一种电容器薄膜膜厚检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种电容器薄膜膜厚检测装置，属于电容器检测装置技术领域，包括检测平台，所述检测平台上铺设有金属化薄膜，所述检测平台上位于金属化薄膜两侧分别设置有对称的激光发射装置和激光接收装置，所述检测平台一侧的激光发射装置向金属化薄膜发射激光后反射到激光接收装置上。该技术方案针对金属化薄膜表面光洁的特点，通过设置在金属化薄膜两侧的激光发射装置和激光接收装置对膜厚进行检测，当膜厚正常时，激光接收装置将在同一位置接收到稳定的激光信号；当膜厚异常时，则激光接收装置的接收位置将发生改变，并产生相应警报提示，并以此来判断电容器薄膜的质量，具有有益的技术效果和显著的实用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电容器薄膜膜厚检测装置，属于电容器检测装置

技术介绍
目前电容器在电力电子、通讯设施及轨道运输等领域应用广泛，随着科技水平的发展，电容器凭借其良好的电力性能和高可靠性，成为推动上述行业领域更新换代不可或缺的电子元件，其中薄膜电容器由于体积小、安全性高，极大的推动了电容器
的发展。现有技术中薄膜电容器的通用制法是将金属薄膜与聚乙酯、聚丙烯、聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜从两端重叠后，卷绕成圆筒状的金属化薄膜电极，然后放置到电容器外壳中，注入绝缘油和环氧树脂，再经过组装后得到薄膜电容器。其中，金属化薄膜在蒸镀过程中会出现镀层厚薄不均、飞溅点、蛇纹、氧化层等缺陷，该类缺陷薄膜在卷绕成薄膜电极后容易出现损耗过大，产品质量难以控制，严重时甚至引发电容器爆炸。其中，电容器厚度检测设备可以分为在线测厚设备和非在线测厚设备两大类。这两类测厚设备如果能够配合使用是最理想的，但是在线测厚设备检测设备较为复杂，并且采用非接触式检测，容易出现薄膜表面平整性不好而引起的数据波动较大的情况，而非在线测厚设备可以提供接触式测量方法，有效弥补了在线测厚的这一不足。但是在电容器薄膜领域，非在线测厚设备容易造成金属化薄膜镀层的损坏，因此以在线厚度检测为主。
技术实现思路
为此，本专利技术提供了一种电容器薄膜膜厚检测装置，具体技术方案如下：一种电容器薄膜膜厚检测装置，包括检测平台，所述检测平台上铺设有金属化薄膜，所述检测平台上位于金属化薄膜两侧分别设置有对称的激光发射装置和激光接收装置，所述检测平台一侧的激光发射装置向金属化薄膜发射激光后反射到激光接收装置上。作为上述技术方案的改进，所述检测平台内部为通风结构、且表面具有通风孔，所述检测平台底部设置有抽风装置，所述金属化薄膜沿检测平台滑动时吸附到检测平台表面。作为上述技术方案的改进，所述检测平台下方设置有支撑腿。作为上述技术方案的改进，所述检测平台上设置有多组激光发射装置和激光接收装置，各组中的激光发射装置发射到金属化薄膜上的检测点位置相异。作为上述技术方案的改进，所述检测平台后接有切膜装置，所述切膜装置包括龙门架，所述龙门架上悬挂有驱动机构，所述驱动机构下方设置有刀架，所述刀架下方固定有刀头。上述技术方案针对金属化薄膜表面光洁的特点，通过设置在金属化薄膜两侧的激光发射装置和激光接收装置对膜厚进行检测，当膜厚正常时，激光接收装置将在同一位置接收到稳定的激光信号；当膜厚异常时，则激光接收装置的接收位置将发生改变，并产生相应警报提示，并以此来判断电容器薄膜的质量，具有有益的技术效果和显著的实用价值。附图说明图1为本专利技术一种电容器薄膜膜厚检测装置的结构示意图；图2为本专利技术一种电容器薄膜膜厚检测装置在俯视角度的示意图；图3为本专利技术中金属化薄膜上的激光检测点的分布示意图。具体实施方式如图1、图2、图3所示，本专利技术提供了一种电容器薄膜膜厚检测装置，包括检测平台20，所述检测平台20上铺设有金属化薄膜10，所述检测平台20上位于金属化薄膜10两侧分别设置有对称的激光发射装置40和激光接收装置41，所述检测平台20一侧的激光发射装置40向金属化薄膜10发射激光后反射到激光接收装置41上。该技术方案针对金属化薄膜10表面光洁的特点，通过设置在金属化薄膜10两侧的激光发射装置40和激光接收装置41对膜厚进行检测，当膜厚正常时，激光接收装置41将在同一位置接收到稳定的激光信号，当膜厚异常时，则激光接收装置41的接收位置将发生改变，并产生相应警报提示，并以此来判断电容器薄膜的质量。进一步的，所述检测平台20内部为通风结构、且表面具有通风孔22，所述检测平台20底部设置有抽风装置30，所述金属化薄膜10沿检测平台20滑动时吸附到检测平台20表面，其中抽风装置30可以在检测平台20内形成微负压，当金属化薄膜10经过时使其贴紧检测平台20，对金属化薄膜10进行表面整理，从而避免金属化薄膜10因为褶皱的存在导致的激光接收装置41误报。更进一步的，所述检测平台20下方设置有支撑腿21，该支撑腿21的目的是对检测平台20以及沿检测平台20滑动的金属化薄膜10进行支撑。更进一步的，所述检测平台20上设置有多组激光发射装置40和激光接收装置41，各组中的激光发射装置40发射到金属化薄膜10上的检测点位置相异，该技术方案主要是对金属化薄膜10进行全面检测。更进一步的，所述检测平台20后接有切膜装置，所述切膜装置包括龙门架50，所述龙门架50上悬挂有驱动机构51，所述驱动机构51下方设置有刀架52，所述刀架52下方固定有刀头53。该优选方案通过增设裁切装置，在视检观察装置检查出缺陷，并人工标记后，及时将有缺陷的薄膜裁切掉，避免缺陷薄膜流入后道分切卷绕环节，提高产品合格率。以上对本专利技术的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本专利技术的较佳实施例，不能被认为用于限定本专利技术的实施范围，凡依本专利技术范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利技术涵盖范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容器薄膜膜厚检测装置，其特征在于，包括检测平台（20），所述检测平台（20）上铺设有金属化薄膜（10），所述检测平台（20）上位于金属化薄膜（10）两侧分别设置有对称的激光发射装置（40）和激光接收装置（41），所述检测平台（20）一侧的激光发射装置（40）向金属化薄膜（10）发射激光后反射到激光接收装置（41）上。

【技术特征摘要】
1.一种电容器薄膜膜厚检测装置，其特征在于，包括检测平台（20），所述检测平台（20）上铺设有金属化薄膜（10），所述检测平台（20）上位于金属化薄膜（10）两侧分别设置有对称的激光发射装置（40）和激光接收装置（41），所述检测平台（20）一侧的激光发射装置（40）向金属化薄膜（10）发射激光后反射到激光接收装置（41）上。2.如权利要求1所述的一种电容器薄膜膜厚检测装置，其特征在于，所述检测平台（20）内部为通风结构、且表面具有通风孔（22），所述检测平台（20）底部设置有抽风装置（30），所述金属化薄膜（10）沿检测平台（20）滑动时吸附到检测平台（20）表面。...

【专利技术属性】
技术研发人员：高文明，
申请(专利权)人：铜陵市铜创电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34