一种内存高温测试箱制造技术

本实用新型专利技术提供一种内存高温测试箱，其结构包括测试箱体、具有测试主板的测试平台及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器，测试主板具有电源电路和插入待测内存的插槽，插槽的电源引脚与电源电路连接。测试箱体被分割成至少两个测试空间，测试平台为抽屉式结构，测试平台配合插入或拔出测试箱体的测试空间，且在测试平台配合插入测试箱体的测试空间时，测试平台和测试空间围成密封的测试环境，当将内存插入测试主板的插槽且内存接收来自电源电路提供的电压时，内存升温；再通过KVM切换器连接测试平台和外部显示器，查看检测结果；整个检测过程能真实、快速的显示内存在温度升高过程中的参数变化，以避免内存实际使用中引发的故障，实用性强。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及机箱内部内存的测试，具体地说是一种内存高温测试箱。
技术介绍
机器在使用过程中容易产生大量的热量，并在机箱内部形成一个高温环境，内存在特殊环境中使用，会出现很多常温下不易发现的故障，这些故障都会暴露出整台机器的质量问题；针对内存的测试，往往是在常温下进行的，测试温度无法与机器运转时产生的温度对比，所以隐患很难被发现。
技术实现思路
本技术的技术任务是解决现有技术的不足，提供一种内存高温测试箱。本技术的技术方案是按以下方式实现的：一种内存高温测试箱，包括测试箱体、具有测试主板的测试平台、以及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器，所述测试主板具有电源电路和插入待测内存的插槽，插槽的电源引脚与电源电路连接以从电源电路接收电压。所述测试箱体被分割成至少两个互不连通的测试空间，所述测试平台为抽屉式结构，抽屉式结构的测试平台配合插入或拔出测试箱体的测试空间，且在测试平台配合插入测试箱体的测试空间时，测试平台和测试空间围成密封的测试环境。进一步的，所述测试平台完全插入测试空间时裸露在外的表面设置有把手，以方便抽拉测试平台。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内存高温测试箱，包括测试箱体、具有测试主板的测试平台、以及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器，所述测试主板具有电源电路和插入待测内存的插槽，插槽的电源引脚与电源电路连接以从电源电路接收电压，其特征在于，所述测试箱体被分割成至少两个互不连通的测试空间，所述测试平台为抽屉式结构，抽屉式结构的测试平台配合插入或拔出测试箱体的测试空间，且在测试平台配合插入测试箱体的测试空间时，测试平台和测试空间围成密封的测试环境。

【技术特征摘要】
1.一种内存高温测试箱，包括测试箱体、具有测试主板的测试平台、以及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器，所述测试主板具有电源电路和插入待测内存的插槽，插槽的电源引脚与电源电路连接以从电源电路接收电压，其特征在于，所述测试箱体被分割成至少两个互不连通的测试空间，所述测试平台为抽屉式结构，抽屉式结构的测试平台配合插入或拔出测试箱体的测试空间，且在测试平台配合插入测试箱体的测试空间时，测试平台和测试空间围成密封的测试环境。
2.根据权利要求1所述的一种内...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐亮一，邵刚，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37