识别并提取表示地质构造的一个或多个地质体中的地层制造技术

本发明专利技术公开通过对地质体执行地层分析来识别并提取表示地质构造的一个或多个地质体中的地层，以便无缝或无侵入地提取地层用于简单识别的系统和方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用在此要求于2013年8月16日提交的美国临时专利申请号61/866,927的优先权，并且所述专利申请的说明书以引用的方式并入本文。关于联邦政府赞助研究的声明不适用。公开领域本公开总体涉及用于识别并提取表示地质构造的一个或多个地质体中的地层的系统和方法。更具体地，本公开涉及通过对地质体执行地层分析来识别并提取表示地质构造的一个或多个地质体中的地层,以便无缝或无侵入地提取地层用于简单识别。专利技术背景区划是由框架对象(表层、断层、地壳、流体接触面)和/或框架界限所界定的框架中的动态自动检测的密封空间。区划为高度准确的体积计算提供视觉控制；它们提供厚度网格并且形象化复杂的地质构造。常规的区划技术以对密封空间(基于体积的建模)进行建模开始，但是并不提供功能性和可更新性的水平(如区划的地质分组)和相关的工具。另外，地质细胞模型工作流的框架是非常线性和静态的，并且大多数能力是地质细胞模型所固有的而不是框架所固有的。r>附图简述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于识别并提取表示地质构造的一个或多个地质体中的地层的方法，所述方法包括：a)加载多个地质体，其中每个地质体包括顶片、质心和体积；b)将表层标记分配给每个相应的地质体，其中每个表层标记被指定为空的；c)选择被分配给所述多个地质体中的具有是表层的顶片的一个的表层标记；d)将所选择的表层标记从空的转换成表示顶层标记的地质体的顶层；e)选择所述多个地质体中低于所述顶层标记的地质体的每一个；f)使用计算机处理器识别所选择的低于所述顶层标记的地质体的是所述顶层标记的地质体的延续的每个地质体；g)针对被分配给所述多个地质体中的具有是表层的顶片的一个的每个表层标记重复步骤c)‑f)；并且h)将来自所述多...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.08.16 US 61/866,9271.一种用于识别并提取表示地质构造的一个或多个地质体中的
地层的方法，所述方法包括：
a)加载多个地质体，其中每个地质体包括顶片、质心和体积；
b)将表层标记分配给每个相应的地质体，其中每个表层标记被
指定为空的；
c)选择被分配给所述多个地质体中的具有是表层的顶片的一个
的表层标记；
d)将所选择的表层标记从空的转换成表示顶层标记的地质体的
顶层；
e)选择所述多个地质体中低于所述顶层标记的地质体的每一个；
f)使用计算机处理器识别所选择的低于所述顶层标记的地质体
的是所述顶层标记的地质体的延续的每个地质体；
g)针对被分配给所述多个地质体中的具有是表层的顶片的一个
的每个表层标记重复步骤c)-f)；并且
h)将来自所述多个地质体的每个顶层标记的地质体以及被识别
为所述顶层标记的地质体的相应延续的每个地质体分成一组地质体。
2.如权利要求1所述的方法，其中在每组分开的地质体中的每
个地质体表示地层的至少一部分。
3.如权利要求1所述的方法，其中低于所述顶层标记的地质体
的是顶层标记的地质体的延续的每个地质体包括不是表层的顶片。
4.如权利要求2所述的方法，其中低于所述顶层标记的地质体
的是顶层标记的地质体的延续的每个地质体表示由所述顶层标记的
地质体所表示的所述地层的延续。
5.如权利要求1所述的方法，其中每组分开的地质体不包括内
部边界。
6.如权利要求1所述的方法，其中每组分开的地质体不包括非
密封边缘。
7.如权利要求1所述的方法，其还包括使用每组地质体来提取
一个或多个流体储层。
8.一种非暂时性程序载体设备，所述设备明确地携带用于识别
并提取表示地质构造的一个或多个地质体中的地层的计算机可执行
的指令，所述指令可执行来实现：
a)加载多个地质体，其中每个地质体包括顶片、质心和体积；
b)将表层标记分配给每个相应的地质体，其中每个表层标记被
指定为空的；
c)选择被分配给所述多个地质体中的具有是表层的顶片的一个
的表层标记；
d)将所选择的表层标记从空的转换成表示顶层标记的地质体的
顶层；
e)选择所述多个地质体中低于所述顶层标记的地质体的每一个；
f)识别所选择的低于所述顶层标记的地质体的是所述顶层标记
的地质体的延续的每个地质体；
g)针对被分配给所述多个地质体中的具有是表层的顶片的一个

\t的每个表层标记重复步骤c)-f)；并且
h)将来自所述多个地质体的每个顶层...

【专利技术属性】
技术研发人员：C·M·路纳伯格，M·D·尤因，
申请(专利权)人：界标制图有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US