据的数据存储器，以及用户电脑上的集成开发环境连接等)配合实现用户程序的仿真运行和各项调试功能。对于含有片内EEPROM的智能卡芯片，现有的仿真器设计中，以仿真芯片替代产品芯片，同时考虑到代码调试过程中会有大量正常和异常写EEPROM的操作，而EEPROM的写寿命较短，一般为十万到数十万次，所以为提高仿真器中仿真芯片的使用寿命，现有仿真芯片内采用SRAM(StaticRandomAccessMemory，静态随机存取存储器)来等效替代产品芯片中的EEPROM存储器，并通过增加等效逻辑尽可能做到与真实EEPROM在访问时序上的等效。智能卡芯片是通过接触式触点或非接触式的载波从机具供电的，因此在智能卡操作过程中可能会因为机具的原因突然停止供电，即智能卡掉电。EEPROM具有字节读、写、页擦、页写、片擦等功能，且在页写前，必须先做页擦，如果没有完成页擦或没有擦干净(即全页数据为0)，是无法完成页写的。EEPROM的页擦和片擦耗时相对芯片其他功能的操作时间要长很多，而EEPROM擦写的操作在功能代码中又非常多，在擦写过程中发生智能卡掉电的概率很高。如果在EEPROM擦写过程中发生掉电，就会出现EEPROM数据未擦完、数据错误等异常情况，故而程序代码会对EEPROM擦写操作过程中发生掉电进行保护和数据恢复，保障掉电发生后EEPROM数据的正确性。程序中这部分代码就是掉电保护代码，也需要在仿真器上调试和测试其功能正确性。这就要求仿真器尽可能真实地模拟产品芯片中EEPROM檫写时发生掉电的特性，即EEPROM某一页擦时发生掉电，该页内数据部分擦除、数据错误等数据异常情况，程序就可以对所述发生错误的EEPROM页和错误情况进行处理、恢复和重新操作等。但现有仿真器中，仿真芯片使用SRAM替代EEPROM，而SRAM实际不需要进行擦除就可以写入，也没有页的结构，这就造成了无法模拟产品芯片EEPROM擦写时发生掉电的情况，程序中的掉电保护代码也无法在仿真器上调试和测试。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种支持EEPROM掉电测试的仿真器，能够方便用户程序的开发、调试和测试，提高代码开发效率。为解决上述技术问题，本专利技术的支持EEPROM掉电测试的仿真器，包括：一EEPROM存储器；一仿真芯片，通过标准数据/地址总线与所述EEPROM存储器相连接；对EEPROM存储器进行包括读、写、页擦和片擦在内的所有EEPROM的操作；一机具电源检测模块，通过复位信号线与所述仿真芯片相连接；一电源模块，通过电源线与所述EEPROM存储器相连接，通过控制信号线与所述机具电源检测模块相连接；所述机具电源检测模块能自动检测接触式或非接触式机具供电情况，在机具供电时，通过复位信号线控制仿真芯片不处于复位状态，即正常工作状态；，所述机具电源检测模块通过控制信号控制电源模块经电源线向EEPROM存储器供电；所述机具电源检测模块在机具不供电即发生掉电时，通过复位信号线控制仿真芯片进入复位状态，使仿真芯片不工作；通过控制信号控制电源模块不再经电源线向EEPROM存储器供电，即EEPROM存储器无电源。采用本专利技术的支持EEPROM掉电测试的仿真器，由于使用外置于仿真芯片之外的EEPROM存储器替代产品芯片的EEPROM，随机具掉电该仿真器内仿真芯片同时停止工作，EEPROM存储器也发生掉电。所述仿真器能够真实模拟产品芯片EEPROM擦写时发生掉电的情况，程序中的掉电保护代码可以在仿真器上真实地进行调试和测试。因此，本专利技术方便了用户程序的开发、调试和测试，有助于提高代码开发效率。同时，由于EEPROM存储器是可替换的独立芯片，在EEPROM芯片擦写寿命用完后也可以进行替换，保证了仿真器的整体使用寿命。附图说明下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明：附图是所述支持EEPROM掉电测试的仿真器的结构示意图。