一种高速读写RAM的接口电路及方法技术

技术编号:15191876 阅读:134 留言:0更新日期:2017-04-20 09:53
本发明专利技术介绍一种高速读写RAM的接口电路及方法,涉及到芯片仿真调试领域。本发明专利技术实现一个从设备的并行读写接口,包括数据总线和控制信号,控制信号包括时钟信号、读写信号、命令使能信号,接口电路包括IO接口模块、寄存器控制模块、RAM接口模块3部分组成,支持三种操作:配置地址操作、连续读RAM操作、连续写RAM操作。芯片仿真器通常采用RAM来仿真芯片的FLASH、EEPROM、ROM、RAM等存储器,本发明专利技术设计一种高速读写RAM的接口电路,可以加快芯片程序调试速度,提升开发效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种数据并行读写的接口电路,主要应用于芯片仿真调试领域,特别涉及高速读写RAM的接口电路及方法
技术介绍
对于智能卡芯片,通常采用RAM来仿真芯片的FLASH、EEPROM、ROM、RAM等存储器,仿真芯片的调试接口对RAM的读写速度直接影响到调试速度。调试接口在仿真器中常采用JTAG、UART等串行接口实现,这些串行接口数据访问速度慢,对大容量存储器数据的访问速度需要提升。为实现动态、实时访问芯片存储器,有必要设计独立于CPU和存储器之间的读写通道,以方便仿真和快速调试。为解决此问题,本专利技术设计一种高速读写RAM的并行接口电路并提出实现。
技术实现思路
本专利技术所解决的技术问题是,如何设计一种高速读写RAM的接口电路。本专利技术采用多根数据总线的并行接口,在一个时钟周期可以读出更多的数据。本专利技术的接口电路,实现一个从设备的并行接口,包括数据总线IO_DATA和3个控制信号。数据总线信号个数(即数据总线位宽),建议为字节的整数倍,根据实际电路接口信号线IO个数来确定,数据总线位宽越宽,对RAM读写速度越快,但对IO数要求越高。控制信号包括时钟信号I_CLK、读写信号I_R/W_n、命令使能信号I_CMD3个信号,与数据总线一起,通过特定的时序实现对RAM的高速访问。所述的接口电路包括:IO接口模块、寄存器控制模块、RAM接口模块三部分;各组件功能说明如下:IO接口模块,在读写信号I_R/W_n控制下实现IO_DATA的输入和输出功能,产生输入数据i_data和输出数据o_data;寄存器控制模块,实现对模式寄存器sfr_mode、高位地址寄存器sfr_addr_h、低位地址寄存器sfr_addr_l三个寄存器的写操作;模式寄存器用于记录当前的工作模式,高位地址寄存器存储访问RAM的高位地址,并产生RAM选择信号,实现对多块RAM的选择访问,低位地址寄存器存储访问RAM的低位地址,RAM的高位地址和RAM的低位地址一起组成访问RAM的地址信号ram_addr;设置sfr_mode要求在一个时钟周期完成,sfr_mode的长度不能大于数据总线IO_DATA位宽;sfr_addr_h和sfr_addr_l的长度,建议为字节的整数倍,例如设计为16bit,组成32bit地址ram_addr,可能访问4G的RAM容间,在一个或多个时钟周期完成这两个寄存器的设置。RAM接口模块,包括:时序接口模块,片选ram_ceb,地址ram_addr与数据ram_dout的选择逻辑,产生读写RAM接口的信号时序,实现对多个RAM的选择操作,并将读到的数据ram_dout通过IO接口模块输出到数据总线IO_DATA;各组件连接关系如下:I_R/W_n连接到IO接口模块,I_CLK、I_R/W_n、I_CMD连接到寄存器控制模块,I_CLK、I_R/W_n连接到RAM接口模块,IO接口模块输出的i_data连接到寄存器控制模块,IO接口模块输入的o_data连接到RAM接口模块;寄存器控制模块产生sfr_mode和通过I_CMD选择i_data产生的ram_data与RAM接口模块中的时序接口模块相连,寄存器控制模块产生sfr_addr_h、sfr_addr_l连接到RAM接口模块。