【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及确定在至少两个天线(尤其是测向应用中)的测量信号中的系统误差。
技术介绍
当确定信号的来源的方向时,在理想的情况下,信号直接从信号源行进到确定来源的方向的测量装置。然而,该理想情况在实践中不能总得到满足。在实践中,导致系统误差的多路径传播和其它作用会发生。这负面地影响了确定来源的方向。在所确定的来源的方向中的显著误差可以由以上所描述的作用所造成。国际专利申请WO2014/135196A1已经示出了用于测向的有效的测量装置和有效的方法。然而,该测量装置和方法受到以上所提到的问题影响。
技术实现思路
因此,本专利技术的目的是提供一种用于检测测量信号中的系统误差的测量装置和测量方法。该目的是通过权利要求1的装置和权利要求15的方法的特征来解决的。此外,它通过权利要求16的相关的计算机程序的特征来解决。从属权利要求包含进一步的改进。本专利技术的测量装置包括处理单元、适于接收第一信号的第一天线和适于接收第二信号的第二天线。所述处理单元包括基线单元,所述基线单元适于确定第一变量和/或第二变量的基线方差。此外,所述处理单元包括方差单元,所述方差单元适于确定所述第一变量和/或所述第二变量的方差。所述第一变量和所述第二变量分别至少初始来源于至少所述第一信号和所述第二信号。所述处理单元还包括误差单元,所述误差单元适于基于所述第一变量和/或所述第二变量的所述基线方差和所述方差确定系统误差是否存在。由此可以确定,系统误差是否存在。尤其是在测向应用的情况下,由此可以确定所确定的方向是正确还是可能不正确。有利地,所述测量装置适于测量电磁信号。所述第一天线然后适于接收所述电 ...
【技术保护点】
一种测量装置,包括处理单元(32)、第一天线(21)和第二天线(22),所述第一天线(21)适于接收第一信号,所述第二天线(22)适于接收第二信号,其特征在于,所述处理单元(32)包括:‑基线单元(321),所述基线单元适于确定第一变量和/或第二变量的基线方差,‑方差单元(322),所述方差单元适于确定所述第一变量和/或所述第二变量的方差,其中所述第一变量和所述第二变量分别至少初始来源于至少所述第一信号和所述第二信号,以及‑误差单元(324),所述误差单元适于基于所述第一变量和/或所述第二变量的所述基线方差和所述方差确定系统误差是否存在。
【技术特征摘要】
2015.09.24 EP 15186670.41.一种测量装置,包括处理单元(32)、第一天线(21)和第二天线(22),所述第一天线(21)适于接收第一信号,所述第二天线(22)适于接收第二信号,其特征在于,所述处理单元(32)包括:-基线单元(321),所述基线单元适于确定第一变量和/或第二变量的基线方差,-方差单元(322),所述方差单元适于确定所述第一变量和/或所述第二变量的方差,其中所述第一变量和所述第二变量分别至少初始来源于至少所述第一信号和所述第二信号,以及-误差单元(324),所述误差单元适于基于所述第一变量和/或所述第二变量的所述基线方差和所述方差确定系统误差是否存在。2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述测量装置(1)适于测量电磁信号(4a),所述第一天线(21)适于接收所述电磁信号(4a)作为第一接收信号,所述第二天线(22)适于接收所述电磁信号(4a)作为第二接收信号,以及所述误差单元(324)适于确定系统误差是否存在于所述电磁信号(4a)内。3.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所述基线单元(321)适于在所述电磁信号(4a)不存在时,确定所述第一变量和/或所述第二变量的所述基线方差,以及所述方差单元(322)适于在所述电磁信号(4a)存在时,确定所述第一变量和/或所述第二变量的所述方差。4.根据权利要求2或3所述的测量装置,其特征在于,所述误差单元(324)适于:-通过所述第一变量的所述方差除以所述第一变量的所述基线方差和/或通过所述第二变量的所述方差除以所述第二变量的所述基线方差确定至少一个方差商,-将所述至少一个方差商与至少一个方差阈值相比较,-如果所述至少一个方差商大于所述至少一个方差阈值,则确定系统误差存在,以及-如果所述至少一个方差商小于所述至少一个方差阈值,则确定系统误差不存在。5.根据权利要求4所述的测量装置,其特征在于,所述处理单元(32)包括阈值单元(323),所述阈值单元适于基于下列项确定所述至少一个方差阈值:-所述第一信号的功率和/或所述第二信号的功率,和/或-多个同时接收到的信号,和/或-多个接收到的信号的来源的确定位置,和/或-计算资源的可用性,和/或-所述测量装置的周围环境的类型,和/或-所述测量装置的取向。6.根据权利要求2至5中任一项所述的测量装置,其特征在于,所述第一变量为所述第一信号的测量点的功率和所述第二信号的同时测量点的功率的比,和/或所述第二变量为所述第一信号的测量点和所述第二信号的同时测量点的相位差。7.根据权利要求6所述的测量装置,其特征在于,所述基线单元(321)适于:-将所述第一变量的所述基线方差确定为和/或-将所述第二变量的所述基线方差确定为其中,σsoll2(rmess,kl)为所述第一变量的所述基线方差,rmess,kl为所述第一变量,即所述第一信号和所述第二信号的接收功率比,k为指示所述第一信号的索引,l为指示所述第二信号的索引,Pnoise为噪声功率,Pmess,l,i为无噪声的电子信号的功率,i为考虑的所述第一信号和所述第二信号的多个值的索引,M为考虑的所述第一信号和所述第二信号的所述多个值的数目,为所述第二变量的所述基线方差,以及为所述第二变量,即所述第一信号的相位和所述第二信号的相位的相位差。8.根据权利要求6或7所述的测量装置,其特征在于,所述方差单元(322)适于:-如下确定所述第一变量的所述方差,Vmess,k,i=Imess,k,i+iQmess,k,iPmess,k,i=Imess,k,i2+Qmess,k,i2-Pnoise]]>σist2(rmess,kl)=(rmess,kl2+1)Σi=1M(Pmess,k,i-rmess,klPmess,l,i)2[(Σi=1MPmess,k,i)2+(Σi=1MPmess,l,i)2]]]>其中,和/或-如下确定所述第二变量的所述方差:Vmess,k,i=Imess,k,i+iQmess,k,iPmess,k,i=Imess,k,i2+Qmess,k,i2-Pnoise]]>其中,其中,Vmess,k,i为天线k的天线电压,Imess,...
【专利技术属性】
技术研发人员:昂德里克·巴尔特科,
申请(专利权)人:罗德施瓦兹两合股份有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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