具体实施方式如图所示，所述支持EEPROM掉电测试的仿真器1在下面的实施例中，包括仿真芯片2，机具电源检测模块3，电源模块4，EEPROM存储器5。所述仿真芯片2通过标准数据/地址总线7与EEPROM存储器5连接，并通过复位信号线8与机具电源检测模块3连接。所述电源模块4通过电源线6与EEPROM存储器5连接，并通过控制信号线9与机具电源检测模块3连接。EEPROM存储器5是独立芯片，可以替换。在程序调试、测试过程中，所述仿真芯片2能通过标准数据/地址总线7对EEPROM存储器5进行读、写、页擦、片擦等所有EEPROM的操作，完全可以模拟产品芯片中对EEPROM的各种操作。所述机具电源检测模块3能自动检测接触式或非接触式机具供电情况，在机具供电时，所述机具电源检测模块3通过复位信号线8控制仿真芯片2不处于复位状态(正常工作状态)，同时电源检测模块3通过控制信号9控制电源模块4经电源线6向EEPROM存储器5供电，此时仿真芯片2可以正常执行程序，操作EEPROM存储器5和仿真芯片2内的各个功能模块。在机具不供电时(发生掉电)，所述机具电源检测模块3通过复位信号线8控制仿真芯片2进入复位状态(仿真芯片不工作)，通过控制信号9控制电源模块4不再经电源线6向EEPROM存储器5供电，即EEPROM存储器5无电源。此时仿真芯片2不能工作也不能执行程序，模拟了产品芯片发生掉电后的状态，如果机具掉电发生在EEPROM存储器5执行页擦或片擦过程中，由于随机具掉电，机具电源检测模块3也同时控制电源模块4不再向EEPROM存储器5供电，EEPROM存储器就非常真实地模拟出了产品芯片在页擦、片擦时发生掉电的情况。这样，采用本专利技术的仿真器就能够真实模拟产品芯片EEPROM擦写时发生掉电的情况，程序中的掉电保护代码可以在仿真器上真实地进行调试和测试了。以上通过具体实施方式对本专利技术进行了详细的说明，但这些并非构成对本专利技术的限制。在不脱离本专利技术原理的情况下，本领域的技术人员还可做出许多变形和改进，这些也应视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种支持EEPROM掉电测试的仿真器，其特征在于，包括：一EEPROM存储器；一仿真芯片，通过标准数据/地址总线与所述EEPROM存储器相连接；对EEPROM存储器进行包括读、写、页擦和片擦在内的所有EEPROM的操作；一机具电源检测模块，通过复位信号线与所述仿真芯片相连接；一电源模块，通过电源线与所述EEPROM存储器相连接，通过控制信号线与所述机具电源检测模块相连接；所述机具电源检测模块能自动检测接触式或非接触式机具供电情况，在机具供电时，通过复位信号线控制仿真芯片不处于复位状态，即正常工作状态；所述机具电源检测模块通过控制信号控制电源模块经电源线向EEPROM存储器供电；所述机具电源检测模块在机具不供电即发生掉电时，通过复位信号线控制仿真芯片进入复位状态，使仿真芯片不工作；通过控制信号控制电源模块不再经电源线向EEPROM存储器供电，即EEPROM存储器无电源。

【技术特征摘要】
1.一种支持EEPROM掉电测试的仿真器，其特征在于，包括：一EEPROM存储器；一仿真芯片，通过标准数据/地址总线与所述EEPROM存储器相连接；对EEPROM存储器进行包括读、写、页擦和片擦在内的所有EEPROM的操作；一机具电源检测模块，通过复位信号线与所述仿真芯片相连接；一电源模块，通过电源线与所述EEPROM存储器相连接，通过控制信号线与所述机具电源检测模块相连接；所述机具电源检测模块能自动检测接触式或非接触式机具供电情况，在机具供电时，通过复位信号线控制仿真芯片不处于复位状态，即正常工作状态；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：许国泰，
申请(专利权)人：上海华虹集成电路有限责任公司，
类型：发明
国别省市：上海;31