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本实用新型提供一种内存高温测试箱，其结构包括测试箱体、具有测试主板的测试平台及连接测试平台和外部显示器的KVM切换器，测试主板具有电源电路和插入待测内存的插槽，插槽的电源引脚与电源电路连接。测试箱体被分割成至少两个测试空间，测试平台为抽屉式...
该专利属于浪潮电子信息产业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浪潮电子信息产业股份有限公司授权不得商用。

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