本专利技术的接口电路,实现3种操作方式:配置地址操作、连续读RAM操作、连续写RAM操作。配置地址操作用于设置高位地址寄存器sfr_addr_h;连续读RAM操作和连续写RAM操作用于实现对RAM的读写。连续读RAM操作和连续写RAM操作,要先设置低位地址寄存器sfr_addr_l,再进行对RAM的连续读或写操作,每进行一次读或写操作,sfr_addr_l的值自动加一,而sfr_addr_h保持不变,sfr_addr_h只能通过配置地址操作改写。高位地址寄存器sfr_addr_h有两个功能,一个功能是产生RAM选择信号,在写RAM操作时选中一块或多块RAM,支持对多块RAM同时写相同数据的操作,在读RAM操作时每次只能选中一块RAM,通过更改高位地址寄存器实现对所有RAM轮询操作;;另一个功能是产生RAM的高位地址,将RAM操作的高位地址固定,连续读RAM操作和连续写RAM操作实现对低位地址存储空间的读写操作,不用频繁设置高位地址节省通讯和操作的时间。。本专利技术的接口电路,实现4种工作模式:ADDR模式、MEMRD模式、MEMWR模式、IDLE模式,当I_R/W_n为低电平且I_CMD为高电平时,在I_CLK上升沿将输入数据i_data写入模式寄存器sfr_mode实现模式切换。ADDR模式下执行“配置地址操作”,MEMRD模式下执行“连续读RAM操作”,MEMWR模式下执行“连续写RAM操作”,IDLE模式用于停止“连续读RAM操作”和停止“连续写RAM操作”,以便开始另一种操作方式。本专利技术的接口电路,实现一个带有时钟信号I_CLK的并行接口,在每一个I_CLK周期完成一次对RAM的读或写操作,支持连续读和连续写操作,通过调整I_CLK的频率和数据总线IO_DATA的位宽提升对RAM的读写速度。本专利技术的接口电路,实现一个带有读写信号I_R/W_n的并行接口,由主设备控制I_R/W_n通过IO接口模块实现IO_DATA读写操作,通讯过程不会产生IO_DATA上的电平冲突。I_R/W_n高电平表示读操作,低电平表示写操作,只有在“连续读RAM操作”读数据的周期I_R/W_n才会出现高电平。在I_CLK的下降沿I_R/W_n变为高电平,紧临的I_CLK的上升沿读取数据;主设备完成所有数据读出后,将I_R/W_n在I_CLK的下降沿设为低电平,之后接口电路停止对RAM的读操作。本专利技术的接口电路,实现一个带有命令使能信号I_CMD的并行接口,在I_R/W_n为低电平时,I_CLK采集I_CMD由高变低后才能启动一次操作;当I_R/W_n为低电平且I_CMD为高电平时,在I_CLK上升沿修改sfr_mode会终止当前的操作。本专利技术的一种高速读写RAM的方法,应用于本专利技术的接口电路,实现如下操作1)按以下步骤实现配置地址操作:步骤1,工作模式设置为ADDR模式;步骤2,按sfr_addr_h的数据长度分多次连续输入高位地址,要求先写入高字节,当最后一次写入后,sfr_addr_h自动更新,此后再输入数据无效。2)按以下步骤实现连续读RAM操作:步骤1,工作模式设置为MEMRD模式;步骤2,按sfr_addr_l的数据长度分多次连续输入低位地址,要求先写入高字节;步骤3,连续读出RAM数据;步骤4,工作模式设置为IDLE模式,终止当前操作。3)按以下步骤实现连续写RAM操作:步骤1,工作模式设置为MEMWR模式;步骤2,按sfr_addr_l的数据长度分多次连续输入低位地址,要求先写入高字节;步骤3,连续向RAM写入数据;步骤4,工作模式设置为IDLE模式,终止当前操作。附图说明图1是高速读写RAM的接口电路结构图。图2是配置地址操作时序图。图3是连续读RAM操作时序图。图4是连续写RAM操作时序图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术接口电路进行详细说明。如图1所示,接口电路实现一个并行接口,包括3个输入控制信号I_CLK、I本文档来自技高网...
