【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示
，更为具体的说，涉及一种测试设备的识别方法及识别系统。
技术介绍
显示屏(Panel)在绑定芯片(InternalCirculation,以下简称IC)及柔性的绝缘基材制成的印刷电路(FlexiblePrintedCircuit，FPC，以下简称FPC)后，要进行伽玛(gamma，以下统称为gamma)调试，并将得到的寄存器参数烧录(OneTimeProgrammable，OTP)到绑定的IC里。在进行gamma调试时，所用到的设备有：测试仪器、测试板、显示屏和光学设备。在调试前，需要先将光学设备及测试板连接到上位机，再进行gamma调试。但上位机测试仪器只能检测可用的端口，而无法辨别该端口所连接的设备是什么，需要操作人员再次进行判断，从而降低了工作效率。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种测试设备的识别方法及识别系统，用于辨别该端口测试仪的端口所连接的设备的类型。为实现上述目的，本专利技术提供的技术方案如下：<...
【技术保护点】
一种测试设备的识别方法，应用于测试系统识别第一测试设备和第二测试设备，且所述测试系统安装于测试仪器，所述第一测试设备和第二测试设备分别与所述测试仪器的不同串口相连，其特征在于，包括：S1、依次向所述测试仪器的每一串口发送识别所述第一测试设备的第一识别信号；S2、判断所述串口是否有第一反馈信号，若有，则确定有所述第一反馈信号的串口连接有所述第一测试设备；S3、依次向测试仪器的每一串口发送识别所述第二测试设备的第二识别信号；S4、判断所述串口是否有第二反馈信号，若有，则确定有所述第二反馈信号的串口连接有所述第二测试设备，其中，所述第一测试设备和第二测试设备的类型不同。
【技术特征摘要】
1.一种测试设备的识别方法，应用于测试系统识别第一测试设备和第二测试设备，且所述测试系统安装于测试仪器，所述第一测试设备和第二测试设备分别与所述测试仪器的不同串口相连，其特征在于，包括：
S1、依次向所述测试仪器的每一串口发送识别所述第一测试设备的第一识别信号；
S2、判断所述串口是否有第一反馈信号，若有，则确定有所述第一反馈信号的串口连接有所述第一测试设备；
S3、依次向测试仪器的每一串口发送识别所述第二测试设备的第二识别信号；
S4、判断所述串口是否有第二反馈信号，若有，则确定有所述第二反馈信号的串口连接有所述第二测试设备，其中，所述第一测试设备和第二测试设备的类型不同。
2.根据权利要求1所述的测试设备的识别方法，其特征在于，所述第一测试设备为光学设备，且第二测试设备为测试板；
或者，所述第一测试设备为测试板，所述第二测试设备为光学设备。
3.根据权利要求2所述的测试设备的识别方法，其特征在于，在步骤S4后，且当识别所述测试仪器连接有多个光学设备，以及连接有同样数量的多个测试板时，还包括：
S5’、对所述光学设备和测试板进行配对。
4.根据权利要求3所述的测试设备的识别方法，其特征在于，所述步骤S5’包括：
S10、对所述多个光学设备与多个测试板随机配对为配对关系；
S20、控制所述多个测试板使与其对应连接的显示面板分别显示不同的第一光学识别参数；
S30、控制所述光学设备对其当前位置相应的显示面板的第一光学识别参数进行采集；
S40、判断所述光学设备采集的第一光学识别参数，是否与所述配对关系中对应的测试板连接的显示面板所显示的第一光学识别参数相符，若否，则根据所述光学设备采集的第一光学识别参数和所述测试板控制相应显示面板显示的第一光学识别参数，调整所述光学设备或测试板的位置，以使所述多个光学设备与多个测试板满足所述配对关系。
5.根据权利要求4所述的测试设备的识别方法，其特征在于，在所述步骤S40后还包括：
S50、控制所述多个测试板使与其对应连接的显示面板分别显示不同的第二光学识别参数；
S60、控制所述光学设备对其当前位置相应的显示面板的第二光学识别参数进行采集；
S70、判断所述光学设备采集的第二光学识别参数，是否与所述配对关系中对应的测试板连接的显示面板所显示的第二光学识别参数相符，若是，则所述多个光学设备与多个测试板满足所述配对关系，若否，则返回所述步骤S10，直至连续预设次数判断所述多个光学设备与多个测试板均满足所述配对关系为止。
6...
【专利技术属性】
技术研发人员：严宇，杨康鹏，许育民，
申请(专利权)人：厦门天马微电子有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35
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