一种用于薄膜热电参数测试新型样品台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于薄膜热电参数测试新型样品台，包括样品台支架、样品台和样品载玻片，样品台设置于样品台支架上，样品台包括上样品台和下样品台，样品载玻片放置于上样品台与下样品台之间，样品载玻片用于放置样品，样品台支架上设有加热棒，加热棒靠近样品载玻片的一端设置，上样品台和下样品台中均设有热电偶，热电偶采集样品两端的温度，通过采集到样品两端的温度，可以求得样品两端的温差和热电势。结构简单，且可有效提高样品测量数据的准确性和稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及热电参数测试
，具体涉及一种用于薄膜热电参数测试新型样品台。
技术介绍
热电材料在温差发电和电制冷领域有广泛的用途，热电参数测试仪用于对热电材料的塞贝克系数和电阻率进行测量，本文设计的薄膜热电参数测试仪上的样品台结构，具有对样品测量数据准确和稳定性好的特点。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是，针对现有技术存在的上述缺陷，提供了一种用于薄膜热电参数测试新型样品台，结构简单，且可有效提高样品测量数据的准确性和稳定性。本技术为解决上述技术问题所采用的技术方案是：一种用于薄膜热电参数测试新型样品台，包括样品台支架、样品台和样品载玻片，样品台设置于样品台支架上，样品台包括上样品台和下样品台，样品载玻片放置于上样品台与下样品台之间，样品载玻片用于放置样品，样品台支架上设有加热棒，加热棒靠近样品载玻片的一端设置，上样品台和下样品台中均设有热电偶，热电偶采集样品两端的温度。按上述方案，所述加热棒为陶瓷加热棒。按上述方案，加热棒嵌入式设置于样品台支架表面或内部。按上述方案，样品台上设有第一螺钉，通过第一螺钉将样品压紧固定于样品台的侧面。按上述方案，第一螺钉个数为4或6个，对称分布于上样品台和下样品台上，用于固定样品的两端。按上述方案，热电偶四周设有粉状石墨，粉状石墨填充于热电偶分别与上样品台和下样品台所形成的缝隙，在缝隙端面涂刷高温绝缘胶，使粉状石墨封存于缝隙内。按上述方案，上样品台和下样品台上分别设有电流引线。按上述方案，样品台的材料为紫铜或无氧铜。按上述方案，样品台表面做高精度抛光处理，使样品台与样品接触形成良好的欧姆接触。本技术具有以下有益效果：样品载玻片立式放置于上样品台与下样品台之间，样品载玻片用于支撑样品，便于薄膜形式的样品在样品载玻片上展开，使样品更容易与探针形成欧姆接触，更便于探针测试电压，通过加热棒使样品的两端产生温差，通过热电偶采集样品两端的温差和热电势，用于快速响应样品两端温度变化；本技术的结构简单，且可有效提高样品测量数据的准确性和稳定性。附图说明图1是本技术用于薄膜热电参数测试新型样品台的结构示意图；图2是图1的爆破图；图中，1-样品台支架，2-下样品台，3-上样品台，4-样品载玻片，5-样品，6-第二螺钉，7-陶瓷加热棒，8-热电偶，9-第一螺钉，10-电流引线，11-探针，12-第三螺钉。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术进行详细说明。参照图1～图2所示，本技术所述的用于薄膜热电参数测试新型样品台，包括样品台支架1、样品台和样品载玻片4，样品台设置于样品台支架1上，样品台包括上样品台3和下样品台2，样品载玻片4立式放置于上样品台3与下样品台2之间，样品载玻片4用于放置样品5，样品载玻片4用于支撑样品5，便于薄膜形式的样品5在样品载玻片4上展开，使样品5更容易与探针11形成欧姆接触，更便于探针11测试电压，样品台支架1上设有加热棒，加热棒靠近样品载玻片4的一端设置，使样品5的两端产生温差，上样品台3和下样品台2中均设有热电偶8，热电偶8采集样品5两端的温度，通过采集到样品两端的温度，可以求得样品两端的温度差和热电势，用于快速响应样品5两端温度变化。进一步地，所述加热棒为陶瓷加热棒7。进一步地，加热棒嵌入式设置于样品台支架1表面或内部。进一步地，样品台上设有第一螺钉9，通过第一螺钉9将样品压紧固定于样品台的侧面，使样品与样品台侧面紧密贴合，形成热传导面和欧姆接触面，便于传热和导电。进一步地，第一螺钉9个数为4或6个，对称分布于上样品台3和下样品台2上，用于固定样品的两端。进一步地，热电偶8四周设有粉状石墨，粉状石墨填充于热电偶8分别与上样品台3和下样品台2所形成的缝隙，便于温度快速响应传导，在缝隙端面涂刷高温绝缘胶，使粉状石墨封存于缝隙内。进一步地，上样品台3和下样品台2上分别设有电流引线10，通电后通过电流引线10使电流依次通过上样品台3、样品和下样品台2，再用探针11测量样品上的电压。进一步地，样品台通过第二螺钉6固定于样品台支架1上。进一步地，电流引线10通过第三螺钉12分别固定于上样品台3和下样品台2上。进一步地，样品台的材料为紫铜或无氧铜。进一步地，样品台表面做高精度抛光处理，使样品台与样品接触形成良好的欧姆接触。本技术的一个实施例中，本技术的工作原理：测量塞贝克系数时：陶瓷加热棒7发热并通过上样品台3侧面传递到样品5上，使样品5的两端产生温差；插入上样品台3和下样品台2中的热电偶8，用于测量样品两端的温差和热电势；测量电阻率时：电流依次通过电流引线10、上样品台3、样品5、下样品台2，探针11用于测量样品5上的电压；以上的仅为本技术的较佳实施例而已，当然不能以此来限定本技术之权利范围，因此依本技术申请专利范围所作的等效变化，仍属本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于薄膜热电参数测试新型样品台，其特征在于，包括样品台支架、样品台和样品载玻片，样品台设置于样品台支架上，样品台包括上样品台和下样品台，样品载玻片放置于上样品台与下样品台之间，样品载玻片用于放置样品，样品台支架上设有加热棒，加热棒靠近样品载玻片的一端设置，上样品台和下样品台中均设有热电偶，热电偶采集样品两端的温度。

【技术特征摘要】
1.一种用于薄膜热电参数测试新型样品台，其特征在于，包括样品台支架、样品台和样品载玻片，样品台设置于样品台支架上，样品台包括上样品台和下样品台，样品载玻片放置于上样品台与下样品台之间，样品载玻片用于放置样品，样品台支架上设有加热棒，加热棒靠近样品载玻片的一端设置，上样品台和下样品台中均设有热电偶，热电偶采集样品两端的温度。2.根据权利要求1所述的用于薄膜热电参数测试新型样品台，其特征在于，所述加热棒为陶瓷加热棒。3.根据权利要求1所述的用于薄膜热电参数测试新型样品台，其特征在于，加热棒嵌入式设置于样品台支架表面或内部。4.根据权利要求1所述的用于薄膜热电参数测试新型样品台，其特征在于，样品台上设有第一螺钉，通过第一螺钉将样品压紧固定于样品台的侧面。5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：缪向水，王愿兵，童浩，乔伟，张雨，林冲，蔡颖锐，
申请(专利权)人：武汉嘉仪通科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42