一种高速读写RAM的接口电路及方法

【技术保护点】
一种高速读写RAM的接口电路,其特征在于此电路实现一个从设备的并行接口,包括数据总线IO_DATA和控制信号,其中控制信号包括时钟信号I_CLK、读写信号I_R/W_n、命令使能信号I_CMD,所述的接口电路包括:IO接口模块、寄存器控制模块、RAM接口模块3部分;各组件功能说明如下:IO接口模块,在读写信号I_R/W_n控制下实现IO_DATA的输入和输出功能,产生输入数据i_data和输出数据o_data;寄存器控制模块,实现对模式寄存器sfr_mode、高位地址寄存器sfr_addr_h、低位地址寄存器sfr_addr_l三个寄存器的写操作;模式寄存器用于记录当前的工作模式,高位地址寄存器存储访问RAM的高位地址,并产生RAM选择信号,实现对多块RAM的选择访问,低位地址寄存器存储访问RAM的低位地址,RAM的高位地址和RAM的低位地址一起组成访问RAM的地址信号ram_addr;RAM接口模块,时序接口模块,片选ram_ceb、地址ram_addr与数据ram_dout的选择逻辑,产生读写RAM接口的信号时序,实现对多个RAM的选择操作,并将读到的数据ram_dout通过IO接口模块输出到数据总线IO_DATA;各组件连接关系如下:I_R/W_n连接到IO接口模块,I_CLK、I_R/W_n、I_CMD连接到寄存器控制模块,I_CLK、I_R/W_n连接到RAM接口模块,IO接口模块输出的i_data连接到寄存器控制模块,IO接口模块输入的o_data连接到RAM接口模块;寄存器控制模块产生sfr_mode和通过I_CMD选择i_data产生的ram_data与RAM接口模块中的时序接口模块相连,寄存器控制模块产生sfr_addr_h、sfr_addr_l连接到RAM接口模块。...

【技术特征摘要】
1.一种高速读写RAM的接口电路,其特征在于此电路实现一个从设备的并行接口,包括数据总线IO_DATA和控制信号,其中控制信号包括时钟信号I_CLK、读写信号I_R/W_n、命令使能信号I_CMD,所述的接口电路包括:IO接口模块、寄存器控制模块、RAM接口模块3部分;各组件功能说明如下:IO接口模块,在读写信号I_R/W_n控制下实现IO_DATA的输入和输出功能,产生输入数据i_data和输出数据o_data;寄存器控制模块,实现对模式寄存器sfr_mode、高位地址寄存器sfr_addr_h、低位地址寄存器sfr_addr_l三个寄存器的写操作;模式寄存器用于记录当前的工作模式,高位地址寄存器存储访问RAM的高位地址,并产生RAM选择信号,实现对多块RAM的选择访问,低位地址寄存器存储访问RAM的低位地址,RAM的高位地址和RAM的低位地址一起组成访问RAM的地址信号ram_addr;RAM接口模块,时序接口模块,片选ram_ceb、地址ram_addr与数据ram_dout的选择逻辑,产生读写RAM接口的信号时序,实现对多个RAM的选择操作,并将读到的数据ram_dout通过IO接口模块输出到数据总线IO_DATA;各组件连接关系如下:I_R/W_n连接到IO接口模块,I_CLK、I_R/W_n、I_CMD连接到寄存器控制模块,I_CLK、I_R/W_n连接到RAM接口模块,IO接口模块输出的i_data连接到寄存器控制模块,IO接口模块输入的o_data连接到RAM接口模块;寄存器控制模块产生sfr_mode和通过I_CMD选择i_data产生的ram_data与RAM接口模块中的时序接口模块相连,寄存器控制模块产生sfr_addr_h、sfr_addr_l连接到RAM接口模块。2.根据权利要求1所述的一种高速读写RAM的接口电路,其特征在于实现3种操作方式:配置地址操作、连续读RAM操作和连续写RAM操作,其中,配置地址操作用于设置高位地址寄存器sfr_addr_h;连续读RAM操作和连续写RAM操作用于实现对RAM的读写;连续读RAM操作和连续写RAM操作,要先设置低位地址寄存器sfr_addr_l,再进行对RAM的连续读或写操作,每进行一次读或写操作,sfr_addr_l的值自动加一。3.根据权利要求1所述的一种高速读写RAM的接口电路,其特征在于实现高位地址寄存器,高位地址寄存器有两个功能,一个功能是产生RAM选择信号,在写RAM操作时选中一块或多块RAM,支持对多块RAM同时写相同数据的操作,在读RAM操作时每次只能选...

【专利技术属性】
技术研发人员:张洪波张晋文赵满怀
申请(专利权)人:北京中电华大电子设计有限责任公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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