一种继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪电路，其特征在于：其包括整流桥，光耦，第一电阻和第二电阻；整流桥的第一引脚与光耦中的发光二极管正端之间设有第一电阻；整流桥的第二引脚连接所述光耦中的发光二极管负端；所述光耦的发射极接地，且所述光耦的集电极连接第二电阻。本实用新型专利技术的有益效果：本实用新型专利技术器硬件增加零点释放检测回路、软件中增加了继电器机械释放时间跟踪调整。闭环控制，当继电器机械释放时间发生改变时能进行有效调整可彻底防电弧。

Relay release arc zero release delay dynamic tracking circuit

The utility model discloses a relay release anti arc zero release delay dynamic tracking circuit, which comprises a rectifier bridge, optocoupler, the first resistor and the second resistor; the first resistor is arranged between the light emitting diode bridge rectifier and the first PIN OPTOCOUPLER in the positive terminal of the rectifier bridge; second pin is connected with a light emitting diode negative terminal the optical coupler; the coupler of the ground emitter, and the collector is connected with the second resistance. The utility model has the advantages that the hardware of the utility model is added with a zero release detection circuit, and the software is provided with the mechanical release time tracking and adjusting of the relay. Closed loop control, when the mechanical release time of the relay can be effectively adjusted to prevent arc.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪电路。
技术介绍
本部分中的陈述仅仅提供了与本专利技术公开的内容有关的背景信息，且可能不构成现有技术。继电器释放的机械延时存在不确定性，在有负载的情况下，继电器机械释时间放会大于空载时的机械释放时间，且根据负载大小不一样、使用次数变多、使用时间变长，继电器机械释放时间都会改变。现有技术存在缺陷为：其为开环控制，当继电器机械释放时间发生改变时不能进行有效调整，无法真实的防电弧。故现有技术有待改进和发展。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种闭环控制的继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪电路。本技术的技术解决方案是：一种继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪电路，其包括整流桥，光耦，第一电阻和第二电阻；整流桥的第一引脚与光耦中的发光二极管正端之间设有第一电阻；整流桥的第二引脚连接所述光耦中的发光二极管负端；所述光耦的发射极接地，且所述光耦的集电极连接第二电阻。作为优选，所述整流桥为DB107。作为优选，所述光耦为TLP521-1。进一步，还包括用于判定继电器是否在零点释放的单片机。更进一步还包括交流零点检测电路。该交流零点检测电路包括依次连接的二极管，第三电阻，第二光耦，以及第四电阻；第二光耦的第一引脚连接第三电阻，第三引脚接地，第四引脚连接第四电阻。本技术的有益效果：本技术器增加零点释放检测回路、软件中增加了继电器机械释放时间跟踪调整。闭环控制，当继电器机械释放时间发生改变时能进行有效调整可彻底防电弧。附图说明图1为现有技术中常规继电器控制电路；图2为本技术交流零点检测电路；图3为本技术继电器输出检测电路图；图4为现有技术控制方法方框图；图5为本技术控制方法步骤方框图。具体实施方式实施例：参阅图1至图3，一种继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪电路，其包括整流桥，光耦，第一电阻和第二电阻；整流桥的第一引脚与光耦中的发光二极管正端之间设有第一电阻；整流桥的第二引脚连接所述光耦中的发光二极管负端；所述光耦的发射极接地，且所述光耦的集电极连接第二电阻。作为优选，所述整流桥为DB107。作为优选，所述光耦为TLP521-1。进一步，还包括用于判定继电器是否在零点释放的单片机。更进一步还包括交流零点检测电路。该交流零点检测电路包括依次连接的二极管，第三电阻，第二光耦，以及第四电阻；第二光耦的第一引脚连接第三电阻，第三引脚接地，第四引脚连接第四电阻。参阅图4-图5另外本技术还公开了一种继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪控制方法，包括以下步骤，S1，标定一个初始的继电器机械释放时间T10；S2，采集到交流市电零位后进行延时释放继电器操作，延时时间T2，T10+T20＝交流周期；S3，延时T2后进行释放操作，继电器零点释放，负载断开；S4，通过回路检查判断确认继电器是否在零点释放；S5，如继电器是在零点释放则重复S3；如如继电器不是在零点释放，则更改继电器时间标定值T10。S5中如果检查到继电器释放时间大于理论的T10+T20，则更改增大标定的继电器机械释放时间T10至T11，下次释放时进行减小延时释放操作T20至T21，使T11+T21＝交流整周期。S5中如果检查到继电器释放时间小于理论的T10+T20，则更改减小出厂标定的继电器机械释放时间T10至T12，下次释放时进行增大延时释放操作T20至T22，使T12+T22＝交流整周期。所述回路中设有单片机，且通过单片机对继电器是否在零点释放进行判定。所述S4中的回路为继电器输出检测电路，前述单片机设于继电器输出检测电路中。所述S2中设有交流零点检测电路。具体来说：本专利技术在现有技术的基础上增加继电器零点释放的回路检查与动态跟踪。即零点释放回路检查在软件上确认继电器是否在零点释放，继电器释放时间如果发生改变则进行软件跟踪调节，如果检查到继电器释放时间大于理论的T10+T20，则软件上进行以下调整：更改增大出厂标定的继电器机械释放时间T10至T11，下次释放时进行减小延时释放操作T20至T21，使T11+T21＝交流整周期；如果检查到继电器释放时间小于理论的T10+T20，则软件上进行以下调整：更改减小出厂标定的继电器机械释放时间T10至T12，下次释放时进行增大延时释放操作T20至T22，使T12+T22＝交流整周期。由此形成闭环控制，当继电器机械释放时间发生改变时能进行有效调整可彻底防电弧。在本说明书的描述中，术语“一个实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪电路，其特征在于：其包括整流桥，光耦，第一电阻和第二电阻；整流桥的第一引脚与光耦中的发光二极管正端之间设有第一电阻；整流桥的第二引脚连接所述光耦中的发光二极管负端；所述光耦的发射极接地，且所述光耦的集电极连接第二电阻。

【技术特征摘要】
1.一种继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪电路，其特征在于：其包括整流桥，光耦，第一电阻和第二电阻；整流桥的第一引脚与光耦中的发光二极管正端之间设有第一电阻；整流桥的第二引脚连接所述光耦中的发光二极管负端；所述光耦的发射极接地，且所述光耦的集电极连接第二电阻。2.根据权利要求1所述的继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪电路，其特征在于：所述整流桥为DB107。3.根据权利要求1所述的继电器释放防拉弧零点释放延时动态跟踪电路，其特征在于：所述光耦为TLP...

【专利技术属性】
技术研发人员：江世，陈禹生，俞孝锋，许智靖，
申请(专利权)人：浙江新涛电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33