本发明专利技术提供一种适用于自动检测机的检测触发机构，其中所述检测触发机构为光电开关(1)的结构形式，且所述光电开关(1)包括用于发射信号的发射器(11)和用于接收所述发射器(11)发射的信号的接收器(12)，以及与所述发射器(11)和所述接收器(12)均电连接的用于传递电信号的检测电路，其中，所述光电开关(1)为聚光型光电开关的结构形式。通过本发明专利技术的检测触发机构，能够实现对被检测部件进行准确定位、对多个细小的检测部件尤其是多个螺丝实现一对一精确触发的作用和效果；本发明专利技术的检测触发机构既能用于分度盘机构的检测机上、还能用于直线导轨机构的检测机上。本发明专利技术还涉及具有该检测触发机构的自动检测机。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于检测
，具体涉及一种适用于自动检测机的检测触发机构及具有其的自动检测机。
技术介绍
现有技术中目前应用于智能自动螺丝检测机上的触发机构主要有伺服电机触发、光纤触发。伺服电机触发主要应用于分度盘机构，难以应用在直线导轨机构的检测机上；光纤触发可用于直线导轨机构的检测机，但是无法良好聚光，当一排螺丝直线滑动时，光会分散地打到几个螺丝上，无法准确定位，无法一对一精确触发。由于现有技术中的用于智能自动螺丝检测机上的触发机构由于存在无法用于直线导轨机构上、且还能准确定位、满足一对一精确触发的技术问题，因此本专利技术研究设计出一种适用于自动检测机的检测触发机构及具有其的自动检测机。
技术实现思路
因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的用于智能自动检测机上的触发机构由于存在无法对被检测部件准确定位、对多个细小的检测部件无法实现一对一精确触发的缺陷，从而提供一种适用于自动检测装置的检测触发机构及具有其的自动检测机。本专利技术提供一种适用于自动检测机的检测触发机构，其中所述检测触发机构为光电开关的结构形式，且所述光电开关包括用于发射信号的发射器和用于接收所述发射器发射的信号的接收器、以及与所述发射器和所述接收器均电连接的用于传递电信号的检测电路，其中，所述光电开关为聚光型光电开关的结构形式。优选地，所述光电开关为对射式，所述发射器和所述接收器布置成使得从所述发射器发出的光在无障碍物遮挡时能够被所述接收器接收到、从所述发射器发出的光经过障碍物遮挡后不能被所述接收器接收到的结构形式。优选地，所述发射器和所述接收器间隔一定距离而设置，且所述发射器的发射面与所述接收器的接收面成相对地设置。优选地，所述光电开关为反射式，所述发射器和所述接收器布置成使得从所述发射器发出的光经过障碍物反射后能够被所述接收器接收到、从所述发射器发出的光在无障碍物遮挡时不能被所述接收器接收到的结构形式。优选地，所述发射器和所述接收器为同一单个部件，且所述发射器的发射面与所述接收器的接收面位于同一面上。本专利技术还提供一种自动检测机，其包括前述的检测触发机构，通过所述检测触发机构输出触发信号对被检测部件进行检测。优选地，还包括与所述检测触发机构之间电信号连接的控制器，和与所述控制器之间电信号连接的拍摄装置。优选地，所述被检测部件位于导向运输机构上，且所述导向运输机构为直线导轨机构或分度盘机构。优选地，所述检测机还包括用于增加被检测部件的加料机、用于输送被检测部件的送料机和用于回收被检测部件的收料机构，还包括用于显示检测结果的显示器。优选地，所述被检测部件为多个螺丝。本专利技术提供的一种适用于自动检测机的检测触发机构及具有其的自动检测机具有如下有益效果：1.通过本专利技术的检测触发机构，能够实现对被检测部件进行准确定位、对多个细小的检测部件尤其是多个螺丝实现一对一精确触发的作用和效果；2.本专利技术的检测触发机构既能用于分度盘机构的检测机上、还能用于直线导轨机构的检测机上。附图说明图1是本专利技术的检测触发机构的结构示意图；图2是本专利技术的自动检测机的结构示意图。图中附图标记表示为：1—光电开关，11—发射器，12—接收器，2—直线导轨机构，3—螺丝，4—控制器，5—拍摄装置，6—显示器，7—加料机，8—送料机，9—收料机构，10—光源。具体实施方式如图1所示，本专利技术提供一种适用于自动检测机的检测触发机构，其中所述检测触发机构为光电开关1的结构形式，且所述光电开关1包括用于发射信号的发射器11和用于接收所述发射器发射的信号的接收器12、以及与所述发射器11和所述接收器12均电连接的用于传递电信号的检测电路，其中，所述光电开关1为聚光型光电开关的结构形式。通过采用光电开关、并且采用聚光型光电开关为检测触发机构的结构形式，能够使得聚光精度可以达到0.1mm，能够实现对被检测部件的精确定位、实现对多个细小被检测部件尤其是多个小螺丝的一对一的精确触发。