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本发明公开通过对地质体执行地层分析来识别并提取表示地质构造的一个或多个地质体中的地层，以便无缝或无侵入地提取地层用于简单识别的系统和方法。...
该专利属于界标制图有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过界标制图有限公司授权不得商用。

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