既能用于分度盘机构的检测机上、还能用于直线导轨机构的检测机上。优选地，所述光电开关1为对射式，所述发射器11和所述接收器12布置成使得从所述发射器11发出的光在无障碍物遮挡时能够被所述接收器12接收到、从所述发射器11发出的光经过障碍物遮挡后不能被所述接收器12接收到的结构形式。这是光电开关的优选结构形式和实施方式，能够实现发出光信号在有障碍物遮挡时接受不到光信号、无障碍物遮挡时接收得到光信号的目的和效果，从而实现利用光电开关对被检测部件(障碍物)进行光信号检测的目的。优选地，所述发射器11和所述接收器12间隔一定距离而设置，且所述发射器11的发射面与所述接收器12的接收面成相对地设置。这是对射式光电开关的优选结构和设置方式，将发射器和接收器间隔一定距离设置、且将发射面和接受面相对地设置，能够使得从发射器发射面发射出的光信号到达接收器的接受面，能够将被检测部件设置于发射器和接收器的中间，使得通过光电开关对被检测部件进行检测。优选地，所述光电开关1为反射式，所述发射器11和所述接收器12布置成使得从所述发射器11发出的光经过障碍物反射后能够被所述接收器12接收到、从所述发射器11发出的光在无障碍物遮挡时不能被所述接收器(12)接收到的结构形式。这是光电开关的优选结构形式和实施方式，能够实现发出光信号在有障碍物遮挡时能够反射并接收到光信号、无障碍物遮挡时接收不到光信号的目的和效果，从而实现利用光电开关对被检测部件(障碍物)进行光信号检测的目的。优选地，所述发射器11和所述接收器12为同一单个部件，且所述发射器11的发射面与所述接收器12的接收面位于同一面上。这是反射式光电开关的优选结构和设置方式，将发射器和接收器为同一单个部件的结构设置形式、且将发射面和接受面位于同一面上地设置，能够使得从发射器发射面发射出的光信号经过被检测部件反射后到达接收器的接受面，能够将被检测部件设置于发射器的发射面的发射方向的前端，使得通过光电开关对被检测部件进行检测。本专利技术还提供一种自动检测机，其包括前述的检测触发机构，通过所述检测触发机构输出触发信号对所述被检测部件进行检测。通过包括前述的检测触发机构、通过该检测触发机构输出触发信号对被检测部件进行检测的方式和手段，即采用光电开关、并且采用聚光型光电开关为检测触发机构的结构形式，能够使得聚光精度可以达到0.1mm，能够实现精本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种适用于自动检测机的检测触发机构，其特征在于：所述检测触发机构为光电开关(1)的结构形式，且所述光电开关(1)包括用于发射信号的发射器(11)和用于接收所述发射器(11)发射的信号的接收器(12)、以及与所述发射器(11)和所述接收器(12)均电连接的用于传递电信号的检测电路，其中，所述光电开关(1)为聚光型光电开关的结构形式。
【技术特征摘要】
1.一种适用于自动检测机的检测触发机构，其特征在于：所述检测触发机
构为光电开关(1)的结构形式，且所述光电开关(1)包括用于发射信号的发
射器(11)和用于接收所述发射器(11)发射的信号的接收器(12)、以及与
所述发射器(11)和所述接收器(12)均电连接的用于传递电信号的检测电路，
其中，所述光电开关(1)为聚光型光电开关的结构形式。
2.根据权利要求1所述的检测触发机构，其特征在于：所述光电开关(1)
为对射式，所述发射器(11)和所述接收器(12)布置成使得从所述发射器(11)
发出的光在无障碍物遮挡时能够被所述接收器(12)接收到、从所述发射器(11)
发出的光经过障碍物遮挡后不能被所述接收器(12)接收到的结构形式。
3.根据权利要求2所述的检测触发机构，其特征在于：所述发射器(11)
和所述接收器(12)间隔一定距离而设置，且所述发射器(11)的发射面与所
述接收器(12)的接收面成相对地设置。
4.根据权利要求1所述的检测触发机构，其特征在于：所述光电开关(1)
为反射式，所述发射器(11)和所述接收器(12)布置成使得从所述发射器(11)
发出的光经过障碍物反射后能够被所述接收器(12)接收到、从所述发射器(11)
...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈晓东，黄才笋，方祥建，余辉，董明景，苏琪婷，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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